ODN中光纤的宏弯损耗对ONU弱光的影响

通过对ONU弱光的ODN链路衰耗进行分析,发现ODN链路的下行衰耗严重超标的现象,在用OTDR进行故障定位、并测试光纤在相应波长的宏弯损耗后,得出光纤的宏弯损耗是导致ODN链路下行衰耗超标的原因;进一步对ODN链路的入户段光缆进行衰耗测试,从而验证了宏弯损耗是引起ONU弱光的主要原因。     

单模光纤宏弯损耗性能的试验研究

研究了两种光纤(SMF28和1060XP)在波长1310nm处、弯曲半径5~15mm范围内的宏弯损耗性能。观察到了两种光纤宏弯损耗整体都随着弯曲半径增大而减小,并伴有振荡现象,其中1060XP光纤对宏弯损耗更敏感。用耦合模理论解释了WGM(whispering-gallery mode)对光纤宏弯损耗振荡的影响。测量了1060XP光纤涂覆层黑化后的宏弯损耗,结果表明:将光纤涂覆层烤黑能够减轻光纤宏弯损耗振荡。     

光纤宏弯损耗性能影响因素的仿真研究

为了优选宏弯损耗敏感光纤,研发基于光纤宏弯损耗的光学器件,对影响单模光纤宏弯损耗的主要因素进行了理论分析和仿真研究。基于D.Marcuse和H.Renner提出的光纤宏弯损耗理论模型,选取SMF28、SMF28e和1060XP三种单模光纤,仿真研究了涂覆层、弯曲半径、光源波长、MAC值和弯曲圈数对光纤宏弯损耗性能的影响。结果表明:无涂覆层、带吸收层的单模光纤宏弯损耗随着波长增长而增大、随着弯曲半径增大而减小、随着圈数增多而增大、随着MAC值增大而增大;光纤的丙烯酸酯类涂覆层会引起宏弯损耗随弯曲半径变化发生振荡;MAC值是衡量光纤宏弯损耗敏感性能的指标,也是优选宏弯损耗敏感光纤的重要参数。因此,光纤宏弯损耗器件适合选用MAC值大的光纤,去除其涂覆层,增加吸收层,然后选择较长的波长、较小的弯曲半径和适当多的弯曲圈数。     

光纤宏弯传感器研究进展

从光纤宏弯曲损耗和微弯曲损耗的基本原理出发,介绍了光纤宏弯传感系统的构成和原理,对光纤宏弯传感器的研究现状进行了详细论述,分析了研究中存在的问题,提出了一种基于光纤宏弯传感的智能结构.     

NGB入户光纤性能的研究

结合工程实际可知,用于NGB(下一代广播电视网)实现FTTH的入户光纤须具有较小宏弯损耗,提出传统单模光纤宏弯损耗的物理模型与经验模型,在此基础上,针对B6.B类光纤(弯曲不敏感光纤)与传统单模光纤的宏弯损耗特性进行了对比,前者更适于作为NGB未来的入户光纤。     

温度修正的单模光纤宏弯损耗特性理论分析

为了研究单模光纤宏弯损耗特性与温度变化的关系,文章根据Faustini L提出的理论公式进行了热光效应和热膨胀效应修正,基于该公式对温度影响下的纤芯—包层—无限涂覆层结构SMF28和1060 XP单模光纤宏弯损耗分别进行了仿真分析,探究了温度、波长和弯曲半径等因素对单模光纤宏弯损耗特性的影响,并得到两种单模光纤与温度之...     

光缆连接时光纤弯曲损耗的研究及其解决方法

本文简略地介绍了在光缆连接施工时,由于连接部位的光纤弯曲的生产的弯曲损耗的情况;分析了引起光纤弯曲损耗的原因和影响的主要因素;对实用光缆进行弯曲损耗的测量;并对原来光缆接头结构提出改进方法,尽量消除光缆连接部位由光纤弯曲而造成的附加损耗。     

如何做好光缆施工

光纤主要由纯净的石英制成,它的主要指标是损耗,在正常情况下架空光缆寿命可达30~40年。架设光缆时光纤受到压力可能会影响光纤的寿命,光缆盘绕半径太小会使光纤断裂或增加损耗,水气会使涂敷层受到影响,可导致损耗增大和寿命缩短。光纤本身的温度系数很小,但温度下降到一定程度     

光缆工程施工中应注意的几个问题

光纤主要是由极纯净的石英制成,它的主要指标是损耗。在正常情况下,架空光缆寿命可达30～40年。若光缆在架设时光纤受到压力,则可能会影响到光纤的寿命。如光缆盘绕半径太小,会使光纤断裂或增加损耗。光纤如有水汽,会使涂敷层受到影响,直接导致损耗增大和寿命缩短。所以应在光缆中填充油膏,注     

小弯曲半径下光纤宏弯损耗测试的拟合方法研究

本文分析了在小弯曲半径下提高光纤的测试准确性的拟合方法,通过研究光纤弯曲形态探索影响光纤宏弯损耗的各种因素。与此同时,本文对不同的拟合方法进行对比,在一定程度上保证了光纤宏弯损耗测试的拟合方法的有效性以及合理性,同时选择出了在小弯曲半径下光纤宏观损耗测试的最佳拟合方法。     

弯曲损耗不敏感光纤的国际标准及宏弯损耗测试

详细介绍了ITU-T和IEC有关弯曲损耗不敏感光纤标准的最新进展情况以及弯曲损耗不敏感光纤宏弯损耗的测试方法。     

制导光纤弯曲损耗研究

分析了制导光纤在缠绕状态下产生附加损耗的因素,建立一套解析模型,用来分析在精密缠绕过程中固有的交绕区的微弯损耗,并且将其结果与试验数据进行了比较.低温条件下,附加的光损耗主要来自于:(1)低温条件下的由于包层材料的杨氏模量的增大,使得交绕区微弯增大;(2)由于缠绕张力的增大使径向压力增加.对交绕区微弯建立起来的模型还可以用来预测在一定张力条件下缠绕的光纤损耗的趋势.针对实际的制导光纤,给出了实测的光纤弯曲损耗曲线和低温条件下的附加损耗数据,结论说明在适当的条件下,制导光纤的弯曲附加损耗和低温条件下附加损耗是能够满足制导系统的实际要求的.     

海底光缆用色散均衡光纤

介绍了一种带正色散的单模光纤,用来均衡常用于海底光缆中的非零色散位移光纤的负色散。这种光纤类似于常规单模光纤（Ｇ．６５２光纤）,但具有较低的衰减和较小的宏弯损耗。由于这种光纤应用常规的掺锗纤芯和纯ＳｉＯ２包层,与目前常用的纯ＳｉＯ２纤芯和掺氟包层的色散均衡光纤相比,在成本上具有较大的优越性。     

单模光纤随机微弯的统计特性及附加损耗

单模光纤在加套和成缆后,由于中心轴随机微弯和边界变形,这两种原因所引起的光纤附加损耗是无法分别量测的。因此单纯地将微弯附加损耗的理论计算结果与测量总附加损耗的统计数据进行比较,是不够精确的。本文在计算随机微弯的附加损耗时,引入了边界随机变形的影响,得出微弯曲率函数为指数型的,并给出相应的附加损耗计算公式。计算结果与文献[7]中测量统计数据吻合,表明本文研究微弯统计特性的结论有较明显的改进。     

一种适台FTTH应用的全石英光纤

本文分析了FTTH应用环境对光纤的新要求,包括宏弯损耗、微弯损耗、扭曲损耗等因素,介绍了一款适合FTTH应用的新型光纤BendBrigh^xs,它同时满足ITU—TG．657A、G．657B及G．652D标准。     

DS3620光时域反射分析仪（OTDR）

产品概述 DS3620光时域反射分析仪（OTDR）是最新推出的高性能微型光时域反射分析仪，能显示光纤及光缆的损耗分布曲线，测量光纤及光缆衰减系数、两点间损耗和接头损耗、反射损耗，测量光纤及光缆长度、两点间距离，确定光纤及光缆连接点、故障点和断点的位置。坚固耐用、体积小、操作方便，能适用于野外作业，广泛应用于光纤光缆生产、施工和维护中的光纤损耗特性测量以及光纤故障的定位。     

如何降低光纤熔接损耗

1前言 光缆接续是光缆施工中工程大和技术要求复杂的一道工序，其质量好坏直接影响线路的传输质量和寿命。努力降低光纤接头处的熔接损耗，就可增加光纤中继放大传输距离或增加光缆富余度，因而降低光纤的熔接损耗具有重要的实际意义。     

单模光纤二次被覆和成缆的研究

我们开展了单模光纤二次被覆和成缆工艺的研究,用国产单模光纤试制了我国第一根六芯单模光缆。光缆长度为1km,在1.30和1.55 μm处的平均损耗分别为0.67和0.44dB/km,最小损耗分别为0.51和0.32 dB/km。由二次被覆和成缆引起的附加损耗相当小。     

光纤熔接机加热器对熔接损耗的影响及解决

对于光纤熔接损耗,目前多认为其取决于被熔光纤特性、熔接操作技艺以及熔接机的熔接性能,而忽视了加热器对熔接损耗的影响;因此,本文基于光缆工程建设中所发现的障碍现象,来剖析加热器附加于光纤熔接损耗的形成机理,并提出解决措施.     

产品推介

DS3620光时域反射分析仪(OTDR)产品概述DS3620光时域反射分析仪(OTDR)是最新推出的高性能微型光时域反射分析仪,能显示光纤及光缆的损耗分布曲线,测量光纤及光缆衰减系数、两点间损耗和接头损耗、反射损耗,测量光纤及光缆长度、两点间距离,