MCNP程序对X射线荧光分析校正曲线的模拟计算

X射线荧光分析中,由于物质成分变化对检测结果的影响,在多数情况下元素浓度含量和荧光强度间不是线性对应关系.针对0～100%浓度的Fe和基体为Cr(强吸收体)和O(弱吸收体)的二元混合物样品,使用MCNP程序模拟强吸收和弱吸收时Fe的荧光强度和Fe的浓度的对应关系.理论表明该对应关系为由参数p确定的曲线,p值由基体元素和...     

X射线荧光分析原级能谱分布的MCNP模拟

X射线荧光分析中,入射激发能谱是影响元素特征荧光强度大小的直接因素。本文使用MCNP程序模拟不同条件下电子打靶后的X射线能谱分布,计算结果能够反映不同条件下特征谱线和连续谱线的特点。模拟能谱数据可用于X射线荧光分析的数据处理。     

用镜像变换法计算X荧光分析的基体效应修正系数

本文阐述了在能量色散法X荧光分析中(EDCRFA)用经验系数法基体效应修正的基本表达式。由于在求解经验系数中存在的病态矩阵,造成计算结果误差很大,文中采用镜像变换法(Householder法)可以得到较稳定和精确的解,取得了明显的效果。     

EDXRF中复杂基体效应的一种校正方法研究

系统地介绍了一种用特征参数和相似分类法解决能量色散Ｘ射线荧光（ＥＤＸＲＦ）分析技术中复杂基体效应影响的方法，给出了应用事例。该方法可以推广到其它复杂类型的分析对象，具有较广泛的适用性。     

用于便携式X射线荧光仪的基体效应散射校正模型

本文论证了样品对入射射线的质量吸收系数(μ_O)与康普顿散射强度之倒数呈线性关系,提出并验证了样品对待测元素特征线的质量吸收系数(μ_K)与质量吸收系数(μ_O)以及待测元素含量之间呈线性多项式关系。并且给出了这些关系存在的条件。提出了一种适用于低能量分辨率的携带式X荧光仪的散射校正模型。并成功用于锡矿和某些铜矿分析中。     

铜镜的X射线荧光分析

建立一种不取样的分析古代青铜镜的方法,给出了52面铜镜的铜、锡、铅含量值。从所获得的含量值看,铜镜中的铜、锡比例很接近,这就证明了《考工记》里“金锡半谓之鉴燧之齐”的记载基本上是正确的。     

X射线荧光分析的α系数法校正

X射线荧光分析中对厚靶基体的吸收增强效应必需进行校正。α系数法是应用得很广泛的一种校正方法。本文在Lachance-Traill数学模型的基础上增加了待测元素对其自身的特征X射线荧光强度影响的校正项。 假定某样品的基体中含有N种元素,它们的含量及X射线的相对强度分别为C_1,C_2……C_N及R_1,R_2……R_N,其中第i种元素的含量可根据下列半经验公式计算     

全反射X射线荧光分析

综述了全反射X射线荧光分析技术的基本原理，装置及特点，介绍了全射X射线荧光分析技术的应用及其前景。     

医用诊断X射线能谱的MCNP模拟

掌握医用诊断X射线的能谱是开展图像质量和人员所受辐射剂量评估等工作的重要前提。本研究应用MCNP(Monte Carlo N-Particle Transport Code)软件开展医用诊断X射线能谱的计算机蒙特卡罗模拟。构建了X射线机头简化的几何模型,计算管电压为50～150 kVP、总滤过为0.5～5 mm(Al)、阳极角度为6°～14°时,在出来口的X射线能谱结果。同时分析了X射线的阳极脚跟效应特性,并得到含有阳极效应的X射线面源数据文件集,可用于后续应用计算。能谱的模拟计算结果与现有能谱软件结果符合较好,表明通过电子打靶的计算机蒙特卡罗模拟可较准确得到X射线源特征参数,为后续其应用建立了较好的源项基础。     

X射线荧光光谱仪的现状

综述了波长色散X射线荧光光谱仪和能量色散X射线荧光光谱仪的现状和发展趋势,及其X射线荧光光谱仪的拓展,介绍了部分具有代表性的X射线荧光光谱仪的主要性能.     

基于MCNP的伽玛射线吸收与散射实验仿真平台的开发

介绍一种以MCNP为核心的γ射线吸收与散射的仿真实验平台,在MCNP基础上开发出相应的辅助部件。该仿真软件可仿真93种单质材料及2-3种多元素混合物的吸收实验,模拟吸收厚度为0-100cm,厚度增量为0.001cm。仿真散射实验的介质从Li到Am,实验仿真测量的角度与入射射线方向夹角从-90°到90°,角度增量为1°。     

手持式EDXRF荧光仪在RoHS认证的应用研究

利用自行研制的便携式EDXRF荧光仪对自配聚乙烯、Cu、Sn、Si O2四种基体标准样品的测量与数据处理,建立了基于RoHS标准的Cr、Pb、Hg、Br等元素的工作曲线,得出判定样品合格的参考标准。实验证明了XRF技术用于RoHS检测中进行快速筛选待检样品是一种有效手段。     

基于MCNP模拟的中子多重性计数器3He管的设计

为设计高性能的中子多重性计数器,采用MCNP4C计算软件建立3He管计算模型,模拟计算3He管的参数对多重性计数器探测效率的影响,针对中子多重性计数器中3He管进行了初步设计,以满足中子多重性测量要求。     

MCNP程序并行计算性能分析

并行计算可以有效地减少MCNP程序的计算时间.利用MPI消息传递软件,可以在安装Windows操作系统的PC集群上实现MCNP5的并行计算.MCNP程序的并行计算性能与所计算问题的类型、复杂程度及参数设置等因素有关,对此进行了分析并提出了改善MCNP程序并行计算性能的措施.     

MCNP4C在低能X光子解谱中的应用

在低能X参考辐射场中校准剂量(率)仪时,需要利用准确的转换系数进行计算。通常转化系数的参考标准为ISO 4037-3,但该标准的推荐值在低能区有较大的不确定度,因此需要对脉冲高度谱进行解谱求得注量谱,进而得到准确的转换系数。探测器的响应函数是注量谱解谱过程中的关键,本文在基于过滤的低能X光子参考辐射场中,使用蒙特卡罗方法MCNP4C程序建立CdZnTe探测器的几何模型,并计算出探测器响应函数,构建响应矩阵进行解谱,得到注量谱。结果表明,计算得到的标准源脉冲高度谱和实验测量结果基本一致,利用本文解谱结果得到的参考辐射场半值层与实验测量值基本吻合,相对偏差不大于5%。     

EPR堆芯严重事故下安全壳内γ辐射水平MCNP模拟与分析

根据EPR堆芯结构、材料组成及其屏蔽系统设计,建立了EPR堆芯γ辐射剂量率模拟模型。采用MCNP5分别计算了反应堆正常运行工况、堆芯失水及堆芯融化等严重事故条件下安全壳内γ剂量率空间分布,分析对比严重事故、正常工况下安全壳内辐射剂量率分布与设计剂量率限值的差异。研究结果可为预估EPR堆芯事故情况及核事故应急决策提供相关数据参考。     

利用MCNP模拟气体裂变产物混合源的γ剂量率

西安脉冲反应堆辐照铀靶后,抽取Kr、Xe裂变气体,通过活性炭吸附于气体源盒内。HPGe γ谱仪测量源盒内混合气体活度,塑料闪烁探测器测量γ剂量率。将源盒、塑料闪烁探测器的几何结构、材料作为蒙特卡罗程序（MCNP）输入信息,模拟塑料闪烁探测器对源盒中核素活度与其γ剂量率对应关系,结合HPGe γ谱仪所测活度得到剂量率模拟值,结果与实测值偏差小于6%。该工作说明在已知放射源空间结构、放射性核素种类和活度的情况下,采用MCNP模拟计算复杂气体放射源γ剂量率的方法是可行的。     

基于MCNP5的凸度仪固有散射影响分析

本文采用MCNP5软件建立了凸度仪模拟计算模型,并对其进行实验结果验证。分析了凸度仪固有散射的影响,随待测钢板厚度的增大,固有散射影响减小,对1~15mm厚度的钢板,系统固有散射占总散射影响的10%以下,而对大于15mm厚度的钢板,系统固有散射可近似为零。此外,对散射因子曲线在非对应源附近的鼓包现象进行了分析,分析结果表明,探测器支架具有防止另一排探测器散射干扰的作用。