磁学工程武器装备试验质量管理与可靠性探讨

就磁学工程武器装备可靠性工作对装备试验鉴定的影响问题从可靠性与质量风险的观点对试验质量管理进行了初步探讨,描述了二者之间的相互关系,强调了试验管理PDCA程序以及试验可能出现差错的六个方面,阐述了可靠性试验的基本内容。最后特别强调了磁学工程武器装备可靠性对国家及国防建设的影响。     

对具有内建可靠性的16M位贮存器芯片可靠性的评价

为了测试芯片的纠错电路在提高贮存器芯片可靠性方面的能力，我们已在加速条件下，对具有高缺陷的１６Ｍ贮存器芯片进行了应力试验，确定了生产性分选（或筛选）的成品率与可靠性之间的折衷方案，对于深沟电容器工艺在抗软差错方面的耐受能力，也在加速条件下，与纠错电路一起进行了评价。     

基于容斥原理与不交和公式的一个计算网络可靠性方法

这篇文章考虑了网络从源点ｓ到某些特定终点Ｋ的ＳＫＴ可靠性问题，文章基于容斥原理和不交和公式提出的一个新的拓扑公式，它比相应的Ｓａｔｙａｎａｒａｙａｎｎａ公式含有更少的项和算术运算，在此公式基础上，提出一个计算网络ＳＫＴ可靠性算法，它改进了相应的Ｓａｔｙａｎａｒａｙｍａｎｎａ算法，能产生更紧的可靠性表达式。     

1%=100%国外杰出企业产品优良率的公式

在杜邦公司的高层决策和经营人员中，流传着一个公式：1％＝100％。这一看似荒谬的公式，却真实地道出了产品质量实现目标上的一个严峻话题，展示了谁也无法回避的真理：即如果企业的100只产品中，有99只优良，只有1只有差错，只能算一等品。那么，在买到这1只有差错产品的消费者的，C目中，你的产品质量就不高，经过他们的宣传，就会有更多的人认为你的所有产品都有问题。为此，杜邦公司对产品质量实现目标又进行了升级，80年代后，提出实现零差错的目标，要求以消灭不良品（在杜邦的质量等级上，一等品是列为不良品的）为原则，使所有的…     

基于LVDS的高可靠性数据传输设计

针对高速长线数据传输中可靠性低的问题,提出了一种均衡可靠性和高速传输的设计.设计中以LVDS作为传输高速接口,FPGA作为逻辑控制芯片,在硬件电路上加入均衡电路和软件程序上采用正反差错编码方式两方面提高传输可靠性.对总体设计方案和各电路模块进行了详细介绍和分析,以及对程序的实现进行了描述.最后给出了设计的试验结果,验证了本设计的传输可靠性.     

高性能差错控制编码的硬件设计与实现

为提高航天测控通信系统中数据传输的可靠性、确保终端接收数据的正确性,需对被传输的测控数据进行高速差错编码。基于循环冗余校验编码,在硬件电路中设计并实现了一种简单高效的差错编码方式。首先将被传输的数据按照一定字节进行分帧,每帧数据加入特定的帧头,每帧数据按字节进行八比特差错编码,差错编码按照查表方式进行。对每帧数据的差错编码值再进行一比特纠错编码。实验仿真结果表明所设计的差错编码具有性能高、硬件资源消耗低和编码速度快等特点,适合于高速大容量数据可靠性传输。     

有线数字电视讲座第六讲 CADTV系统的测试(中)

(上接第13期) 5 BER 通信系统的有效性和可靠性通常是衡量通信系统优劣程度的重要指标.对于数字通信系统来说,从信号传输角度看,有效性主要是指传输速率,即比特率和波特率;可靠性主要是指传输的差错概率(俗称BER),即比特差错率和码元差错率.差错概率越小,可靠性越高.     

多层UV-LIGA惯性开关温度可靠性评估研究

为了评估采用UV-LIGA技术制作的多层MEMS惯性开关的温度可靠性,进行了可靠性强化试验。介绍了开关的结构特征、工作原理和制作工艺。建立了试验系统,对开关进行温度循环和振动冲击试验。利用扫描电子显微镜观察开关失效模式,并利用公式进行热应力分析。试验结果表明,开关主要失效模式为位错和分层。开关热应力分析结果表明,种子层为开关薄弱位置。结合可靠性强化实验和热应力分析结果,从结构设计和制作工艺角度提出了可靠性强化方法。该研究为应用于极限温度环境下的多层UV-LIGA惯性器件的设计与制作提供了试验依据。     

混合DS—SFH扩频多址室内无线数字通信性能分析

本文讨论了ＤＳ－ＳＦＨ扩频多址室内无线通信系统在瑞利多径衰落信道中的平均差错概率和多址容量。基于多径干扰，多址干扰和信道噪声的机理分析，推导了计算平均差错概率的有效近似公式。理论分析数值模拟指出：混合系统的ＤＳ部分具有良好的多址容量并提供抗来自指定用户的多径干扰能力，混合系统的ＦＨ部分则具有来自非指定用户的多址和多径干扰能力。     

可靠性基础、质量管理与控制

9914765基于软件差错相关的可靠性增长模型[刊]/赵玮//西安电子科技大学学报.—1999,26(3).—286～289,296(D)通过考虑软件中差错的相关性,讨论了一种基于NHPP 的新的软件可靠性增长模型,并以 MLLF、AIC和均方误差为准则,将该模型与普通 S 型可靠性增长模型和延迟 S 型可靠性增长模型做了比较,得出了较为满意的结果。参8     

单差错校正／双差错检测码的全自检校正／检测电路的设计

本文描述用单差错校正,双差错检测(SEC/DED)码的全自检(TSC)差错校正/检测(C/D)电路的一种新的设计技术。在正常输入条件下这些电路的结构可以同时实现对出错的检测和定位。提供分离的内部出错(IF)指示。由于在输入差错出现之前,就检测到容错系统出错并作了修正,这就改进了容错系统的可靠性,可维修性和有效度。上述差错 C/D 电路是由 STC 差错检测器,差错定位器和差错校正器组成的。这些电路是双路 TSC 校验器,它是用代数方法设计的。     

混合DS－SFH扩频多址室内无线数字通信性能分析

本文讨论了ＤＳ－ＳＦＨ扩频多址室内无线通信系统在瑞利多径衰落信道中的平均差错概率和多址容量。基于多径干扰、多址干扰和信道噪声的机理分析，推导了计算平均差错概率的有效近似公式。理论分析和数值模拟指出：混合系统的ＤＳ部分具有良好的多址容量并提供抗来自指定用户的多径干扰能力，混合系统的ＦＨ部分则具有抗来自非指定用户的多址和多径干扰能力。     

电子专用设备的可靠性试验

本文概述了可靠性试验的技术基础、可靠性试验和特点和分类，提供了电子专用设备可靠性试验的一些具体计划和方案。同时对可靠性试验数据的分析，处理方法作了介绍。     

提高通信网络可靠性的方法探讨

文章通过分析得出了影响通信网络可靠性的因素,从提高节点,设备的可靠性、优化拓扑结构、使用网络保护与恢复技术、使用差错控制技术等几个方面详细介绍了提高通信网络可靠性的方法和需要注意的问题。     

电子专用设备的可靠性试验

可靠性工程最基本的内容、最重要的工作项目就是可靠性试验。本文概述了可靠性试验的技术基础、可靠性试验的特点和分类，提供了电子专用设备可靠性试验的一些具体计划和方案。同时对可靠性试验数据的分析、处理方法作了一些简要的介绍。     

浅谈电子产品的可靠性试验

本文根据电子产品的可靠性特点，介绍了电子产品可靠性试验的几个技术性能指标，详细讨论了可靠性试验的分类原则、试验内容以及试验方法，说明了可靠性试验是提高产品可靠性的有效措施。     

军用通信产品的环境试验与可靠性试验

以GJB450《装备研制与生产的可靠性通用大纲》以及GJB367．2《军用通信设备通用技术条件环境试验方法》、GJB367.3《军用通信设备通用技术条件可靠性鉴定试验和验收试验方法》为根据，结合产品研制、生产实际，阐述了对环境试验与可靠性试验的认识，并针对如何提高产品可靠性，分析了环境试验与可靠性试验的相互关系。     

彩电可靠性试验中若干问题探讨

本文详细的介绍了常用的彩色电视机的可靠性试验方法。作者经过长期电视机可靠性试验实践，在试验条件和方法方面，提出了一些有较高实用价值的看法，供从事可靠性试验有关人员参考。     

一种高效的门级电路可靠度估算方法

随着半导体技术的不断发展,芯片的集成度越来越高,软差错已经成为影响电路可靠性的关键因素之一.为了有效评估软差错对电路的影响,该文提出一种基于信号取值概率的门级电路可靠度估算方法.首先计算电路所有节点在软差错影响下的取值概率,然后用故障模拟分析电路整体可靠性.通过对基准电路的实验并与概率转移矩阵方法进行比较,该方法在不损失准确度的前提下,在时间与空间开销方面都具有优势,尤其适合估算特定向量和随机向量激励下电路的可靠度.     

军用通信产品的环境试验与可靠性试验

以ＧＪＢ４５０《装备研制与生产的可靠性通用大纲》以及ＧＪＢ３６７．２《军用通信设备通用技术条件环境试验方法》、ＧＪＢ３６７．３《军用通信设备用技术条件可靠性鉴定试验和验收试验方法》为根据，结合产品的研制、生产实际，阐述了对环境试验与可靠性试验的认识，并针对如何提高产品可靠性，分析了环境试验与可靠性试验的相互关系。