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高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术综述 总被引:3,自引:0,他引:3
樊强 《电子产品可靠性与环境试验》2011,29(4):58-62
高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术是近几年不断发展起来的可靠性新技术。就HALT&HASS技术与传统的可靠性试验进行比较,重点阐述HALT&HASS的概念、特点以及测试步骤和注意事项。 相似文献
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本文简要介绍了高加速寿命试验(HALT)和高加速应力筛选(HASS)试验技术的产生、作用及应用对象,重点阐述了HALT/HASS试验技术基本原理和试验过程. 相似文献
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张先文 《电子产品可靠性与环境试验》2009,27(6):66-69
介绍高加速寿命试验和高加速应力筛师技术的概念、测试步骤,并举例说明HALT和HASS试验箱的性能指标和详细参数、HALT和HASS试验系统的校准方法及注意事项。 相似文献
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倒装焊复合SnPb焊点应变应力分析 总被引:2,自引:1,他引:1
近年来,在微电子工业中,轻、薄、短、小是目前电子封装技术发展的趋势。因此,倒装焊技术应用越来越广,而焊点的可靠性在倒装焊技术中变得越来越重要。采用有限元软件,模拟、分析了焊点高度和下填料对焊点在热载荷作用下的应力应变值。 相似文献
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高加速寿命试验(HALT)与高加速环境应力筛选(HASS) 总被引:2,自引:0,他引:2
将高加速寿命试验与高加速环境应力筛选引入产品的设计、研制和生产中,可在产品批量生产前消除设计缺陷,缩减开发时间和成本,快速提高产品的可靠性并增强市场竞争力。 相似文献
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高加速寿命试验和高加速应力筛选技术 总被引:1,自引:0,他引:1
文中简单介绍高加速寿命试验和高加速应力筛选(HALT&HASS)技术,重点从其原理、试验方法阐述该技术如何缩减研发时间与成本,达到提高产品可靠性和增强市场竞争力的目的。 相似文献
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阐述了高加速应力试验的本质是通过施加远超过产品设计规范规定的各种应力,快速地将产品内部的薄弱环节和缺陷激发出来,为改进设计和剔除早期故障提供信息.高加速应力试验的优点是可以得到高可靠的产品,且大大缩短产品研制进度和降低成本.这里列举了部分在IT、电子、机电等设备上成功应用HALTHASS取得效果的国际企业。 相似文献
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电子设备可靠性的加速试验 总被引:1,自引:1,他引:1
简要介绍了可靠性加速试验基本原理和一般流程,以及可靠性试验技术形成和发展。提出了可靠性加速试验的实施规划,并重点阐述了可靠性加速试验中的高加速寿命试验(HALT)和高加速应力筛选试验(HASS)的相关内容,详细介绍了两者的区别和实施方法。针对试验应力类型选择、试验层次和试验条件的确定等方面进行了说明,给出了基本应用原则... 相似文献
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高加速寿命试验(HALT,highly accelerated life test)和高加速应力筛选试验(HASS,highly accelerated stress test)技术是近年来不断发展起来的可靠性新技术,其工作原理、试验目的、应力要求等与传统的可靠性试验有所不同,是考核与提高产品质量与可靠性的强有力的工具。本文将就HALT&HASS技术与传统的可靠性试验进行比较,重点阐述HALT&HASS的特点、关键保证,以及如何利用现有可靠性试验设备逐步开展该试验,以达到缩减研发时间与成本,提高产品可靠性和增强市场竞争力的目的。 相似文献
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本文采用Surface Evolver软件对倒装焊复合焊点的几何形态进行了模拟。通过非线性有限元方法研究有铅和无铅两种焊点在热循环作用下的应力应变关系,基于疲劳寿命C—M预测公式对焊点的热疲劳寿命进行预测与比较。 相似文献
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王文岳 《电子产品可靠性与环境试验》2014,32(6):57-61
介绍了高加速极限试验(HALT)与传统的可靠性试验的差异性,以及HALT和高加速应力筛选(HASS)技术及其应用;并对HALT/HASS技术的实施方案,HALT/HASS试验中应注意的问题,以及如何正确地看待HALT/HASS技术在产品研发与生产中的作用等内容进行了综述。 相似文献
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高加速应力筛选(HASS)概述 总被引:4,自引:1,他引:3
林震 《电子产品可靠性与环境试验》2002,(6):57-61
高加速应力筛选(HASS)是一种新兴的试验技术,用于产品的生产阶段。在暴露和剔除产品的制造和工艺缺陷,提高可靠性,降低野外失败和返修率等方面非常有效。从研究开发HASS的背景出发,介绍了HASS的目的及作用,重点探讨了高加速的基本原理,典型的HASS过程。 相似文献
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倒装焊互连开始出现于各种封装结构中,倒装芯片封装(FCIP)现在已从30引线的CSP发展到2000引线以上的BGA中,该技术并不是一门新技术。倒装焊芯片最早是30多年前IBM公司推出,一直是在所生产的一些最高性能计算系统的核心。这个概念很简单,将一个小的焊料凸点从芯片的有源面直接到基板上。这种连接在电性能上远远优于线连接,因为它大大缩减了路径长度和相关的电感。其次,芯片与基板之间的导体连接点是同时完成,而不像丝焊封装那样一个接一个 相似文献