ICP-AES法测定钒铁中杂质元素的研究

研究了用ICP-AES法测定钒铁中杂质元素硅、磷、锰的方法，建立了最佳工作条件。测定了元素的检出限，测定下限，进行了干扰试验、精密度试验、回收率试验，试验结果表明，本方法简便、快速、准确,分析结果令人满意。     

ICP-AES法测定金属镍中杂质元素

采用ICP -AES法测定了金属镍中 10种杂质元素 ,并对样品溶解方法 ,基体及共存元素的影响等进行了研究。基体镍的影响采用扣除背景的方法加以校正 ,主要杂质钴和铁对其他元素的测定无干扰。建立的分析方法简便、快速 ,加标回收率从Mg到Al为 86%～ 10 4% ,相对标准偏差除Cd外 ,从Mn到Si为 0.96%～ 8.70 %。     

ICP-AES法测定钼精矿中杂质元素

采用ICP-AES法同时测定了钼精矿中的杂质元素。在选定的最佳测定条件下测铜、铅、铁、钙的检出限分别为2.2、1.5、8.6、6.1μg/mL,回收率为95.9%～101.6%,相对标准偏差为1.5%～2.6%。该法准确、快速、简便,应用于钼精矿中铜、铅、铁、钙的测定,结果满意。     

ICP-AES法测定高纯金属铝中杂质元素

介绍了用ICP-AES法测定高纯金属铝中铁、锌、镁、铅、钛、镓、铜、硅8种杂质元素,采用标准加入法消除基体效应,分析方法快速准确。     

ICP-AES法测定金属硅中杂质元素

以HF挥发除去基体后,电感耦合等离子体光谱法(ICP-AES)对金属硅中Fe,Al,Ti,Ca,Cu,As,Pb等23个可能共存的杂质元素同时定量测定,并用差减法计算出基体元素硅的含量,只需一次测定即能实现金属硅样品的全分析。试验了共存元素间的干扰影响情况,优选了元素分析谱线和仪器工作参数,运用同步背景校正法、K系数法来消除共存元素间干扰和试液雾化进样的物理化学因素影响。方法简便快捷、易于操作掌握,测定回收率、精密度、检出限均取得了满意结果。     

ICP-AES法测定铝及铝合金中7种杂质元素

采用铝基体匹配技术 ,用盐酸和硝酸溶解试样 ,ICP AES法直接测定铝及铝合金中Cu ,Fe ,Mg ,Mn ,Ni,Zn和Ti 7种杂质元素。对盐酸的浓度、铝基体的影响进行了讨论。当样品溶液中铝的含量为 2.5mg/mL时 ,其测定范围为 2 0～ 64 0 0μg/g。回收率为 95.0 %～ 10 6% ,相对标准偏差小于 2.2 %。     

电感耦合等离子体原子发射光谱法测定工业硅中8种杂质元素

采用电感耦合等离子体原子发射光谱仪的耐氢氟酸惰性进样系统,在样品用氢氟酸、硝酸、高氯酸溶解完全后无需赶尽氢氟酸和硅基体,直接进样,电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定了工业硅粉中铁、铝、钙、钛、锰、镍、硼和磷8种杂质元素。因为在溶样过程中大部分基体硅已挥发除去,基体效应对铁、铝、钙、钛、锰、镍的测定没有影响,但是对硼和磷的测定仍有影响,这种影响可以采用垂直观测方式克服。按照空白值的3倍标准偏差计算方法的检测限,得到铁、铝、钙、钛、锰、镍、硼和磷的检测限（w/%）分别为0.004,0.001,0.004,0.001,0.000 1,0.000 1,0.000 04和0.000 06。方法已用于工业硅中上述8种杂质元素的测定,测定值与标准方法（GB/T 14849.4—2008）的测定值或认定值相符。     

ICP-AES法测定锡锭中杂质

研究了用ICP-AES法测定锡锭中杂质As,Sb,Ca等23个元素,除As,Sb因样品处理损失使回收率仅为68%,223%外,其余21个元素回收率均在945%～109%之间,方法准确、快速。     

ICP-AES法测定氰化镀银液中杂质元素

研究了以HCl沉淀分离银 ,用ICP -AES法同时测定氰化镀银液样品中Cu ,Fe ,Pb ,Ni,Zn ,Sb的新方法。对影响测定的各种因素进行了较为详细研究 ,确定了实验的最佳测定条件。结果表明 ,方法的检出限为 0.0 0 3～ 0.0 2 5 μg/mL ,回收率为 92.3 %～ 10 4.8% ,RSD小于 3 .44 %。方法准确、快速、简便 ,应用于氰化镀银液中杂质元素的测定 ,结果满意。     

ICP-AES法测定铝硅合金中杂质元素

用ICP AES法直接测定铝硅合金中Cr,Cd,Sn,Ba,Mn,Fe,Zn,Ti,Cu,Co,Ni,Mg诸杂质元素。研究了溶剂、试样中硅、铝基体、载气流量和溶液酸度对测定结果的影响。选择合适的分析线,优化了测定条件。方法回收率在96%～104%之间,相对标准偏差均小于5%。     

ICP-AES测定钒氮合金中杂质元素

研究了用ICP -AES测定钒氮合金中杂质元素硅、锰、磷、铬、镍、铜、铝的方法 ,建立了最佳工作条件。试样用硝酸、盐酸和高氯酸溶解 ,应用谱线干扰校正技术和基体匹配办法消除干扰元素影响 ,克服了繁琐的样品预处理过程。方法用于钒氮合金中 7个微量元素的测定 ,相对标准偏差为 0.44 %～ 1.79% ,标准加入回收率为 93.6%～ 109.7%。     

ICP-AES法测定铱化合物中杂质成分

对铱化合物中的常见微量杂质Al,Ba,Au,Pd,Pt,Ru,Rh进行了分析研究。利用ICP-AES仪器的优异性能,通过对基体效应、光谱干扰、酸度影响、等离子体测定条件等方面的考察,确定了在铱基体中共存微量离子的检测条件。各离子的检出限分别为:Pt0.39μg/mL,Pd0.03μg/mL,Al0.051μg/mL,Ba0.0027μg/mL,Au0.025μg/mL,Ru0.045μg/mL,Rh0.13μg/mL。各金属离子回收率:95%～102%。相对标准偏差RSD均小于10%。本文所建立的方法,准     

ICP-AES法测定金属硅中磷的研究

用ICP-AES法测定金属硅中磷,确定了试验的最佳测定条件。在选定的最佳条件下测磷的检出限为0.02μg/mL,回收率为97.4%～102.7%,RSD为1.27%～2.36%。方法准确、快速、简便,应用于金属硅中磷的测定,结果满意。     

乙酸乙酯萃取-ICP—AES测定高纯金中的痕量杂质

研究并建立了在同一体系中经溶剂萃取后用电感耦合等离子体发射光谱测定高纯金中31种杂质元素的方法.仪器检测限为0.0005～0.079 8μg/mL,方法检测限为0.2～1.0μg/g,加入标准物质回收率为84%～114%,分析精密度为1.93%～6.61%.     

ICP-AES法测定高纯阴极铜中杂质元素

研究了EDTA存在下 ,氯化钠 -二乙基二硫代氨基甲酸钠 -丙醇体系萃取分离铜 ,用ICP AES法同时测定高纯阴极铜样品中Pb ,Fe ,Bi,Sb ,As ,Sn ,Ni,Zn ,P ,S ,Ag ,Se ,Te ,Si,Mn ,Cr的新方法。方法的检出限为 0.0 0 3～ 0.0 2 8μg/mL ,回收率为 94.5 %～ 10 7.2 % ,RSD小于 4.7%。该法准确、快速、简便 ,应用于阴极铜中杂质元素的测定 ,结果满意