关于一阶电路时间常数求法的讨论

电路时间常数是一阶电路分析中的重要概念,它决定了一阶电路的响应特性.本文总结了时间常数的一般计算方法,并对多个动态元件和/或多个电阻元件构成的一阶电路、含运算放大器的一阶电路、含全耦合电感元件的一阶电路等三类电路讨论了时间常数的计算方法.     

一阶电路暂态过程及时间常数的教学研究

本文讨论了当前一阶电路暂态过程及时间常数的相关教学中存在的问题。文章以典型的RC阻容分压器电路和两个一阶电路-RC与RL的组合电路为例,说明电路阶数的判断及时间常数的求取,给出了直流一阶电路微分方程的通式,其解即为三要素法表达式,并列出了几个应用实例。     

怎样讲好一阶电路时间常数的概念

当前电路课程教材对一阶电路时间常数的讲解普遍不注意数学严谨性,因此,经常遇到学生对“一阶电路中不同位置响应总是具有同一时间常数”的结论提出质疑。出于释疑的目的,教学上采取了先建立一阶电路全响应公式,再给出上述结论的数学证明的做法。课堂教学实践表明：该方法有助于促进学生全面理解一阶电路时问常数的概念。     

音响电路中的运算放大器

本文介绍了运算放大器在音响电路中的使用时,参数选择的原则,提出了一些对实际工作有用的建议。     

运算放大器电路的调零

集成运算放大电路(简称集成运放)是一种基本的实用电路。它被广泛地运用于仪器、仪表、控制设备等电子线路中。失调电压是集成运放的一个很重要的技术指标。为了提高控制精度,人们往往要求集成运放在输入信号为零时,输出亦为零,即零位输出。然而,由于线路内部制作等客观条件的限制,这一点很难实现。也就是说,当输入为零时,其输出并不等于零。这种电压的偏移就是所说的输出失调电压,折合     

一种含理想运算放大器电路的讨论

为进一步明确含理想运算放大电路的有关概念和运算放大器的特性,本文从计算机仿真和理论分析两个方面,对一个含理想运算放大器电路的输入输出特性进行了模拟和推导.结果表明该电路在线性输入范围内是一电压跟随器,若超出线性输入范围,则输出波形严重失真;带反馈电路与开环电路相比较表现为线性输入范围扩大、电压增益减小,而这正是电路负反馈的特性.因此,不能简单的把接在运算放大器同相输入端的反馈视为正反馈.     

含运算放大器电路的图解分析

运算放大器在工作时具有两种状态:线性状态和非线性状态,分别对应其输入—输出特性的线性区和正、负饱和区。本文采用图解分析法讨论了含运算放大器电路的解及其解的特性,指出含运算放大器电路如采用负反馈接法,则其解唯一且稳定;如采用正反馈接法,则其稳定工作状态必为非线性状态。对教学中加入含运算放大器电路接法的教学内容,本文给出一些教学建议。     

一种前馈型全摆幅恒跨导准恒增益CMOS运放设计

设计了一种适合在低电源电压下工作的前馈型输入级放大结构，在全摆幅的动态工作范围内，输入级跨导保持不变，采用负载电流补偿以保证增益近似恒定，输出采用前馈型AB类输结构，实现全摆幅输出。     

一种低压、恒增益Rail-to-rail运算放大器的设计

文章设计了一种低压、恒定增益、Rail-to-rail的CMOS运算放大器。该放大器采用直接交迭工作区的互补并联输入对作为输入级,在2V单电源下,负载电容为25pF时,静态功耗为0.9mW,直流开环增益、单位增益带宽、相位裕度分别为74dB、2.7MHz、60°。     

双极运算放大器辐射损伤的时间相关性

通过一系列辐照实验对双极运放辐射损伤的时间相关性进行了研究.结果表明,双极运放的辐射损伤与时间有着密切的关系,通过调整辐照剂量率、退火温度及时间等参数进行循环辐照-退火实验,可以测评出器件的低剂量率辐射损伤情况,并从界面态角度对这种损伤机理进行了分析.     

7F3193集成运放的可靠性予计

本文简单介绍了可靠性予计的元器件应力分析法及单片微电子器件的工作失效率模型,并对7F3193的未来可靠度做了计算。     

集成运算放大器构成交流放大电路的分析和设计

用集成运算放大器构成的交流放大电路具有线路简单、免调试、故障率低等优点。文章全面介绍集成运算放大器构成的各种交流放大电路,详细分析和充分论述电路的组成、工作原理、以及电压增益、输入电阻等参数的计算;说明运放交流放大电路的设计,这有助于合理设计和使用集成运算放大器构成的交流放大电路。     

集成运放的非线性失真分析及电路应用

集成运放差分放大电路的非线性失真分析,可以用来对集成运放电路特性进行优化设计,抑制带内各次谐波的产生。对双集成运放AD8062的非线性参数分析,优化其外围电路的连接方式,减小共模输入电压,实现了集成运放的线性输出。AD8062的电路优化设计提高了ISM频段定位系统接收前端射频电路增益,有效抑制了各次谐波的产生,输出信号幅度满足后端A/D采样器的门限要求。     

运算放大器饱和特性对微分电路响应的影响

用运算放大器构造的微分电路可能存在饱和现象,导致输出与输入电压之间不满足微分关系,使微分电路失去应有性能。在应用时应该避免出现饱和现象,在教学中则应使学生理解饱和现象的特点。本文详细分析了在脉冲电压作用下微分电路的输入输出关系,重点是输出饱和时,微分电路模型的建立和分析方法。基于仿真工具和实验手段,对理论分析结果进行了验证。分析内容可以作为电路理论、电子技术、电工学等课程教学内容的扩展。     

一种应用于红外焦平面阵列的运放结构

红外焦平面读出阵列被广泛应用于军事,医学等各项领域,而作为读出电路核心的运算放大器,它的性能直接决定了整个读出电路的各方面性能.详细分析了一种应用于采用直接注入电路的红外焦平面阵列读出结构的运算放大器,包括它的设计过程和功能结构,并在Spectra下进行仿真,给出了仿真结果,运放增益达到61 dB,相位裕度为61°,输入共模范围0～3.65 V.     

基于闭环集成运放的模拟电路模块级软故障诊断

基于斜率故障模型,提出了一种诊断模拟电路中基于闭环集成运算放大器的模块级软故障的字典法.在由闭环运放组成的模拟电路中,通过对电路以闭环运放及与其输入直接相连的元件看作一个整体划分模块,对各个模块中的任一元件或进行宏模型替代之后的运放等效电路,利用电路中的两节点电压增量计算出的斜率作为统一故障特征,建立故障字典,实现电路中相应模块包含的运放和所有元件的软故障诊断.给出了运放的等效宏模型和模块级软故障的诊断步骤,并用仿真实例证明了该诊断方法的有效性.