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概述了功率晶体管结温测量的意义及常用的双极晶体管模型.常用的结温测量方法有两种:红外扫描法和热敏参数法.由于热敏参数法只能得到器件的平均结温,不能用于准确地评价电子器件的可靠性,因此,红外扫描法优于热敏参数法.红外扫描法用于拟定器件筛选条件时必须满足3个必要条件,这样既不会发生应力不足,又能避免过应力失效. 相似文献
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应用红外热像技术测量电子元件正常工作条件下的表面温度 总被引:3,自引:0,他引:3
由于电子元件的功率密度不断增加,电子产品的热控制日显重要.红外热像仪有众多优点且可用于电子元件表面温度的测量.探讨了如何在电子元件正常工作条件下,应用红外热像仪获得其真实表面温度,涉及背景温度、目标温度的正确估计,透明材料的选取、透射率的估算,误差及可能的修正方法. 相似文献
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红外热成像仪温度场测量的几何信息还原 总被引:2,自引:2,他引:2
针对温度场的热成像结果中缺少被测表面的几何位置信息并难以用直接的数学方法进行恢复的问题,提出用在被测表面设置红外可视校准网格的实验方法来建立物平面与像平面间的几何对应关系,并用一阶二维插值算法来还原热像结果的几何位置信息.通过对一个柱面射流冲击冷却温度场的测量验证了该方法的可行性. 相似文献
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采用中波、长波红外热像仪对夜间无云天空背景及云层背景红外辐射亮度进行了测量。无云天空背景中波波段辐射亮度在0.58~1.30 W·m-2·sr-1,长波波段辐射亮度在6.61~15.29 W·m-2·sr-1。由于夜间条件下无太阳辐射影响,相同俯仰观测角条件下,0°~360°各个方向天空背景辐射亮度基本一致。从无云区到有云区,随着云层厚度的增加,其辐射亮度逐渐增大。相对于无云背景,中波波段云层中心辐射亮度增加了1.5%,长波波段云层中心辐射亮度增加了14.2%,长波波段云层对天空背景辐射影响更加显著。 相似文献