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相似文献
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世界各国的实验室和研究中心每天都在对激光二极管技术进行革新。由于其市场发展迅速 ,越来越多的公司加入到激光二极管的生产行列。其中大多数公司不仅有自己的研发中心 ,同时与其他进行激光二极管研发工作的小组保持战略联系。然而一套制作精良、能够精确测试激光二极管的测量系统非常必要 ,它应用于研究开发、原型制造、批量生产和产品质量控制各个阶段。测试激光二极管需要给装置注入电流 ,然后测量发光特性。其中通常感兴趣的原始参数有光绝对功率、光束的空间和光谱特性。激光二极管不能用传统的电源来驱动。由于偏置电压的轻微漂移 ,…  相似文献   

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激光二极管寿命测试方法研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
文中介绍了半导体激光二极管(LD) 寿命测试的理论依据,给出了寿命测试的数学模 型,并据此设计了LD 高温加速寿命自动测试系统。系统通过采集恒流工作LD 的平均输出光功率随时间变化的信息,绘制LD 的老化曲线,即恒流条件下的P - t 曲线,或通过采集恒功工作LD 的工作电流随时间变化的信息,即恒功条件下的I - t 曲线,然后推断LD 正常条件下的使用寿命。  相似文献   

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晓峰 《电子质量》2003,(5):38-38
吉时利仪器公司(纽约股票代码:KEI)正式发布了改进的光强-电流-电压(LIV)测试系统。该系统是面向激光二极管及组装后的激光二极管组件(LDM)的LIV测试系统-吉时利的S25系统,包括了已被业界普遍接受和看好的独立的LIV测试仪器,以及特有的一些附件及连接电缆,组合成一个系统而不是一些散件。与一般的“多合一”系统不同,S25系统可以只选择用  相似文献   

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在激光二极管阵列泵浦高可靠固体激光器的研制和应用中,激光二极管阵列的寿命至关重要.通过搭建不完全匹配吸收固体激光寿命实时监测系统,实现了800 nm激光二极管阵列的寿命测试.实验对固体激光系统输出能量的下降率、激光二极管阵列损毁程度以及激光二极管阵列的功率下降率进行比较分析,同时对比讨论了同批次阵列在常规测试条件下的寿...  相似文献   

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概要介绍DC/DC电源模块测试系统的测试软件和测试夹具,详细说明老化系统的开发和设计,分析DC/DC电源模块及老化系统在航天系统中的应用。  相似文献   

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新型OLED测试系统的设计与实现   总被引:1,自引:0,他引:1  
为了满足OLED准确批量测试及降低系统成本的需要,根据表征OLED器件性能指标的特点,设计并建立了一套可测试OLED电流密度-电压-亮度以及器件衰减曲线的测试系统.该系统在计算机程控测控稳压电源的控制下,可同时对多路OLED进行测试并实现了OLED屏的加速老化的测试,采用光敏二极管传感器代替了通常使用的辉度计,降低了系统的成本.系统最终输出数据结果由计算机记录,提高了数据采样的准确性,对OLED制作的材料和工艺的评测提供了精确的参考数据.  相似文献   

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《光机电信息》2001,(4):42-43
由于市场需求数百毫瓦功率的具有与红外激光二极管相同寿命和高亮度特性的可见红激光二极管,日本相干公司研制了一种高  相似文献   

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Mindready Solutions公司研发了低成本台式大功率激光器寿命测试和老化实验系统。据该公司报道,这个系统为小批量生产和研究提供了半抽入(2个模块)、自包含的单元。基于像全部大功率单元一样的模块,用户可以在初期的测试中以一个小规模的老化或者寿命测试开始,然后再开启全部系统,并不需要重置模块。Mindready现已研制出了用于测试激光器列阵老化和寿命实验的第2代产品。  相似文献   

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LD参数连续测试系统研究   总被引:4,自引:0,他引:4  
本文介绍了一种新型半导体激光二极管(LD)参数连续测试系统,它采用了高精度的数据采集技术、超强的数据处理技术及精密机械定位技术,可对LD的P-I和V-I曲线及相关参数进行连续测试、显示、存储、管理和打印,测量速度快,测量精度高,操作方便。  相似文献   

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《今日电子》2005,(3):140-140
随着无线通信市场增长及移动网络运营商之间竞争加剧,网络运营商必须能够监测和管理复杂的3G网络设施为用户提供的新型服务的质量,因此,网络工程师需要能够自动发现问题的强大灵活的工具。为此,泰克新推出了LTS21负荷测试系统和针对3G的网络服务分析软件。  相似文献   

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该文详细介绍了ITECH电子负载和老化软件对于电源产品在长时间通电老化试验中的应用,主要结合本系统中的硬件产品和主要的实现监控界面,实现多个电源产品的老化的同时性和自动化性,可以最大程度地发挥电子负载在老化系统中的作用,可以得到准确的监控数据,可最大程度地节约人力成本。该系统已经应用到实际的老化试验中,并在电源等产品的老化中推广和应用。  相似文献   

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ACS测试系统     
吉时利宣布增强了其ACS(自动特征分析套件)软件,纳入了面向半导体可靠性与寿命预测测试应用的WLR(圆片级可靠性)备选测试工具。4.0版以ACS软件已有的单点和多点并行测试功能为基础,增加了对数据库的支持,以及最新的RTM(可靠性测试模块)工具和备选license以及ACS数据分析功能。新增可靠性测试与数据分析工具使得基于ACS测试系统进行寿命预测速度比传统WLR测试方案快5倍。  相似文献   

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龚翔 《今日电子》2001,(5):37-38
在现今科技创新迅速的时代,如何能使科技产品于短时间抢占市场,并为市场所肯定,所需要的除了迎合市场需求的功能外,更重要的是有高信赖度的品质;同时市场的迅速变化也严重压缩了研发时间,如何短时间内利用有效的设计验证方法,使设计与制造上所隐含的缺点能够在交达客户手中之前,将其发展并改善,已是各产品的成败关键,也是HALT&HASS被接受的原因。  相似文献   

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