首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 46 毫秒
1.
金属化膜脉冲电容器可靠性研究   总被引:1,自引:1,他引:1       下载免费PDF全文
赵建印  彭宝华  孙权  周经伦   《电子器件》2005,28(4):703-705,709
高储能密度金属化膜脉冲电容器是一种高可靠性、长寿命的器件,在短时间内很难得到它的失效数据,因此无法采用基于失效数据分析的传统可靠性分析方法来研究其可靠性。金属化膜脉冲电容器的失效是退化型失效,根据其失效机理,给出了电容器容值退化失效模型,依据该模型和电容器的容值退化数据,对该型电容器进行了可靠性研究,该型电容器的平均寿命为21165次充放电,其第10000次充放电时的可靠度为0.9454。在工程实践中使用该模型对该型电容器进行可靠性分析可以节约大量的试验成本。  相似文献   

2.
刘芳  赵建印  彭绍雄 《电子器件》2011,34(2):137-140
金属化膜脉冲电容器既有突发型失效又有退化型失效.通过分析金属化膜脉冲电容器的退化失效机理,在假设突发失效与退化失效相关的条件下,给出了基于参数回归分析的电容器竞争失效的一般模型,最后利用该模型对某金属化膜脉冲电容器的试验数据进行可靠性分析.根据评估结论,该电容器打靶10 000发的可靠度为0.798 6.该模型为竞争失...  相似文献   

3.
金属化膜脉冲电容器剩余寿命预测方法研究   总被引:2,自引:0,他引:2       下载免费PDF全文
彭宝华  周经伦  冯静  刘学敏 《电子学报》2011,39(11):2674-2679
 金属化膜脉冲电容器是惯性约束聚变激光装置的重要元器件之一,其寿命预测是激光装置维护和备件决策制定的依据.在分析金属化膜脉冲电容器退化失效机理的基础上,采用Wiener过程描述其性能退化过程.进一步考虑到各电容器之间的差异,将Wiener过程的漂移参数和扩散参数看成随机变量,提出了随机效果Wiener过程模型,由同一批电容器的历史性能退化数据拟合其分布.在对单个电容器进行寿命预测时,采用Bayes方法融合电容器总体信息与该电容器自身的性能退化信息,得到其剩余寿命参数的验后估计,因而在电容器性能退化数据较少时采用该方法能提高剩余寿命预测精度.  相似文献   

4.
基于性能退化数据的金属化膜电容器可靠性评估   总被引:2,自引:1,他引:2       下载免费PDF全文
赵建印  刘芳  孙权  周经伦 《电子学报》2005,33(2):378-381
在对激光惯性约束聚变试验装置所用金属化膜脉冲电容器进行可靠性分析时,利用假设其寿命分布为Weibull分布的传统可靠性分析方法所得结果不能满足工程要求.作者通过分析电容的退化机理,给出了一个该型电容器的寿命分布模型,模型的求解是利用电容器的退化数据进行的,它具有比Weibull分布模型更为精确的特点,在工程实践中使用该模型对该型电容器进行可靠性分析可以大量的节约试验成本且结果精度更高.  相似文献   

5.
袁超 《电子世界》2013,(24):131-131,F0003
采用新型耐高温金属化聚丙烯膜材料作为介质和电极,采用高温绝缘环氧树脂灌封料进行封装,采用加严的制作工艺,设计出耐高温(上限类别温度为125℃)的金属化聚丙烯膜介质交流脉冲电容器,扩展了聚丙烯膜电容器的应用范围。  相似文献   

6.
金属化聚丙烯电容器在脉冲电路中的应用   总被引:1,自引:0,他引:1  
金属化聚丙烯电容器采用无感式卷绕,电感量比一般式卷绕箔式电容器小得多,在接入电路的瞬间,将受到比同规格箔式电容器更大的电流冲击。而金属化电容器极板为蒸镀的金属层,其厚度约为铝箔的1%,端部以喷金颗粒在压力下与极板接触,此接触电阻较大,在大电流冲击下极易受到损伤而使电容器失效。因此,金属化聚丙烯电容器,一直被认为不适宜用于有频繁大电流冲击,特别是大功率的场合,如脉冲电路中。对可能出现大冲击电流情况的电容器,为保证电容器正常运行,在标准中还对出现大电流冲击的峰值、次数有严格规定。例如GB12747《低压自愈式并联电容器…  相似文献   

7.
高儒昌 《电子质量》1999,(10):21-22
三、新一代金属化安全膜防爆电容器的寿命 近年来国内不少电容器生产厂家生产了金属化安全膜防爆电容器,由于个别厂家因材料质量问题或工艺缺陷使产品存在一定的质量问题。大家担心它的寿命是否要比一般普通金属化膜电容器要短些?实际不然,只要设计合理正确、材料合格、工艺正确同样能生产出高可靠、长寿命的电容器来。 我公司生产的CBB65D型金属化安全膜防爆电容器被多家公司作了认定试验,并大量上机使用。从认定报告中的耐久性试验结果看,新一代金属化安全膜防爆电容器在上限温度及1.25Vn电压下电容量随时间的变化是十分缓慢的,变化量都小于CB3667-1997的指标。  相似文献   

8.
金属化有机薄膜电容,电性能优良,且有良好的自愈性,与其它类型电容器相比较其可靠性较高,被广泛地用于对可靠性要求较高的电子设备中.因金属化有机薄膜在电容器连续发生自愈击穿的过程中,在电弧高温作用下,自愈点周围的有机薄膜局部软化,使电性能急剧下降,甚至使多层介  相似文献   

9.
在连续工作过程中,由于温度过高会影响金属化膜电容器的稳定性和安全性,有必要对其稳态进行热分析。通过有限元分析法和试验验证研究了一种脉冲用金属化膜电容器的稳态温度分布情况。分析了电容器内部热传导的过程,计算了电容器热传导载荷和散热边界条件,建立了电容器有限元仿真模型,对其施加热载荷情况下计算了内部温度分布情况,通过试验验证了仿真模型的正确性。并进一步分析了芯子卷绕参数和电容器工作周期对电容器内部温度分布的影响。结果显示:通过稳态热分析可以对电容器性能进行前置评估,对电容器优化设计有一定指导作用。  相似文献   

10.
本文简明的叙述了金属化电容器残留在与生产气隙的原因,气体放电机理与危害以及填充式卷绕机对提高产品质量的功效。  相似文献   

11.
分析铝电解电容器基本性能与铝阳极氧化膜的关系[1],同时简要分析铝箔的杂质、腐蚀孔形状、表面Cl-,氧化膜的缺陷与稳定性的影响。从而得出不同形成液、形成程序、复合形成及老练等的影响规律。  相似文献   

12.
改善 CA30型非固体钽电解电容器结构的密封性、介质氧化膜的质量及工作电解液温度特性是提高产品质量的稳定性、可靠性及使用寿命的三个关键因素。将半密封结构改为全密封结构 ,产品质量可显著提高。  相似文献   

13.
电容器贮存电荷能力与可靠性   总被引:1,自引:2,他引:1  
试图探讨铝电解电容器贮存电荷的能力与电容器可靠性之间的关系。用自放电电压的高低来判定电容器的质量。用铝电解电容器常规的三参数(电容量、漏电流、损耗角正切值)检验电容器的可靠性有一定的局限性,而电容器贮存电荷的能力却与电容器的可靠性之间更有直接的关系,实验证明:在其他条件一定的情况下,电容器自放电电压越高,电容器的可靠性越高。  相似文献   

14.
设计了厚膜电阻的高温贮存试验,以评估厚膜电阻的可靠性。基于阻值的退化数据,采用线性退化模型描述厚膜电阻的退化过程,结果表明,厚膜电阻伪寿命分布满足对数正态分布规律。结合Arrhenius模型推算得出,厚膜电阻在室温下的寿命约为17.8年。分析了厚膜电阻的失效机理,完成了厚膜电阻在温度应力下的可靠性评估。  相似文献   

15.
局部放电现象会给金属化有机薄膜电容器的金属化层、介质及喷金端面产生不良影响,影响电容器寿命。采用SF6气体浸渍材料和特殊工艺制成的GMKP电容器避免了局部放电影响。  相似文献   

16.
概述了旨在获得高性能和可靠的嵌入电容元件的最佳环氧-钛酸钡(BaTiO3)纳米复合物。为了在高填充量下改善聚合物-陶瓷纳米复合物的可靠性,采用仲橡胶处理的环氧进行环氧基体的改性,在连续的原环氧相(海洋)中形成隔离的柔性区域(岛屿)。系统地评估了海洋-岛屿结构对嵌入电容元件的热机械性质,附着性和热应力可靠性的影响。最佳的橡胶处理的纳米复合物组成具有50以上的高介质常数,成功地通过了严格的热应力可靠性试验。大面积的薄膜电容器测得89MV/m的高击穿电压和约为1.9×10^-11A/cm^2的低漏电流。  相似文献   

17.
采用聚酯-聚丙烯膜、铝箔电极、有感式卷绕结构,研制CH11型聚酯-聚丙烯膜复合介质电容器。有关试验结果表明,该电容器的性能达到GB11308标准要求。三年来,产品质量稳定,用户试用反映良好。  相似文献   

18.
对三种高压阳极化成铝箔进行了SEM的形貌和EDS组分分析,用三种铝箔分别制成400 V,6 800 霧电容器并进行了耐久性试验对比,对电容器性能和阳极化成铝箔氧化膜形貌之间的关系进行了探讨。结果表明:隧道腐蚀铝箔的氧化膜残存的杂质离子多,容易击穿;氧化膜表面过多的羟基对电容器的漏电流影响很大。  相似文献   

19.
通过分析铁电薄膜微观结构及铁电畴在外电场作用下极化反转机理,将铁电畴等效为一群具有相互独立矫顽场的铁电偶极子.采用几何方法,解释了这些偶极子在不规则电压波形驱动下极化反转的规律.在此基础上,引入铁电电容的极化反转函数来表征铁电电容宏观极化强度随外电场变化的数学表达式.该函数的引入不仅简化了模型的计算量,还成功避免了同类模型中数值微分和数值积分所带来的误差,大大提高了模型精确性.  相似文献   

20.
王倩男 《电子器件》2021,44(1):14-18
产品在加工时总会有不可控的因素影响产品质量的稳定性,为解决这一问题,本文从可靠性分布函数的角度提出了提高电阻质量的方法。本文通过对金属膜电阻进行步进应力加速寿命试验以及电阻失效前后概率分布试验,得到了失效前后的阻值概率分布函数及正常应力下的概率分布函数与可靠性指标。实验结果表明,电阻阻值失效前后分布都属于威布尔分布。同时,给出了电阻损伤7.2%~15.6%,且失效模型为持续施加电压下不可逆的积累损伤模型时的分布函数,并获得了合格电阻与冒烟损坏电阻概率分布曲线的明显区别,从而,有可能从概率分布角度定义电阻的质量特性。  相似文献   

设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号