栅氧化异常C—V特性的分析和监测样品处理方法

在我厂CMOS电路生产工艺中,常规栅氧化的C-V曲线经常出现不正常现象,但生产实践表明,它又不反映制成电路栅氧层的界面电荷特性。因此,无法通过测试栅氧后的C-V特性对MOS电路生产进行有效的工艺监控,这就提出了两个问题:1、为什么栅氧后呈现异常的CV特性曲线;2、怎样对栅氧化进行有效的工艺监控。     

集成电路中栅介质膜的C－V测试误差分析及其修正模型

通过具有各种串联电路的ＭＯＳ电容的分析测试表明：串联电阻引起ＭＯＳＣ－Ｖ特性畸变、失真，并与介质膜电容大小有关；串联电容使ＭＯＳＣ－Ｖ特性严重不稳定；而当存在电容和电阻并联的串联电路时，即使串联电路中的电阻高达１ｋΩ以上，只要其并联的电容远大于介质膜电容，这个串联电路的影响就可以忽略不计。也测试分析了硅衬底参数和测试环境对ＭＯＳＣ－Ｖ特性的影响。指出了改善测试分析准确性的各种有效途径。提出了ＭＯＳＣ－Ｖ特性的串联电阻修正模型。即：存在串联电阻效应的判据；ＭＯＳＣ－Ｖ特性失真的判据；串联电阻计算公式、电容修正公式及ＭＯＳＣ－Ｖ修正过程。举例说明修正模型编程的实际应用：超薄栅氧化层ＭＯＳＣ－Ｖ特性的修正；ＣＭＯＳ电路中，Ｐ阱中ＭＯ５电容Ｃ－Ｖ特性的修正。     

含F栅介质的Fowler-Nordheim效应

本文建立了一套用于ＭＯＳ电容热载流子损伤研究的自动测试分析系统,用高频和准静态Ｃ－Ｖ技术,分析研究了栅介质中Ｆ离子的引入所具有的抑制Ｆｏｗｌｅｒ－Ｎｏｒｄｈｅｉｍ高场应力损伤的特性,对Ｆ离子和高场应力作用机制进行了讨论．     

用于ULSI电路的超薄栅介质膜研究

制备出６～７ｎｍ超薄栅ＮＭＯＳＦＥＴ。通过对器件性能的研究发现，适当条件下Ｎ２Ｏ制备的超薄ＳｉＯｘＮｙ膜比ＳｉＯ２膜更适合ＵＬＳＩ的应用。     

有限介质绝缘电阻对C—V测量的影响

本文描述了在高频和准静态C-V测量中,二氧化硅介质层有限电阻对测量准确性的影响。特别是在准静态测量中,由于频率相当低,MOS电容值只有100pF左右,所产生的位移电流为10(-9)～10(-14)A范围,介质层有限电阻产生的漏电流对测量准确性影响很大。因此,在存在漏电流的情况下,必须从测得的数值中扣除漏电流,才能进行界面态密度的计算。     

InSb—MIS器件中PECVD氮氧化硅栅介质膜的研究

——用PECVD技术在低温、低压和低功率密度条件下获得了优质氮氧化硅(Si_xO_yN_x)薄膜,并成功地应用于InSb-MIS单元器件的研制.X光电子能谱和红外光谱分析表明Si_xO_yN_z膜具有复杂的空间结构.     

用微电子测试结构研究超薄栅介质的可靠性

本文介绍了几种新颖的微电子测试结构及其应用,诸如栅氧化物可靠性评估、薄介质层击穿以及预示MOS绝缘层的边缘效应.同时讨论了超薄栅介质层的可靠性.     

MOS结构准静态测试中的异常C—V曲线

本文报导了MOS结构在准静态测试中的异常电容-电压曲线。讨论了它们产生的原因。     

用C—V法测试Cd在InSb中扩散层的杂质浓度及其分布

在光伏型红外探测器的生产中,扩散层的杂质浓度及其分布是十分重要的。及时了解杂质浓度及其分布,将有助于获得最佳性能的器件。本文研究了 C-V 法测试 Cd 在 InSb 中扩散层的杂质浓度及其分布,为浅结杂质分布的确定提供了一个新的方法。     

氮气中烧结的厚膜介质浆料

厚膜铜导体的烧结通常是在惰性气氛中进行的,与其配套的多层布线介质材料也应适合在惰性气氛中烧结。研制的ZnO-Al_2O_3-SiO_2-ZrO_2系介质材料介电常数小(ε<6),损耗角正切低(tgδ<10×10~(-4)),绝缘电阻高(R≥10~(13)Ω),材料烧结后主晶相是立方ZrO_2,适于惰性气氛(如N_2)烧结,可用作铜导体多层布线系统介质材料。     

^6—Co—γ辐照感生Si／SiO2慢界面态及其对高频C—V测试的影响

研究了γ辐照感生Ｓｉ／ＳｉＯ２慢界面态的特性及其对高频Ｃ－Ｖ测试的影响。结果表明,辐照产生的慢界面态为界面态的０．３－０．８,分布在Ｓｉ禁带中央以上的能级或呈现受主型。分析认为慢界面态对应的微观缺陷很可能是Ｓｉ－Ｏ断键或弱键。慢界面态的产生还引起Ｃ－Ｖ曲线同测试速率、方向和扫描前保持时间有关。文中提出了如何通过高频Ｃ－Ｖ测量比较准确地计算辐照感生氧化物正电荷、界面态和慢界面态密度的方法。     

被Kerr介质包围的J—C模型中光场位相特性

本文应用Pegg-Barnett位相理论讨论了被Kerr介质包围的J-C模型中光场的位相性质。     

GaAs MMIC中平面Schottky Diode的C－V特性解析模型

本文提出一种采用ＧａＡｓＭＥＳＦＥＴ工艺制造的平面微波变容管Ｃ－Ｖ特性解析模型，该模型着眼于小尺寸、平面化工艺及离子注入工艺，充分考虑了由其产生的栅下沟道串联电阻及侧电容对平面ＳｃｈａｔｔｋｙｄｉｏｄｅＣ－Ｖ特性的影响，这些影响对平面变容管影响较显著而在已有的模型中是被忽略或未作详细讨论的．文中还给出了该模型的算例及与实验结果，已有的几种典型模型算例的比较．结果表明，本文模型中参数易确定，与实验亦附合得很好．