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随着SoC规模的日益扩大,功能验证也日趋复杂,在模块级验证中尽早地找出设计中的逻辑错误,能大大节省时间和人力的开销。针对EraSoC芯片,搭建了一个模块级功能验证平台,采用事务级的验证策略,并综合运用了约束随机,断言和覆盖率驱动等多种验证方法。以CAN控制器的验证为例介绍了该平台的具体设计和使用。该验证平台极大地提高了验证效率和重用性,在EraSoC的验证中发挥了重要作用。平台的结构和方法具有通用性,可以为其他类似系统的验证提供借鉴。 相似文献
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覆盖率数据是验证工程师判定SoC验证完备程度的定性度量,为SoC验证完全性提供了保障,指明了方向.文中以SoC总线仲裁器验证为例,对其结构覆盖率、功能覆盖率、断言覆盖率等多种覆盖率进行了全面的分析,然后根据覆盖率分析结果反馈到RTL设计代码和测试激励进行修正,直到验证的完整性满足设计的要求. 相似文献
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以UART总线接口为例介绍一种高性能验证平台.该验证平台基于SystemVerilog语言,以功能覆盖率为导向,通过带约束的随机方法产生测试激励,并具有自动检查运行结果及可重用性等特点.实践表明,与传统的验证平台相比,该平台在验证效率及功能覆盖率方面均有明显的优越性;与基于VMM搭建的验证平台相比,该平台也表现出了一定... 相似文献
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为了提高产品的验证覆盖率和首次流片成功率,越来越多的验证技术和衡量标准被采纳。传统的仿真验证技术很难达到验证的快速收敛,而静态验证技术采用数学穷举的方法,利用断言对cornerco.se进行快速验证,有效避免了一些设计缺陷。Mentor公司的QuestaFormal工具可以对代码进行常规的功能检查,并可用Formal引擎证明设计代码及其断言的一致性,可极大地提高复杂设计的验证效率和鲁棒性。 相似文献
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使用Verilog进行数字系统设计时会出现对电路结构描述不够简洁、精确的问题.对IEEE的新标准Sys- temVerilog硬件描述语言进行了研究,通过比较两种语言的关键语法结构,分析了上述问题产生的原因和采用Sys- temVerilog语言的解决方法.最后,以HDB3编码电路设计为例,给出采用SystemVerilog语言进行设计、仿真和综合的结果. 相似文献
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随着设计规模的增大和设计复杂度的提高,片上系统(SOC)的验证问题已经成为缩短设计周期的瓶颈[1].本文综述SOC的功能验证方法,分析当了当前验证方法不能适应SOC的验证要求,同时指出几种验证方法的优点和缺点.提出使用SystemVerilog语言把定理证明、模拟等验证方法有机的结合起来的验证方法-基于断言的验证,这将是解决SOC验证问题的有希望的途径. 相似文献
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本文比较了AMBA的AHB协议和Wishbone协议,提出使用SystemVerilog语言实现AHB-Wishbone总线桥的方法。文中阐述了如何将SystemVerilog断言嵌入到设计中,监视总线信号的时序关系。结合Mentor公司的高级验证方法学(AVM)搭建验证平台,并对设计进行功能验证,采用了事务级的验证策略以及随机约束和功能覆盖率等验证技术新特性。总线桥验证平台能够极大的提高验证效率,其组件具有可重用性。最后在ModelSim工具下进行了仿真,仿真报告和结果说明了总线桥的设计符合要求。 相似文献
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本文基于VMM验证平台,介绍了高速串行收发器芯片的验证方法。文章首先简要介绍了Serdes芯片和VMM验证方法,然后搭建了Serdes芯片的VMM统一验证平台,并从测试激励产生、寄存器读写控制、覆盖率自动统计、断言验证及覆盖率收敛等几个方面详细阐述了Serdes芯片的验证过程。最后给出了验证结果和测试报告。 相似文献
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随着集成电路设计复杂程度的不断提高.功能验证越来越受到重视.一种新兴的验证方法,基于断言的验证,得到越来越广泛的应用.介绍了基于断言的验证方法.及其在WISHBONE到AHB转换接口验证中的应用,总结了断言验证在功能验证中的优势和特点. 相似文献
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验证平台建模的困难在于如何减少设计与验证之间的时序竞争风险,实现验证平台的复用和验证过程中的自动监测.SystemVerilog突破了验证平台建模的传统局限,能够极大地提高芯片测试的效率,并降低设计风险.介绍了System Verilog在进行同步FIFO验证平台建模时所采用的面向对象思想、多线程、接口、邮箱、时钟块等新技术以及建立验证平台的一般原则和技巧,实现了分层设计和验证过程中的自动监测. 相似文献
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基于E语言的外部存储器接口的功能验证 总被引:2,自引:0,他引:2
在SoC设计中,传统功能验证方法已显示出其缺点,主要问题有:复杂验证场景难以构建;边缘情况难以覆盖。针对这些问题,业界提出了一种新的功能验证方法学——受限随机矢量生成的功能验证,该方法在满足约束条件的前提下,随机产生验证矢量。本文研究了受限随机矢量生成的功能验证在SoC设计中的应用,并以基于E语言和Specman验证平台验证了SoC芯片中的外部存储器接口,给出了具体的验证环境和验证步骤。验证结果表明,复杂验证场景和边缘情况的覆盖率均达到了100%。极大地提高了验证的效率和质量。 相似文献
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基于断言的SRAM控制器功能验证 总被引:3,自引:0,他引:3
传统的基于约束的随机矢量生成验证技术在验证过程中存在难于定位bug的缺点,从而增加了验证时间。文中将断言技术和随机矢量验证方法相结合形成基于断言的验证方法,通过在设计实现中加入断言,实时监控设计特性,使设计bug更加容易定位,从而缩短验证过程。以SRAM控制器为例,实验结果表明整个验证时间缩短40%以上,加快了设计验证进度。 相似文献
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结合断言与覆盖率为导向的验证方法 总被引:3,自引:2,他引:3
伴随着半导体工艺的不断发展,可以将更多的功能集成到单系统芯片上.这对传统的验证方法和验证途径提出了种种挑战.以覆盖率为导向的验证方法中,覆盖率模型是在外部通过DUT执行的功能来统计覆盖率,很难侦测到DUT内部的工作状态,存在对功能"遗漏点"的侦测.基于断言的验证方法可以将断言加入到DUT内部,通过断言覆盖加强覆盖率检测.阐述了将断言和覆盖率为导向相结合的验证方法,并用此种方法对USB2.0系统进行了验证.讨论了如何将两种验证方法有效地结合,并且通过比较覆盖率为导向的验证方法与结合断言与覆盖率为导向的验证方法的结果,说明结合断言与覆盖率为导向的验证方法提高了验证过程中的观测性,减少了验证周期. 相似文献