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《现代表面贴装资讯》2008,(1):67-67
2008年1月24日,牛津仪器公司在上海南新雅华美达大酒店召开亚洲区新产品发布会,进行X-Strata 980全球首站发布。这款最新研发的产品X—Strata980运用X荧光原理实现痕量元素分析及镀层厚度测量,结合大功率x射线光管和高分辨率探测器,检测下限达到PPM精度,并具有超强的分析模型。牛津仪器新产品研发中心总监Dr.Andy E11is表示, 相似文献
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牛津仪器非常荣幸地推出新款X-Strata920X射线荧光(XRF)镀层测厚和材料分析仪。该X-Strata920结合了大面积正比计数探测器和牛津仪器微聚焦X射线光管,使X射线光束强度大、斑点小,样品激发更佳,榍保同级别中精确性最好,分析结果只需要几秒钟,从而获得更有效的过程控制和性价比。 相似文献
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为了满足电子工业对于无铅化的迫切要求,印制线路板(PWB)的最后表面处理工艺正逐渐由热风整平(SnPb)转移到其他适合无铅焊接的表面处理工艺,这类工艺包括有机保护膜(OSP)、沉银、沉锡以及化学沉镍金。其中因为OSP膜的可焊性优异、工艺简单且操作成本低而成为无铅化表面处理工艺的最佳选择之一。最新研发的耐高温有机保护膜(HTOSP)是符合工业标准的新一代OSPI艺,它能够满足无铅化对可焊性更严格的要求。
本文将介绍HTOSP的化学特性,包括膜层成分分析,主要唑类衍生物和OSP膜的热分析,以及OSP膜的表面分析。气相色谱一质谱分析法(GC/MS)可以测定交链反应中夹带在OSP膜中的小分子有机化合物。热重量分析法/差动扫描测热法(TGA/DSC)用于测试唑类衍生物和OSP膜的热稳定性。光电子能谱分析法(XPS)用于分析HTOSP膜经过多次无铅回流后的表面的氧化情况。
本文也将从实际的生产经验出发,介绍OSP膜厚控制的稳定性。HTOSPI艺提供了稳定而灵活的膜厚控制方法。厚度分析显示OSP膜在膜形成的过程中具有微整平效果,而且所形成的膜厚度能够完全保护在工业生产中经过不同微蚀处理的各种板材的铜面不被氧化。HTOSP膜的耐高温性及稳定的膜厚控制确保TPWB在无铅焊接时具有优异的可靠性。 相似文献
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《现代表面贴装资讯》2008,(4)
牛津仪器宣布推出一款坚固的手持式X射线荧光光谱仪(XRF)-X—MET5000,该仪器能够对在电子电气设备中限制使用的有害物质进行高精度、高可靠性的鉴定。牛津仪器的手持式X射线荧光光谱仪誉满全球,X—MET5000是其第四代产品。这款拥有牛津仪器PentaFET专利探测器技术的仪器,保证了用户对所有感兴趣的元素均得到快速分析, 相似文献
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为了弥补目前采用的各种镀层厚度测量方法之不足,本文提出利用镀层元素一次X光激发的基底金属二次荧光进行膜厚测量的设想,并推导出相应的计算公式。在扫描电镜—X射线能谱仪及电子探针仪上对不同镀膜厚度样品的镀层及基底元素的荧光强度进行测量并按上述公式计算出镀膜厚度,其数值与扫描电镜截面法直接测量的结果吻合,证明这种方法是适用的。与电镜下直接测量膜厚的方法相比,二次荧光法不破坏样品的完好性,而且可以同时对镀层的表面质量进行观察和分析。 相似文献
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随着欧盟RoHS最后期限的临近,很多公司都开始采用无铅化工艺,但要确保工艺的一致性,有效的检测方法是必不可缺的,荧光光谱分析法(XRF)就是其中之一。许多晶圆制造厂已开始用XRF法在薄镀层上进行光危害性成分测量,而且还用它探测扩散阻挡层裂口。 相似文献
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世界领先的分析仪器研发和制造公司热电公司近日从台湾富士康公司喜获大单,为其华南检测实验室提供23台ARLQUANT’X荧光能谱仪,用来快速分析电子产品中的塑料和合金是否含有RoHS指令规定的有害元素,以限制有害物质在电子产品中的应用。ARLQUANT’X荧光能谱仪是市场上性价比最高的能量色散X荧光能谱仪(EDXRF),可以实现RoHS和WEEE法规所需的无可比拟的检测灵敏度和必不可缺的自由度,国内很多省市如浙江、南京、山东、河南等地的技术监督局都已经采用该仪器进行RoHS检测, 相似文献
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《大气与环境光学学报》1997,(6)
1997年7月份在美国Sendco/West公司将首次出现一种非接触无损测量技术,它可以同时测量多层金属膜中每一层的厚度.皮秒超声激光声纳(PULSE)技术最初是由Brown大学的Mans、Tauc和同事们研究成功的.RudolPhTechnologies公司将推出利用这项技术的商用仪器.这是一项革命性的技术,没有其它方法能够对3到5层的金属膜堆进行测量,这些膜堆是用来将半导体芯片中的晶体管进行相互连接的.利用该技术一次可以测量8层或9层膜的厚度.不过该项技术的真正优点是,它能够以无损方式‘看见’光学不透明材料,并且可以定量测量连接层间的粘着度… 相似文献
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《电子工业专用设备》2006,35(7):41-41
中国上海2006年6月29目讯:世界领先的分析仪器研发和制造公司热电公司近日从中国台湾富士康公司喜获大单,为其华南检测实验室提供23台ARL QUANT’X荧光能谱仪,用来快速分析电子产品中的塑料和合金是否含有RoHS指令规定的有害元素,以限制有害物质在电子产品中的应用。ARL QUANT’X荧光能谱仪是市场上性价比最高的能量色散X荧光能谱仪(EDXRF),可以实现RoHS和WEEE法规所需的无可比拟的检测灵敏度和必不可少的自由度,国内很多省市如浙江、南京、山东、河南等地的技术监督局都已经采用该仪器进行RoHS检测。 相似文献
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《现代表面贴装资讯》2007,6(1):30-30
牛津仪器发布了新型号的X-Met 3000TXR+,它是一款快速、轻便的手持式XRF光谱仪。使用X-Met可以进行ROHS筛选性分析,它具有强大的测量时间开关控制功能,能够快速地定量分析数据结果,并自动判别管制标准,以不同色彩加以识别,减少了人为误判,为客户提供最佳的测量工具。手持式XRF分析仪是专门针对欧盟ROHS指令中有害元素一镉(Cd), 相似文献
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非接触测量在轮对参数检测技术的应用 总被引:2,自引:0,他引:2
轮对作为铁路车辆重要的走行部件,对于铁路的安全运输起着关键性的作用。因此准确地检测出车轮轮对的几何参数非常重要。测量原理基于线激光标定的轮对参数测量方法,系统采用传统的三角法测量原理,利用一个面阵CCD(charge-coupled device)摄像机,获取来自被照射部分车轮表面“散射”光图像,通过图像处理,能够快速获取轮对轮辋厚度参数。而标定方法的选取对于现场的测量至关重要,通过比较选择简易快捷的一种标定方法,经现场实验研究表明,该轮对参数测量方法具有检测速度快、在线实时测量的优点。 相似文献
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7月19日,中兴通讯携手国家无线电监测中心检测中心(简称SRTC)共同举办了以“支持节能环保,发展绿色通信”为主题的“绿色环保无线终端产品新闻发布会”。会上,来自国家认证认可监督管理委员会(国家认监委)以及中国质量认证中心(CQC)的领导,就“国推RoHS”污染控制标准的实施意义和开展情况做了主题发言。 相似文献
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电子散斑测量仪及其在无损检测中的应用 总被引:3,自引:0,他引:3
介绍了一种电子散斑测量仪(ESPI),对其测量原理,仪器结构进行了描述,分析了热加载测量机理,用热加载方式对铝蒙皮蜂窝站结构复合航空材料脱粘缺陷进行了无损检测(NDT)得到了满意的效果。 相似文献