调制解调器自动化测试系统设计

为了提高调制解调器测试效率,提出了一种调制解调器自动化测试系统的设计方案。分析了调制解调器自动化测试需求,进而对自动化测试系统设计中的关键技术进行了详细的讨论;最后,对构建的测试平台进行了验证测试。结果表明,自动化测试较人工测试大幅缩减测试时间,能有效满足调制解调器研制生产的测试需要。     

基于Ultra-FLEX测试系统的集成电路测试开发

在半导体技术高速发展的今天,对集成电路的测试要求越来越高,测试开发的难度、复杂度都在增加,如何应对当前集成电路的测试需求,成为测试开发者需要考虑的问题。Ultra-FLEX测试系统是新一代的测试系统,用以应对当今的测试需求。文章介绍了Ultra-FLEX测试系统的硬件资源,列举了部分模块及其功能和参数;描述了一般集成电路测试开发的流程,并以数字集成电路为例介绍了相关测试内容;介绍了Ultra-FLEX测试系统的软件环境,列举了测试程序构成要素以及各自功能;介绍了Ultra-FLEX测试系统的程序调试环境,测试系统提供的调试工具以及调试方法。     

高带宽存储器测试技术研究

针对高带宽存储器(HBM)测试工程化实现的技术难题,重点研究了HBM的基本结构,分析了测试难点,从测试流程和测试项两个角度对比了DDR SDRAM与HBM两者的差异,并总结了底层逻辑硅片测试、TSV连接性测试、堆叠物理层测试和性能测试等HBM测试所包含的核心技术。提出了HBM测试中关键实施步骤及其技术要求,为制定HBM产品工程化量产测试方案提供了参考。     

超宽带无线电设备的测试

本文对超宽带无线电设备可能涉及到的测试内容进行了全面的介绍,包括区域性法规测试、辐射性能测试、空中控制测试、一致性测试、互联互通测试、环境性能测试,并对各个测试内容所涉及到的测试平台进行了介绍.     

SOC芯片的可测试性设计与功耗优化

介绍了数字集成电路可测试性设计与测试覆盖率的概念,针对一款电力网通信芯片完成了可测试性设计,从测试的覆盖率、功耗等方面提出了优化改进方案,切实提高了芯片的测试覆盖率,缩减了测试时间和成本,降低了测试功耗,同时保证了芯片测试的可靠性,最终使芯片顺利通过量产测试。     

基于C^#的高低温自动化测试系统设计与实现

为了解决高低温环境测试中测试时间长,设备利用率低,数据记录数据量大等一系列测试问题,提出了基于C#和软件自动化测试理论的高低温自动化测试系统。该系统采用C#软件开发,利用计算机通信和控制技术,通过对测试设备和测试流程的自动控制,在保证测试安全、准确的前提下完成整个高低温测试实验,自动记录测试数据,并在测试结束后自动得出测试结论,达到了提高高低温箱测试利用率及减少测试浪费的目的。     

GSM移动电话机进网测试

介绍了GSM移动电话进网测试,包括测试标准、测试内容和方法,其中着重介绍了射频性能测试和环境测试。     

国外运营商认证测试要求

介绍了不同层面的终端测试,即强制性测试、终端一致性测试和运营商认证测试。对国外运营商认证测试、运营商认证流程以及欧洲和北美运营商的测试要求和测试内容进行了阐述,并给出了一个运营商定义的测试例。     

并行LED驱动电路的多SITE测试方法

并行LED驱动电路的多SITE测试对系统资源和测试速度有较高要求,文章介绍了并行LED驱动电路的工作方式、常见测试参数以及常见参数的测试方法。探讨了在中测阶段进行多SITE测试的方法,对该类电路多SITE测试中的一些难点进行了分析,并提出了一种新的测试方案。该测试方案通过资源复用的方式,采用最新的切换技术,可以有效提高测试准确性,并提高测试效率,降低测试成本。最后介绍了多SITE测试的一些其他要点以及最终的测试结果。     

测试与可测试性设计发展的挑战

CMOS器件进入超深亚微米阶段,集成电路(IC)继续向高集成度、高速度、低功耗发展,使得IC在测试和可测试性设计上都面临新的挑战.本文首先介绍了测试和可测试性设计的概念,分析了测试和可测试性设计面临的困境;然后讨论了系统芯片设计中的测试和可测试性设计,最后对测试和可测试性设计的未来发展方向进行了展望.     

基于电子设备自动测试系统的通用性设计分析

电子设备产品越来越多,测试的复杂性和精准度要求也更高,为适应电子测试需求,文章详细介绍了自动化测试系统的关键应用技术,阐述了自动测试系统基本原理,提出了测试系统校准的设计方案。自动化测试系统具有标准化、可重复化特点,有效降低了测试人员的劳动强度,大大降低了测试成本,保证了测试效率。     

基于TCG图和模拟退火算法的SoC测试调度

为了降低系统芯片测试成本,需复用IP的测试电路和测试矢量,过去几年已经涌现了许多新型测试结构.测试包和测试轨由于其结构简单,已经广泛应用于系统芯片的测试方案中.但基于测试包和测试轨的测试调度算法复杂度很高,难以获得测试调度的最优解,从而降低了测试效率.本文提出了基于传递闭合图(Transitive Closure Graph)的测试调度表示法,该表示法符合P-admissible准则,使组合优化算法适用于SoC测试调度问题.最后本文用模拟退火算法来优化测试调度,实验结果表明此算法调度的测试时间要比报道的结果都好.     

WCDMA终端协议测试解析

介绍了协议测试的概念：包括一致性测试和互操作性测试,介绍了WCDMA终端一致性测试并对测试案例结果进行了分析。     

浅谈软件测试技术

本文从分析软件测试的概述出发,描述了软件测试的方法：动态测试和静态测试。并详细的阐述了应该在何种情况和要求下合理的使用黑盒测试与白盒测试,概述了软件测试的层次性,测试的步骤分为：模块测试、综合测试、确认测试以及系统测试。     

TD-SCDMA和TD-LTE双模终端协议互操作测试系统研究

全面深入地分析了TD-SCDMA和TD-LTE双模终端协议互操作测试系统。首先,阐述了互操作测试的概念、互操作测试所依据的国内外标准以及具体测试内容;然后,具体分析了测试系统的软硬件架构和测试流程;最后,指出了测试系统的实际应用情况。     

TD-SCDMA和TDILTE双模终端协议互操作测试系统研究

全面深入地分析了TD-SCDMA和TD-LTE双模终端协议互操作测试系统。首先,阐述了互操作测试的概念、互操作测试所依据的国内外标准以及具体测试内容;然后,具体分析了测试系统的软硬件架构和测试流程;最后,指出了测试系统的实际应用情况。     

基于TestStand的DDS特性参数自动测试管理

介绍了基于TestStand软件对DDS特性参数进行自动化测试的流程管理.DDS测试参数包括常规参数和特性参数,常规参数由普通的专用测试设备即可测试,而特性参数由于测试项目繁多,测试要求高,采用普通的测试设备难以测全所有参数,且精度难以保证,通过外接高性能专用仪器对其测试是比较好的测试方案.由此带来的问题是测试资源杂多,需要一个统一的测试管理平台,对测试资源和测试流程做统一的测试管理.TestStand软件是一款非常优秀的测试管理软件.应用TestStand软件对DDS复杂的自动测试流程进行管理,方便了测试开发过程,极大地提高了测试开发效率.     

基于GMRP协议的数字电能表远程在线误差测试系统研究

介绍了基于GMRP协议的三相数字式电能表的远程在线测试使用环境、工作原理和误差测试方法。远程在线误差测试采用网络技术、误差测试技术相结合,实现了数字电能表远程测试,节省了测试费用,提高了测试效率。     

TD-SCDMA、TD-LTE系统间互操作测试及跨制式应用测试方案浅析

对TD-SCDMA、TD-LTE系统间互操作协议一致性测试和应用测试的场景及测试系统架构进行了分析,并对关键技术进行了总结。在3GPP提出的一致性测试的基础上对跨制式的业务应用测试进行了扩展,为后续TD-SCDMA、TD-LTE互操作测试提出了建议,进一步满足了用户丰富的测试使用场景。     

太赫兹功率非相干测试技术研究进展

本文针对太赫兹辐射功率的测试需求,阐述了基于光子学的太赫兹辐射功率测试技术,详述了太赫兹功率测试的应用价值。通过研究太赫兹功率非相干测试技术的国内外发展现状,分析了基于辐射热测量的测试技术、基于热膨胀的测试技术、基于热释电效应的测试技术和基于seebeck效应的测试技术在太赫兹功率测试中的应用,并进行了优缺点对比分析。研究结果可以促进太赫兹功率测试的基础研究、开发研究和产业化的发展,最后展望了太赫兹功率非相干测试技术的发展前景。