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从传统CRT、PDP、PRojector、TFT LCD到新兴的OLED,已渐雄踞媒体版面,似乎也宣告着平面显示器产业的春燕正来访;然而在相关业者尽力符合普罗大众对感官享受期待的同时,也无可避免地必须兼顾数据处理和功耗等效能,以及它的轻便性问题。放眼这段日子以来的FPD发展演变,所谓“春江水暖鸭先知”,平面显示器的第一主角——面板,即率先反映了消费者效用曲线不断升高、对质量要求日益挑剔的事实;继FPD在黄金切割比例及大尺寸上不断寻求突破之后,聚焦于可携式产品领域的中小尺寸,亦随之风起云涌。 相似文献
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《电子与电脑》2011,(11):9-10
根据集邦科技(TrendForce)旗下研究部门DRAMeXchange的调查.受惠于智能型手机、平板计算机强劲出货力道.同时超薄笔电(ultrabook)的兴起与云计算所带动服务器的增长.也加速固态硬盘(Solid-State—Drive)渗透率的提升.而明年英特尔可望在新运计算处理器平台IvyBridge中直接将USB3.0规格内建其中.也将带起另一波USB3.0随身碟的更换需求.整体NANDFlash产业将持续保持高度增长。因此.集邦科技认为2012年整体NANDFIash市场产值将较2011年增长20%,由220亿拉升至260亿美金。 相似文献
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芯片上电后是如何启动实现应用功能的?这是许多工程师在看到处理器运行的时候,通常都会问的一个问题。下面我们就以德州仪器的多媒体处理芯片TMS320DM368为例,介绍它的NANDFlash启动原理以及实现。 相似文献
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U-Boot从NAND Flash启动的实现 总被引:3,自引:0,他引:3
U-Boot不能从NAND Flash启动给应用带来些不便,因此修改U-Boot使其支持从NAND Flash启动.分析了U-Boot启动流程的两个阶段及实现从NAND Flash启动的原理和思路,并根据NAND Flash的物理结构和存储特点,增加U-Boot对NAND Flash的操作支持,从而完成把存储在NAND Flash上的U-Boot代码复制到SDRAM中执行,实现从NAND Flash的启动.修改过后的U-Boot可以直接从NAND Flash启动,给应用带来便利. 相似文献
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基于FPGA的NAND Flash ECC校验 总被引:1,自引:0,他引:1
基于Flash存储器的Hamming编码原理,在A1tera Quartus Ⅱ 7.0开发环境下,实现ECC校验功能.测试结果表明,该程序可实现每256 Byte数据生成3 Byte的ECC校验数据,能够检测出1 bit错误和2 bit错误,对于1bit错误还能找出其出错位置并予以纠正,可应用于NAND Flash读... 相似文献
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介绍了如何从未知参数NAND Flash芯片中,获得相应参数的一种通用方法,从而打破了这个界限,使得没有获得NAND Flash的datasheet的情况下仍然可以使用. 相似文献
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随着NAND Flash在存储器市场中的占比与日俱增,对NAND Flash的测试需求也越来越大。针对NAND Flash存储器中存在的故障类型进行讨论,并对现有测试算法进行分析,为提高故障覆盖率以及降低测试时间,对现有的March-like测试算法做出改进,改进算法比March-like算法的故障覆盖率提高了16.7%,测试时间减少了30%。完成存储器内建自测试(MBIST)电路设计,设计了FPGA最小系统板并进行板级验证,结果验证了MBIST电路以及改进的测试算法的可行性。 相似文献
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为了测定NAND Flash 图像记录系统的稳定性以及峰值记录速度指标,减少人工测试量,设计了压力测试系统。针对稳定性测试问题,设计了基于指数回归的速度压力模型和基于对数正态分布的测试时长控制模型;针对峰值记录速度测定问题,提出了基于爬山搜索算法和速率二分法的软硬件协同测试方法。基于有效数据占空比机制设计速率软件可调的硬件数据产生器,用爬山算法粗略确定峰值记录速度区间,再用速率二分法逼近峰值记录速度;系统测试报告通过串口和千兆网输出至上位机显示。实验结果表明:测试系统速度压力调整精度可达0.1MB/s;速度压力范围为0~1 600MB/s;回读数据硬件检验无时钟延迟;被测NAND Flash 记录系统挂载8 片SLC NAND Flash 芯片的峰值记录速度为240.12MB/s,在200MB/s 速度压力下,可以连续工作24 h 以上。测试系统架构为通用化设计,可以对其他传输和记录系统进行压力测试。 相似文献
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一种NAND Flash控制器验证平台的设计 总被引:1,自引:0,他引:1
讨论了验证平台的设计理论、功能以及结构几方面问题,并使用硬件描述语言搭建了自检查的NAND Flash控制器验证平台,在此基础上对控制器进行了全面的功能验证过程。仿真结果验证了该方法的正确性,此方法提高了验证效率、缩短了芯片的研发周期。 相似文献
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根据NAND Flash硬件设备的工作原理和过程,利用线性时态逻辑建模语言描述该硬件设备读写状态的性质,分析了NAND Flash软件仿真模块的设计与实现,并通过移植u-boot及ARM Linux内核到仿真器中,验证上述性质是否满足,以保证软件仿真模块设计的正确性. 相似文献