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多芯片组件测试方法 总被引:1,自引:0,他引:1
董志凌 《电子工业专用设备》1994,23(4):50-57
由于每个组件的独特设计,多芯片组件(MCM)的测试不仅涉及到MCM硬件测试,而且还涉及到每个设计的电、热性能的分析评估。在制做MCM之前,评估其预定性能需进行综合分析。MCM测试方法包括一个原理简图、组件模拟、结构设计的CAD接口系统和一个既能提供专门功能AC测试能力,又能对各个设计的电、热性能进行分析的测试程序。MCM界所面临的最大问题之一是使用外购芯片。当使用外来芯片或代理商提供的芯片时,会带来芯片测试精度及预测组件合格率等诸多问题。一旦高级的MCMs采用现代工艺开发成功,那么必须建立起分选高级芯片的各种测试方法。本文讨论了对现存的MCM测试进行确定和检验的测试装置并,有助于解决未来MCMs测试所需的方法。 相似文献
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该文以多芯片组件布线中的四通孔(V4R)算法为基础,针对其布线结果不均匀、产生多余噪声的缺陷,通过引入PST(Priority Search Tree)和LEA(Left Edge Algorithm)方法,移除过孔或拐角,减小布线层数,减少噪声,以达到总体布线结果优化。计算机模拟结果表明,优化后的算法有效利用了布线空间,在电特性方面使延时和噪声均得到减小。 相似文献
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本文阐述了多芯片组件成本考虑的因素以及几种低成本多芯片组伯工艺结构及其应用概况,为推进多芯片组件在民用消费类电子产品以及汽车电子、医疗电子等领域中的应用提供一借鉴。 相似文献
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三维多芯片组件具有高组装密度、信号延迟时间短、系统性能高等优点,对电子系统的小型化、高速化有重要意义,九十年代以来在军事、通信、计算机等领域发展迅速。本文简要介绍了几种主要的三维多芯片组件。 相似文献