频率选择性透波吸波电磁结构

提出的频率选择性透波吸波(FSTA)复合结构,是一种在保证天线正常工作性能的前提下,实现对带外电磁波吸收的新技术。该技术具有隐身频带宽,自身结构强度强,电子设备电磁兼容特性高等优势。分析了一些典型频率选择表面(FSS)单元的等效电路模型,推导出了FSTA 复合材料的等效电路模型,实现了对新型结构的快速定性分析,并得到结构中各参数对结构性能的作用规律。通过仿真优化实现了低频透波高频吸波(LTHA)型电磁结构的设计。     

热障涂层厚度激光透射法红外热波检测技术研究

在传热学的基础上建立涂层试样的一维热传导模型,确立了涂层厚度与表面温度差值-帧数直线的斜率、截距以及涂层热扩散率之间的定量关系。以不同厚度的热障涂层试样为例,采用新型脉冲激光透射法激励,对热像仪采集到的不同激励功率下涂层表面温度差值-帧数曲线线性拟合,求得拟合直线的斜率和截距值,最后计算得到热障涂层厚度值,结果表明:激光透射法红外热波检测技术能很好地应用于热障涂层厚度的快速、精确、非接触检测。     

一种壁厚渐变蜂窝宽带透波结构*

采用介电常数渐变结构是一种有效实现宽带透波的方法。为实现介电常数随厚度变化,本文提出了 一种壁厚渐变六边形蜂窝结构。根据蜂窝等效介电常数的近似计算公式和介质介电常数变化分布,计算出该渐变 结构的几何参数。基于渐变线宽带匹配理论,对空气和高介电常数介质进行宽带匹配设计,从而得到介质介电常数 随厚度渐变的分布规律。为验证该设计方法的有效性,采用CST 商用仿真软件,对该结构的周期单元透波性能进行 仿真。仿真结果表明该结构在垂直入射和大入射角情况下,具有良好的宽带透波特性。通过改变芯层材料厚度可 以进一步调整宽带透波特性的起始频率。     

天线罩电厚度反射测试探头失配补偿与校准

电厚度是雷达天线罩重要的电性能参数,反射测量是天线罩制造过程中常用的电厚度检测方法,但测试探头与被测天线罩的失配反射限制了反射法的测量范围.在分析失配原理的基础上,设计了一种基于T波导结构的贴合式探头,可以利用可调衰减器和滑动短路器的简单组合,补偿消除失配反射信号.给出了调节校准方法,并通过数值仿真和实际测量,验证了设...     

透波性混杂纤维复合材料性能研究

在立足国内材料的基础上 ,研究了混杂纤维复合材料的性能。研究结果表明 ,将芳纶纤维和玻璃纤维按一定混杂比、混杂方式与力学性能、电性能优良的树脂体系制成混杂纤维复合材料 ,可作为频率选择反射器 (FSS)用的功能结构材料     

毫米波透波窗口设计技术

通过对毫米波透波窗口材料特性的研究,开展了单层、多层(3 层、5 层)透波窗口的设计,重点分析了端口匹配对窗口传输损耗和引入噪声的影响,并开展了Ka 频段透波窗口的试制和引入噪声测试试验。试验结果表明,通过多层电介质匹配设计的透波窗口,在工作频段范围内,传输损耗优于0. 2 dB,引入等效噪声温度Te≤14K,有效降低了窗口的端口反射,同时大幅拓展了匹配带宽。     

ETC试验箱中透波材料性能影响因素的研究

简述了试验箱中透波材料的工作原理及透波率。介绍了基于半电波暗室的透波性能测试系统,分析了金属边框、天线极化方向、透波材料形状等因素对透波材料性能的影响。该研究对于ETC试验箱进行透波窗口的改装具有指导性意义。     

金属桁架式透波天线罩的噪声温度

分析了充气式及多层电介质式透波天线罩的优缺点。阐述了在测控系统及射电观察系 统中采用新一代金属桁架式透波天线罩的必然性及其所具有的无线电技术特性稳定、频带宽、可靠性高 和使用方便等一系列优点。按照透波天线罩安装时天线的直接变化而试验性地评估了天线罩对天线噪 声温度的影响，给出了测量金属桁架式透波天线罩对天线噪声温度影响程度的过程、原理、方法和结果。     

采用谐振腔法研究透波材料的高温介电性能

根据H01n模可加热圆柱谐振腔磁场分量及电场分量的特性,利用谐振腔中活塞的滑动接触不损害谐振器的质量因素的谐振腔法,研究介电常数不大于200和介电损耗角正切不大于0．05的固体电介质在高温下及9-10GHz频率范围内的ε和tgδ,并对影响电介质高温介电性能测试精度的设备因素、计算方法和实验结果的应用等进行了分析与讨论．     

测量多层膜结构中薄膜厚度的一种新方法

提出一种基于平行板电容测微原理进行多层膜材料的测厚方法。该方法用有效电极直径西3mm电容传感头,通过变化空气隙△h进行多次测量,对输出电压V值进行线性拟合,得到空气隙与测量电压的关系,计算出被测厚度,测量精度达0．01μm。若采用有效电极直径西1mm传感头,测量精度可达0．001μm。通过理论分析和实验证实,该方法不需对被测材料提前标定相对介电常数,不需特殊制备样件,是非接触测量,测量方法简单、成本低。因此适用于各种薄膜、特别是多层结构膜的无损膜厚测量及平面度测量。     

压缩感知伪随机动态功率信号的电能测量方法

针对压缩感知检测方法不能准确测量伪随机动态测试信号电能量值的问题,该文首先分析了动态测试信号的频域稀疏性,证明动态测试信号满足压缩感知检测的条件;然后采用系统稳态优化的方法,构造了一种确定型压缩感知测量矩阵,证明其符合限制等距特性(RIP)条件,最后提出了一种新型压缩感知动态测试信号电能量的测量方法。实验结果表明：该文压缩感知测量方法的理论相对误差优于传统的采样功率电能测量方法,能够实现m序列动态测试信号的电能量值准确测量。     

一种测量天线罩微波电厚度的简便方法

提出了一种天线罩电厚度检测的新方法-微波反射式电厚度测量,给出了该方法的基本原理以及相应的测量系统。与通常天线罩壁电厚度的双探头插入相移测量方法相比,采用单探头测量天线罩壁复反射系数,通过复反射系数相位的变化了解天线罩壁电厚度的相对变化,大大简化了设备,降低了测量时对探头机械定位精度的要求,使测量过程简单易行。由于采用单探头,该方法还可测量双探头无法测量的复杂天线罩顶部位。     

一种基于介质填充的天线罩电厚度反射测试波导探头

电厚度是雷达天线罩重要的电性能参数,在天线罩制造过程中经常需要采用反射测量方法实现工艺控制,但测试能力严重受限于测试探头与被测天线罩的失配反射影响.在分析失配原理的基础上,提出了反射测试波导探头内部介质填充方法,通过结构不连续性和介质不连续性的分离,实现了失配反射信号的内部自然抵消.给出了明确的介质填充形状和结构参数设...     

多晶硅薄膜热膨胀系数的电测试结构

提出了一种新型多晶硅薄膜热膨胀系数的电测试结构,给出了热机电耦合模型和测试方法,并利用Coventor软件和ANSYS软件进行模拟和验证.分析表明模拟结果和理论结果基本一致,从而验证了该模型.该方法能够实现多晶硅薄膜热膨胀系数的在线提取,测量方便,独立性较高,以电学量形式输出,对于薄膜热膨胀系数的在线检测有一定参考价值.     

多晶硅薄膜热膨胀系数的电测试结构

提出了一种新型多晶硅薄膜热膨胀系数的电测试结构,给出了热机电耦合模型和测试方法,并利用Coventor软件和ANSYS软件进行模拟和验证.分析表明模拟结果和理论结果基本一致,从而验证了该模型. 该方法能够实现多晶硅薄膜热膨胀系数的在线提取,测量方便,独立性较高,以电学量形式输出,对于薄膜热膨胀系数的在线检测有一定参考价值.     

电机学多媒体课件的体系结构和知识表示方法

电机学多媒体辅助教学课件覆盖了一般《电机学》、《电机与拖动》等教材中的典型重点难点问题。这些问题多涉及到空间结构、电磁量的时空分布以及饱和、谐波等。本文以交流电机的脉振磁场和旋转磁场为例．介绍如何实现对知识结构的描述．如何利用三维动画模拟及人机交互等技术并适当结合有限元等数值仿真技术．将内涵的知识结构和界面的美感紧密结合。课件具有激发兴趣、易于理解、易于记忆和便于应用这种综合的效果。     

GaN HEMT器件热特性的电学测试法

基于JEDEC颁布的结到壳热阻瞬态热测试界面法,对测试GaN HEMT器件热特性的电学法进行了研究.通过合理的测试电路设计,有效解决了GaN HEMT器件电学法测试中的栅极保护问题和自激问题,实现了GaN HEMT器件的界面热阻测量.根据测得的热阻-热容结构函数曲线可知,GaN HEMT器件结到壳热阻主要由金锡焊接工艺和管壳热特性决定.结合结构函数分析,对金锡焊接部分热阻和管壳热阻进行排序可剔除有工艺缺陷的器件.与红外热成像法的结温测试结果进行对比分析,证实了电学法测试结果的准确性.     

大型结构角度变形测量中的光学方法

根据工程实践中大型结构三维角度变形的产生原因和测量需要,对目前能实际应用到工程场合的光学小角度测量方法的研究现状进行了叙述和分析,着重介绍了自准直法,偏振光法、光源靶标法、莫尔条纹法、像形畸变法、摄影摄像测量法等,对比各方法的特点,探讨了光学三维角度变形测量技术面临的问题和未来的发展趋势。     

富铋对(Na0.5Bi0.5)0.93Ba0.07TiO3结构和电性能的影响

在(Na0.5Bi0.5)0.93Ba0.07TiO3中引入过量的Bi3 ,研究富Bi对该组成结构与压电和铁电性能的影响。采用柠檬酸盐法合成了具有单一钙钛矿相的(Na0.5Bi0.5 x)0.93Ba0.07TiO3(x=0~1.0%)超细粉料。研究结果表明,随着富Bi量的增加,陶瓷样品的晶体结构出现由三方-四方相共存向四方相的转变,Bi的过量对陶瓷样品的显微结构无明显影响。当富Bi量较低(x≤0.6%)时,压电常数和机电耦合系数随富Bi量的增加而缓慢降低。当富Bi量较高(x>0.6%)时,随着富Bi量的增加,压电常数和机电耦合系数急剧减小。富Bi使陶瓷样品的介电损耗增加,机械品质因数下降。当x≤0.4%时陶瓷样品具有饱和的电滞回线,而当x>0.4%时电滞回线明显变形。