用拉曼散射谱与远红外反射谱研究GaxIn1-xAsySb1-y四元混晶的长波光学声子

报道了MBE外延生长的GaxIn1-xAs ySb1-y四元混晶的拉曼散射谱与远红外反射谱,并从拉曼散射谱中观察到了G axIn1-xAsySb1-y四元混晶的晶格振动四模行为;从实验中还观察到低于180cm-1的若干散射峰,提出它们可能是与次近邻原子间相互作用的晶格振动模式有关;从拉曼散射谱和红外反射谱中观察到了与GaxIn1-xAs ySb1-y四元混晶多声子吸收过程的有关的现象.     

用拉曼散射谱与远红外反射谱研究GaxIn1—xAsySb1—y四元混晶的长波光学声子

报道了MBE外延生长的GaxIn1-xAsySb1-y四元混晶的拉曼散射谱与远红外反射谱,并从拉曼散射谱中观察到了GaxIn1-xAsySb1-y四元混晶的晶格振动四模行为;从实验中还观察到低于180cm^-1的若干散射峰,提出它们可能是与次近邻原子间相互作用的晶格振动模式有关;从们曼散射谱和红外反射谱中观察到了与GaxIn1-xAsySb1-y四元混晶多声子吸收过程的有关的现象。     

生长Ga_xAl_yIn_(1-x-y)N的准热力学模型

提出一个以 TMGa、TMAl、TMIn和 NH3为源 ,用 MOVPE方法生长 Gax Aly In1 - x- y N四元合金的准热力学模型 .该模型假设四元合金是由氨和 族元素之间反应合成的 ,其特点是考虑了 NH3的分解效率 ,并用 N、H、Ga、 Al及 In的摩尔分数代替惯用的分压来表示质量守衡方程 .计算了各种生长条件对于与 Ga N晶格匹配的Gax Aly In1 - x - y N四元合金与注入反应室的 族金属有机化合物之间关系的影响 .计算表明 ,几乎所有达到生长表面的 Al和 Ga都并入到 Gax Aly In1 - x - y N四元合金中 ,而 In则富集在气相 .为增强铟的并入 ,应采用低的生长温度     

GaP_(1-x)N_x混晶的光致发光谱

通过Ga P1 - x Nx( x=0 .0 5 %～3.1%)混晶的低温光致发光( PL )谱,探讨了N在不同组分Ga Nx P1 - x混晶的发光特性中所起的作用.在低组分( x =0 .0 5 %～0 .81%)下,Ga Nx P1 - x的PL谱由NNi 对及其声子伴线的发光组成;在高组分( x≥1.3%)下,NNi 对之间相互作用形成的与N有关的杂质带导致了Ga Nx P1 - x混晶的带隙降低.同时,在x=0 .12 %的Ga Nx P1 - x中,得到了清晰的NN3 零声子线及其声子伴线,从而直接证实了NN3具有与孤立N中心完全相似的声子伴线.     

GaP_(1-x)N_x混晶的喇曼散射谱

在室温下测试了Ga P1 - x Nx(x=0 .0 5 %～3.1% )混晶的喇曼散射谱.在一级喇曼散射谱中观测到了Ga P的L O(Γ)模和强度较弱的禁戒TO(Γ)模以及N的局域模(495 cm- 3) .在N组分较高的一组样品(x=1.3%～3.1% )中,还观察到了位于Ga P的L O(Γ)模和TO(Γ)模之间的由N导致的L O(N)模的喇曼频移(387cm- 1 ) ,其强度随着N浓度的增加而增强.在二级喇曼散射谱中,除了观测到布里渊区中心的声子散射峰2 L O(Γ)外,还观测到了布里渊区边界的声子散射峰2 L O(L )、2 TO(X)以及L O(L ) +TO(X) .且边界散射峰的强度比中心散射峰更强.另外在组分x=0 .6 %和x=0 .81%的样品     

Ga_(1-x)Al_xP混晶的长波长光学声子谱

本文报道Ga_(1-x)Al_xP混晶的室温喇曼散射测试结果。所用的样品用液相外延方法生长在〈111〉晶向的GaP衬底上。混晶组分x值在0.16—0.65之间。实验结果表明,Ga_(1-x)Al_xP混晶的长波长光学声子谱呈现双模行为,具有类GaP和类AIP两个光学支。     

Cd_(1-x)Zn_xTe(x=0.04)表面处理的低温拉曼散射和电学特性研究

测量了几种不同处理的 Cd1 - x Znx Te(x=0 .0 4)表面的傅里叶变换拉曼散射光谱和电流 -电压 (I- V)特性 .通过分析拉曼光谱反 Stokes分量 ,并与表面 I- V特性进行比较 ,结果表明与表面处理相联系的晶格声子的行为反映了表面完整性的变化 ,Te沉淀是影响表面质量的关键因素 ,并对有关表面处理方法的实际应用进行了讨论 .     

GaAlAs混晶余辉带红外反射谱的分析研究

Ga_(1-x)Al_xAs三元混晶的晶格振动具有“双模”行为,此类混晶的长波光学模有类GaAs和类AlAs两支,用Chang和Mitra的“等位移模型”可对某些混晶中晶格振动频率随组份x的变化作出较好的解释。一些作者对该模型中坐标和宏观参数的选择提出了不同的修正。由于样品制备条件的不同,已发表的实验数据存在一些偏离。我们研究了GaAlAs厚外延层的中红外反射谱(200～600 cm~(-1)),按照阻尼振子模型,从相加形式的复介电函数出     

GaP1-xNx混晶的喇曼散射谱

在室温下测试了GaP1-xNx(x=0.05%～3.1%)混晶的喇曼散射谱.在一级喇曼散射谱中观测到了GaP的LO(Γ)模和强度较弱的禁戒TO(Γ)模以及N的局域模(495cm-3).在N组分较高的一组样品(x=1.3%～3.1%)中,还观察到了位于GaP的LO(Γ)模和TO(Γ)模之间的由N导致的LO(N)模的喇曼频移(387cm-1),其强度随着N浓度的增加而增强.在二级喇曼散射谱中,除了观测到布里渊区中心的声子散射峰2LO(Γ)外,还观测到了布里渊区边界的声子散射峰2LO(L)、2TO(X)以及LO(L)+TO(X).且边界散射峰的强度比中心散射峰更强.另外在组分x=0.6%和x=0.81%的样品中,还得到了诸如来自不同NNi对或N原子簇团的局域模和由N导致的新的散射峰.     

GaP1-xNx混晶的光致发光谱

通过GaP1-xNx(x=0.05%～3.1%)混晶的低温光致发光(PL)谱,探讨了N在不同组分GaNxP1-x混晶的发光特性中所起的作用.在低组分(x=0.05%～0.81%)下,GaNxP1-x的PL谱由NNi对及其声子伴线的发光组成;在高组分(x≥1.3%)下,NNi对之间相互作用形成的与N有关的杂质带导致了GaNxP1-x混晶的带隙降低.同时,在x=0.12%的GaNxP1-x中,得到了清晰的NN3零声子线及其声子伴线,从而直接证实了NN3具有与孤立N中心完全相似的声子伴线.     

Raman测量Ge／Si多层膜中Ge晶粒尺寸的理论研究

研究了用磁控溅射方法制备的Gex/Si1-x多层膜的Ge拉曼光谱，在分析了多层膜中Ge微晶的分布和采用微晶壳层 结构假设的条件下，考虑了微晶表面效应的影响，用声子限域模型计算了Ge纳米晶粒的拉曼谱线，拉曼拟合谱线为三条理论谱线的叠加。计算结果表明：在考虑了微晶的表面效应后，拟合结果与实验结果符合得很好。     

碲镉汞体材料的显微Raman光谱

利用Raman显微镜测量了ACRT-Bridgman方法和Te溶剂方法生长的碲镉汞体材料的显微Raman光谱，在碲镉汞体材料的显微Raman光谱中识别出了碲镉汞的基本光学振动模，由此证明了碲镉汞按晶格振动的分类方法属于二模混晶；识别出了一个来源于类HgTe的TO1模 LO1模的二级Raman散射峰；观察到了碲镉汞体材料中两个新的Raman散射峰，分别位于662cm^-1和749cm^-1；观察到了碲镉汞基本光学振动模的TO1模与LO1模的Raman散射强度比的变化，指出该现象是由于Raman散射几何配置不同引起的。     

Raman Scattering in GaxIn1-xP and (AlxGa1-x)0.51In0.49P Alloys

Raman scattering spectroscopy is applied to investigate the phonon modes in GaxIn1-xP (x=0.52) and (AlxGa1-x)0.51In0.49P (x=0.29) alloys. Two-mode behavior in GaxIn1-xP and three-mode behavior in (AlxGa1-x)0.51In0.49P are observed. In ordered GaxIn1-xP, we clearly distinguish the TO1(GaP-like) mode and the splitting of LO1(GaP-like) and LO2 (InP-like) modes, which is believed to be the result of superlattice effect of ordering, and the LO1 LO2 mode, which is observed for the first time. In addition to the b/a ratio, it‘s found that the relative intensity of the FLA and the LO1 LO2 modes also corresponds to the degree of order. The TO1 and the splitting of LO1 and LO2 devote together to the reduction of the “valley depth“. In (AlxGa1-x)0.51In0.49P, the doubling of FLA is observed. Due to the influence of Al composition, the GaP-like LO mode becomes a shoulder of the InP-like LO mode. The unresolved Raman spectra indicate the existence of ordered structure in (AlxGa1-x)0.51In0.49P alloys.     

Double heterojunction bipolar transistor in Al/sub x/Ga/sub 1-x/As/GaAs/sub 1-y/Sb/sub y/ system

Double heterojunction bipolar transistors based on the Al/sub x/Ga/sub 1-x/As/GaAs/sub 1-y/Sb/sub y/ system are examined. The base layer consists of narrow band gap GaAs/sub 1-y/Sb/sub y/ and the emitter and collector consist of wider band gap Al/sub x/Ga/sub 1-x/As. Preliminary experimental results show that AlGaAs/GaAsSb/GaAs DHBTs exhibit a current gain of five and a maximum collector current density of 5*10/sup 4/ A/cm/sup 2/.<>     

(Al x Ga 1- x ) y In 1- y P Films and Its Optical Constants on the Surface

１ＩｎｔｒｏｄｕｃｔｉｏｎＴｈｅｑｕａｒｔｅｒｎａｒｙｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒＡｌＧａＩｎＰ,ｗｈｉｃｈａｒｅｍａｔｃｈｅｄｗｉｔｈｔｈｅＧａＡｓｌａｔｉｃｅ,ｈａｓｔｈｅｗｉｄｅｓｔｄｉｒｅｃｔｂａｎｄｇａｐ．Ｉｔｓｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅｉｓｒ...     

MBEGaAs1—xSbx的喇曼光谱

在比较宽的组份范围内首次报道了MBE GaAs_(1-x)Sb_x混晶的喇曼光谱。发现声子频移强烈地依赖于Sb的组份x,而光学声子的双模行为仅仅在x>0.15时才发现,用远红外傅里叶光谱已证实这一结果。类GaAs LO模的线形分析表明本文的GaAs_(1-x)Sb_x质量较好。用质量缺陷模型和渗流理论讨论实验结果,用团聚效应解释x>0.15时声子的双模行为并估算了平均团聚尺寸。理论与实验结果符合得很好。     

Hg1—xCdxTe的远红外透射光谱与晶格振动

采用傅里叶变换红外光谱仪，在４．２～３００Ｋ、２０～３５０ｃｍ－１范围测量了Ｈｇ１－ｘＣｄｘＴｅ的远红外透射光谱，研究了剩余射线吸收带两侧样品的吸收行为．除了单声子及双声子模外，还观察到杂质能级和由杂质导致的振动模     

In_xGa_（1－x）As／Al_yGa（1－y）As多量子阱的高压光致发光研究

用金刚石对顶砧压力装置在液氮温度下和０～４ＧＰａ的压力范围内测量了不同阱宽（１．７～１１．０ｎｍ）的ＩｎｘＧａ（１－ｘ）Ａｓ／Ａｌ（１－ｙ）Ｇａ（１－ｙ）Ａｓ（ｘ，ｙ＝０．１５，０；０．１５，０．３３；０，０．３３）多量子阱的静压光致发光谱，发现在Ｉｎ０．１５Ｇａ０．８５Ａｓ／ＧａＡｓ多量子阱中导带第一子带到重空穴第一子带间激子跃迁产生的光致发光峰能量的压力系数随阱宽的增加而减小，在Ｉｎ０．１５Ｇａ０．８５Ａｓ／Ａｌ０．３３Ｇａ０．６７Ａｓ和ＧａＡｓ／Ａｌ０．３３Ｇａ０．６７Ａｓ多量子阱中相应发光峰的压力系数随附宽的增加而增加．根据Ｋｒｏｎｉｙ－Ｐｅｎｎｅｙ模型计算了发光峰能量的压力系数随阱宽的变化关系，结果表明导带不连续性随压力的增加（减小）及电子有效质量随压力的增加是压力系数随阱宽增加而减小（增加）的主要原因．     

调制掺杂AlGaN/GaN异质结上的Pt肖特基接触

研究了调制掺杂 Alx Ga1 - x N/Ga N表面 Pt肖特基接触的制备工艺 ,并对其进行了 I-V测量。通过改变对样品表面的处理工艺 ,研究了表面处理对调制掺杂 Alx Ga1 - x N/Ga N表面 Pt肖特基结接触特性的影响 ,在 n型掺杂浓度为 7.5× 1 0 1 7cm- 3的 Al0 .2 2 Ga0 .78N样品表面 ,制备得到了势垒高度为 0 .94e V、理想因子为 1 .4的 Pt肖特基接触。这与国外报道的结果接近 (=1 .2 e V,n=1 .1 1 [1 ] )