首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 15 毫秒
1.
《今日电子》2011,(2):24-25
1.引言光速测量给人感觉是需要很精密特殊的仪器才能够实现,其实不然,使用逻辑分析仪我们也能测量出来的,当然我们这里讨论的不是如何测量光速,而是通过测量电信号在导线中的传播延时来体现逻辑分析仪高速采样在高速信号测量中的应用价值。本文将以电信号的传播延时及反射为例做应用分析。  相似文献   

2.
在过去几十年中,数字设计人员一直把逻辑分析仪作为系统检验的主要工具。近年来,随着时钟速率的加快,迫使设计人员不得不考虑系统所有部分的信号完整性,包括测试能力。逻辑分析仪探头已不再象以往那样任意连接到系统上,就能够保证成功,而是必须考察探头位置、负荷及与传输线的邻近程度等因素。本文考察了在探测高速  相似文献   

3.
本文考察了在探测高速数字系统时设计人员遇到的部分常见问题,讨论了探头的负荷模型及探测位置的影响.最后,本文讨论了把探头连接到高速系统最常用的技术短线探测和阻尼电阻器探测.  相似文献   

4.
在过去几十年中,数字设计人员一直依赖逻辑分析仪,作为系统检验的主要工具。近年来,时钟速率的加快,已经迫使设计人员考虑系统所有部分的信号完整性,包括测试能力。逻辑分析仪探头不再是任意连接到系统上就能够保证成功,而是必须考察探头位置、负荷及与传输线的邻近程度等因素。本文考察了在探测高速数字系统时设计人员遇到的部分常见问题,  相似文献   

5.
《今日电子》2011,(3):34-35
1.引言在数字电路系统中,各种芯片使用不同的总线协议进行数据交换,低速信号通常多采用异步总线模式,比如10MHz数量级的MCU外部总线、SRAM、异步FLASH等。而在数据率较高时,  相似文献   

6.
1.引言在数字电路系统中,各种芯片使用不同的总线协议进行数据交换,低速信号通常多采用异步总线模式,比如10M H z数量级的M C U外部总线、SRAM、异步FLASH等.而在数据率较高时,特别是当数据率高于100M H z数量级时,大多都采用同步总线,比如PCI、SDRAM等.  相似文献   

7.
随着DDR3和DDR4高速存储器走向前台,数据速率不断提高,专注于高性能服务器和嵌入式系统的工程师对可靠测量和深入分析的需求就变得尤其关键,安捷伦科技公司日前推出业界最快的U4154A逻辑分析仪以应对这种挑战。  相似文献   

8.
《电子设计应用》2005,(7):140-140
随着高速串行总线、特别是多路串行总线以及FBDIMM等双倍数据速率内存的不断发展,对设计人员在正确的时间内进行高速精确的取样提出了新的要求。“与几年前相比,广大客户今天处理的数据集容量要大得多,而在将来还会进一步提高,这给设计人员带了严峻的挑战。”泰克公司逻辑分析仪产品线副总裁David Bennett表示。  相似文献   

9.
《今日电子》2010,(2):58-59
1.引言 在嵌入式系统中,经常要用到大容量的随机存储器(RAM)来运行程序或存储数据,SDRAM(Synchronous DRAM,同步动态随机存储器)即是其中之一,凭借着低廉的价格、大容量、与系统总线速率同步等优势,应用非常广泛,特别适用于图像处理、高速数据采集等场合。由于SDRAM的操作时序相对比较复杂,接口不能直接与大部分微处理器的存储器接口相连接,  相似文献   

10.
针对大容量的信号采样时片内逻辑分析仪存储器资源紧张的情况,本文提出了一种采样可选择的FPGA片内逻辑分析仪的设计方法.本方法通过布局布线约束实现JTAG硬核的复用,并利用JTAG硬核修改FPGA内寄存器实现采样信号的重新选择.测试结果表明,与某商用工具相比,根据该方法实现的片内逻辑分析仪对采样信号进行N分组后,在同等条件下所需的片内存储资源降低到1/N,同时设计时序的稳定性得以保证.  相似文献   

11.
逻辑分析仪     
性能全面的高档逻辑分析仪 Aglient公司的16700系列逻辑分析仪是该公司最高档次的逻辑分析仪器,适用在多处理器、多总线的复杂系统级的定时和状态分析及调试,仪器具有互联网连接能力,在不同地区的设计小组人员可通过网络交换数据,观察屏幕、发送电子邮件、发出仪器的执行指令。16700系列  相似文献   

12.
《今日电子》2011,(6):34-35
1.引言CF卡(Compact Flash)技术是由CF协会(CFA)提出的一种与PC的ATA接口标准兼容的技术,使用标准的ATA/IDE接口。CF卡采用闪存(flash)技术,是一种稳定的存储解决方案,不需要电池来维持其中存储的数据,对保存的数据来说,CF卡比传统的磁盘驱动器安全性和保护性都更高,比传统的磁盘驱动器及Ⅲ型PC卡的可靠性高5~10倍,而且CF卡的用电量仅为小型磁盘驱动器的5%。  相似文献   

13.
《今日电子》2010,(5):40-41
1引言在使用逻辑分析仪测量数据时,如果没有分析插件的帮助,通常很难直观地得到分析结果,由于插件不可能完全支持那些很特殊的信号或总线,因此需另辟蹊径,这时候可以使用别名表的方式来协助分析,将一些抽象的总线数据快速地转换成直观的结果。  相似文献   

14.
早期的基于天文观察或地球范围内的飞行时间实验的光速测定,在四十年代基本上为微波辐射的频率与波长的测量所取代。测量结果受波长测量的不精确性所限制,使用较短波长的辐射,准确度显然要大。然而,直到激光器的研制及其高强庹输出使非线性光学技术成为可能之后,频率测量才能扩展到可见光谱区。  相似文献   

15.
当我们调试逻辑电路时,不仅需要知道各个脉冲之间的逻辑关系,还往往需要测出各个脉冲之间的时间间隔,但是一般的频率计无法完成此项工作.我们结合实际设计安装了一台简易逻辑分析仪,配合普通的频率计,可以满意地测出正负脉冲的宽度,两个脉冲上升沿之间(或下降沿之间或上升下降沿之间)的时间  相似文献   

16.
对数据流进行测试时需要一类新的测试仪器,在数据域测试中一种十分重要的仪器就是逻辑分析仪。本文简单介绍这种仪器的特点和应用,最后还具体介绍VP—3660A型逻辑分析仪操作方法。  相似文献   

17.
话说逻辑分析仪,举凡处身数位设计领域的译者没有不知道它的, 而逻辑分析仪是什么呢? 为什么工作上若少了一台逻辑分析仪,就让人觉得诸事不便? 现在,就让我们一起来探索逻辑分析仪的奥妙。  相似文献   

18.
廖述剑  李迅波  陈光 《电子学报》1999,27(6):143-143
采样/保持放大器(SHA)的采集时间是指从采样命令发出到输出电压能在给定的误差带内(一般为满量程输入的±0.1%或土0.01%)跟踪输入电压的最小时间.它反映了SHA由保持状态向采样状态跃变阶段的动态性能.经过采集时间后,SHA的输出才可以认为等于输入电压,因此采集时间也是衡量SHAI作速度的关键参数.一、影响因素影响采集时间的因素:一是采样命令到达开关驱动电路的路径传输延迟,及开关驱动电路中数字逻辑接到采样命令后动作的延迟,以t。表示;二是输出电压由保持状态变化到采样状态时,由于摆率的限制,进入SHA的线性…  相似文献   

19.
20.
一、概述随着电子计算机和外围设备的发展以及数字技术应用于各个领域,使电子测量仪器出现了一种崭新的门类-数据域仪器.而最典型、用途最广泛的便是逻辑分析仪,也称逻辑示波器.自1973年第一台逻辑分析仪问世以来,在短短几年中已经取得了飞速发展,从一般逻辑状态测试已发展到了可对各类硬件、软件的故障或它们故障的混合进行快速的测试与分析,如对微处理器的快速测试等.  相似文献   

设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号