基于部分测试向量切分的LFSR重新播种方法

提出一种测试码压缩方法,首先切分测试集中含确定位较多的难以编码的测试向量,然后与未被切分的测试向量共同组成新的测试集,并将新测试集编码成线性反馈移位寄存器(LFSR)种子,从而实现测试数据压缩.该方法提高了LFSR的编码效率,取得了稍优于混合码的压缩率.与混合码复杂的解压结构相比,在硬件开销上具有明显的优势,仅需一个LFSR和简单的控制电路,且通信协议简单.     

基于优化编码的LFSR重播种测试压缩方案

大规模高密度集成电路测试中存在测试数据量大、测试功耗高等问题.提出了一种先通过编码优化测试集,再使用线性反馈移位寄存器(linear feedback shift register,LFSR)重播种的内建自测试方案.该方案通过自动测试模式生成工具得到被测电路的确定测试集,再压缩为种子集存储在片上ROM中.压缩测试集的过程中,首先以降低测试功耗为目标,用少量确定位编码测试集中的部分测试立方,来增强解码后测试模式相邻位之间的一致性;然后以提高压缩率同时降低LFSR级数为目标,将测试立方编码为确定位含量更少的分段相容码(CBC),最后将以CBC编码的测试立方集压缩为LFSR种子集.实验证明所提出的方案在不影响故障覆盖率的前提下大量降低了测试功耗,并且具有更高的测试数据压缩率.     

基于响应分块相容的测试数据编码压缩方案

提出一种测试数据压缩方案,利用测试向量与扫描链中响应数据的分块相容来增加被编码测试向量中的无关位,降低了线性反馈移位寄存器（LFSR）编码种子的度数,且不必增加额外的测试向量,最终达到压缩测试数据的目的．该方案的硬件解压结构仅需一个LFSR和简单的控制电路．实验结果表明,与其他压缩方法,如基于部分向量切分的LFSR重新播种方法、混合码方案和FDR码方案等相比,该方案在压缩效率和硬件开销上都有明显优势．     

部分向量奇偶位切分的LFSR重新播种方法

提出一种基于部分测试向量奇偶位切分的LFSR重新播种测试方法.针对确定测试集中各个测试向量包含确定位的位数有较大差异以及测试向量所含的确定位大多连续成块的特点,通过奇偶切分部分确定位较多的向量,使得编码压缩的LFSR度数得到有效降低,从而提高了测试数据压缩率.其解压缩电路仍然采用单个LFSR进行解码与切分向量的合并.与目前国际同类编码压缩方法相比,具有测试数据压缩率高、解压硬件开销低、测试数据传输协议简单等特点.     

基于LFSR状态相关的测试数据压缩方法

针对当前LFSR状态和种子的相关性,控制位在改变当前LFSR状态中相应位的值时,对该种子载入过程中需要改变的位进行控制,使得在生成载入种子测试向量时,不需要全部载入种子的全部位数值,从而使控制简单且种子的施加时间更短,实现测试数据压缩.通过实验证明,该方法能够有效地减少种子的存储空间和施加时间.     

使用双重种子压缩的混合模式自测试

提出了一种基于扫描混合模式的内建自测试的新颖结构，为了减少确定测试模式的存储需求，它依赖一个双重种子压缩方案，采用编码折叠计数器种子作为一个LFSR种子，压缩确定测试立方体的个数以及它的宽度．这种建议的内建自测试结构是完全相容于标准的扫描设计，简单而具有柔性，并且多个逻辑芯核可以共享．实验结果表明，这种建议的方案比先前所公布方法需要更少的测试数据存储，并且具有相同的柔性和扫描相容性。     

一种选择折叠计数状态转移的BIST方案

提出了一种选择折叠计数状态转移的BIST方案。它是在基于折叠计数器的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,并通过选定的存储折叠距离来控制确定的测试模式生成,使得产生的测试模式集与原测试集相等．既解决了测试集的压缩,又克服了不同种子所生成的测试模式之间的重叠、冗余．实验结果证明,建议的方案不仅具有较高的测试数据压缩率,而且能够非常有效地减少测试应用时间,平均测试应用时间仅仅是类似方案的4％．     

二维测试数据压缩的优化

为了减少内建自测试方案中的测试数据,基于输入精简技术(横向压缩)和TRC测试集嵌入技术(竖向压缩)的二维测试数据压缩的BIST方案.采用改进的输入精简算法和基于相容性判断的TRC种子选择算法,同时对横向和纵向压缩进行优化,包括在相同的相容百分数(PC)的条件下,确定位百分数(PSB)对竖向压缩的影响和在相同的PSB条件下竖向压缩算法中的PC对竖向压缩的影响两个方面.针对ISCAS89实验电路的实验结果表明,每一个PSB值都有一个最优的PC值范围[PClow_limit,PChigh_limit]使存储位数最小,并且与最优的 PClow_limit,和PChigh_limit之间满足近似的线性关系.相对现有的测试数据压缩方案,采用该优化的二维测试数据压缩方案实现的测试电路,不仅存储位数可减少20%～75%,而且可以达到ATPG工具所能达到的故障覆盖率.另外,测试控制逻辑电路简单,可重用性好.最后,由于在测试向量生成器和被测电路之间没有引入逻辑门,因此,不会对电路的性能产生影响.     

一种BIST测试激励的聚类移位压缩方法

提出一种针对内建自测试的测试激励聚类移位压缩方法。对难测故障的测试向量进行聚类压缩,将测试向量划分为若干类,每类内的向量相互之间最多只有一比特相异,从每类中只选取一个种子向量存储到ROM中。为了进一步提高测试向量压缩率,对聚类后的种子向量再进行移位压缩。实验结果表明,聚类移位压缩具有较高的测试数据压缩率,能减少难测向量存储单元,且能以芯片频率进行测试。     

约束输入精简的多扫描链BIST方案

运用有约束的输入精简、LFSR编码与折叠计数器技术,实现了对确定性测试集的压缩与生成.其主要优点是将多种测试方法有机地结合在一起,充分地发挥了各种方法在压缩测试数据方面的优势.与国际上同类方法相比,该方案需要的测试数据存储容量更少,测试应用时间明显缩短,总体性能得到提升;并且能够很好地适应于传统的EDA设计流.     

针对扫描阻塞结构的测试数据压缩方案*

分析了集成电路测试面临的测试数据量大、测试应用时间长等问题,对常用的测试压缩方法进行了介绍,并在扫描阻塞测试结构基础上,提出了对数据进行部分编码压缩的方案。在附加硬件开销很小的情况下,进一步压缩了测试数据。理论分析和实验结果都表明了本压缩方案的可行性和有效性。     

基于交替-连续长度码的测试数据编码方法

为了减少测试数据量,提出基于交替-连续长度码的测试数据编码方法。采用变长-变长的编码方式,直接编码测试集中连续-交替的长度码。实验结果表明,该方法的解压结构是一个简单的有限状态机,所需额外硬件开销小,与同类型的编码方法相比,具有更高的测试数据压缩率。     

基于二维测试数据压缩的BIST方案

为了减少测试向量的存储需求,提出一种基于扭环计数器作为测试向量产生器的横向和竖向测试数据压缩的BIST方案.先利用经典的输入精简技术对测试集进行横向压缩,再对横向压缩之后的测试集进行竖向压缩.竖向压缩时利用一种有效的基于测试集嵌入技术的种子选择算法,将确定性的测试集压缩成很小的种子集.基于ISCAS89标准电路的实验结果表明,采用文中方案所实现的测试电路与已有方案相比:存储位数平均减少了44%,测试向量的长度平均减少了79%,硬件开销平均减少了41%.     

一种双游程交替编码的测试数据压缩方法

SoC测试面临的挑战之一是测试数据量过大,而测试数据压缩是应对这一挑战行之有效的方法。因此,提出了一种新的双游程交替的测试数据压缩方法,该方法对测试集中0游程和1游程交替编码,并且后一游程类型可以根据前一游程类型转变得到。这样在代码字中不需要表示游程类型,减少了游程所需代码字的长度。实验结果表明,该方法能够取得比同类方法更高的压缩率,而且解压结构简单,因此能够达到降低测试成本的目标。     

ATC-GIS数据插入方法的研究和改进

现有ATC-GIS采用one-by-one的插入方式将海量新数据插入R树索引中,效率较低,并且不能较好地维护R树查询性能。针对该问题,研究并设计一种基于SCB方法的改进数据插入方法,采用种子树指导聚类并构建输入R树来批量插入新数据,利用再压缩过程优化R树结构,通过实验比较选择STR压缩算法构建输入R树。在ATC-GIS上的实验证明,改进后的方法在插入时间和查询效率的维护方面优于现有系统。     

一种多扫描链混合测试数据压缩方法

针对集成电路测试数据量大、测试应用时间长和测试结构复杂等问题,提出一种多扫描链的混合测试数据压缩方法。对于含无关位较多的测试向量,使用伪随机向量产生器生成。对于含无关位较少的向量,则直接使用自动测试设备存储。将该方法与另一种基于扫描阻塞的测试方法进行比较,理论分析和实验结果表明,该方法对数据的压缩效果优于单纯用伪随机方式的扫描阻塞测试方法。     

基于三态信号的测试数据相容压缩方法

针对超大规模集成电路（VLSL）的发展过程中测试数据量增加的问题，提出了一种基于三态信号的测试数据压缩方法。首先，对测试集进行优化预处理操作，即对测试集进行部分输入精简和测试向量重排序操作，在提高测试集中无关位X的比例的同时，使各测试向量之间的相容性提高；随后，对预处理后的测试集进行三态信号编码压缩，即利用三态信号的特性将测试集划分为多个扫描切片，并对扫描切片进行相容编码压缩，考虑多种相容规则使得测试集的压缩率得到提高。实验结果表明，与同类压缩方法相比，所提的方法取得了较高的压缩率，平均测试压缩率达到76.17%，同时测试功耗和面积开销也没有明显增加。     

基于确定模式的伪单跳变测试矢量生成技术

提出了一种基于确定模式的伪单跳变测试矢量生成方法,它是在折叠计数器确定模式的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,通过选定的存储折叠距离来控制测试模式,使得产生的测试矢量之间实现伪单跳变。由于是在确定模式基础上进行的研究,没有改变原来的测试矢量,所以故障覆盖率不会改变,却大大降低了测试功耗。这样既保证了高故障覆盖率,又解决了不同种子所生成的测试矢量之间的重叠冗余。研究结果不仅表明该方案具有很好的数据压缩率,而且证明了该方案的有效性。