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在长度计量中,量块检定是进行量值传递不可缺少的工作项目,在实际检测中有时标准量块与被检量块的尺寸不一样,这就要考虑用研合量块来解决这一问题。这样做能否达到规定的要求,是个值得探讨的问题,对此曾做过试验,下面就三等量块研合检四等量块作一分析:1检定方法... 相似文献
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不确定度是测量工作的质量和测量结果可信赖程度和评价。利用三等量块、接触式干涉仪、平面平晶、温度湿度计、干涉显微镜等组成建立三等量块标准装置,通过对三等量块标准装置测量不确定度来源的分析,评定了三等量块标准装置测量不确定度大小,分析得到的结果满足采用比较测量法检定四等及四等以下量块。 相似文献
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二等量块标准装置测量不确定度估算 总被引:1,自引:0,他引:1
二等量块标准装置是指用二等量块作标准,通过乌氏干涉仪、光学计或其它类型的比较仪来检定三等量块的全套装置。本文以乌氏干涉仪为例,试行对三等量块的测量不确定度进行估算。由于某些影响不确定度的因素与量块长度有关,因此本文对100mm、50mm、10mm和1mm量块的测量不确定度分别进行了估算。 相似文献
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立式接触干涉仪常用于比较测量法测量量块,人们较少考虑混合测量法的应用。在没有正微米组标准量块而只有83块组标准量块情况下,运用混合测最法,可使正9块微米组量块和46块组中同种规格微米块的检测问题得到解 相似文献
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通过接触式干涉仪示值误差检定的方法误差分析以及新的三等量块比较法检定的误差分析,探讨用新的三等量块配对检定接触式干涉仪示值误差的可行性。 相似文献
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依据JJG 146-2003<量块>检定规程,采用比较测量法,即以二等量块为计量标准器,以电脑量块比较仪为主要配套设备,检定三等量块中心长度为例,进行其测量不确定度的评定. 相似文献
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对于三等或三等以下量块的检定,受位移传感器测量范围的精度的限制,一直采用比较测量方法。近年来,随着高精度大量程位移传感器的出现,使得采用直接测量方法检定量块成为可能。本文介绍了用大量程位移传感器直接测量量块的方法,并对其不确定度进行了详细分析。 相似文献
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接触式干涉仪是计量部门测试三等量块的法定仪器。本文介绍了一种基于接触式干涉仪的量块自动测试系统,它以光电探测替代目视估测,免除操作人员的视力疲劳,并能自动处理数据。软件系统以最新的国家检定标准编制,易学好用。 相似文献
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立式接触式干涉仪通常用于比较测量法测量量块 ,很少考虑混合测量法的应用。而一般小型企业不建立正、负微米组标准量块。只有在 83块组标准量块的情况下 ,才运用混合测量法 ,可使正、负微米组量块的检定问题得到解决。利用立式接触式干涉仪刻度上± 5 0分度值 (分度值取 0 1μm时 )以混合测量法进行检定正、负微米组量块中心长度尺寸和平面平行性尺寸。( 1)取 83块组标准量块中的 1 0mm块 ,将干涉仪“零位”线对准刻度中的“ 0值” ,分别进行检定 1 0 0 0mm、1 0 0 1mm、 1 0 0 2mm、 1 0 0 3mm、 1 0 0 4mm量块。注意 :读数… 相似文献
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立式接触式干涉仪通常用于比较测量法测量量块,很少考虑混合测量法的应用.而一般小型企业不建立正、负微米组标准量块.只有在83块组标准量块的情况下,才运用混合测量法,可使正、负微米组量块的检定问题得到解决. 利用立式接触式干涉仪刻度上±50分度值(分度值取0.1μm时)以混合测量法进行检定正、负微米组量块中心长度尺寸和平面平行性尺寸. (1)取83块组标准量块中的1.0mm块,将干涉仪"零位"线对准刻度中的"0值",分别进行检定1.000mm、1.001mm、1.002mm、1.003mm、1.004mm量块.注意:读数时分别以刻度尺上的0μm、+10μm、+20μm、+30μm、+40μm刻度线来代替原始"0值",并读出相互对应的偏差值. 相似文献
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我国西北地区幅员辽阔,气压、温度变化显著,为了保证西北区域量值准确一致,从1988年以来,酉北地区计量协作组暨西北国家计量测试中心,连续四年组织了量值比对工作,已经完成了三等量块、二等洛氏硬度块0.001级标准电阻、二等标准活塞压力计、工业用光学高温计、一级平晶(φ60mm)、酸度计、二等标准铂铑10-铂热电偶、100MHz通用示波器、UJ25型直流电位差计、二等克组砝码、721和722型分光光度计、三等测力计、万工显等十四个项目的比对工作。 1.基本做法 由项目负责单位严格按照最新检定规程要求制订出比对方案,选好一个或一组传递标准或特… 相似文献
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如图所示,用辅助量块3和标准量块2组成内尺寸标准检定内测千分尺。检定时辅助量块应选择大于10mm 的量块,以免因变形而影响检测结果。外径千分尺1的两工作面顶住精助必块并靠近标准t块一侧。检定内侧千分尺时,使其尽量靠近标 相似文献
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文献[1]F-P标准具用于量块量值的传递与溯源一文(中国测试技术2012年增刊第2期54-58页)介绍具有F-P标准具的白光干涉仪检定量块的光学原理及其结构,以及检定F-P标准具的等倾干涉的原理。而进一步对具有F-P标准具的白光干涉仪检定量块的测量不确定度的分析,则由本文完成。该文首先对F-P标准具的检定及其测量不确定度就行了分析。量块尺寸在白光干涉仪上与标准具作比较测量。为减少标准具的数量,量块尺寸可以与两块或三块标准具组成的尺寸进行比较,也可以是由一块尺寸较小的标准具经过光学倍增法实现与被检量块尺寸相同进行比较。例如80mm的量块用40mm的标准具进行比较,这时在量块上的光路在标准具中多一次反射达到;90mm量块则用30mm标准具进行比较。他们也可以由两块标准具组成的尺寸进行比较。分析时以倍增法测量误差最大,以其进行计算。充分证明具有F-P标准具的白光干涉仪完全满足检定1等量块的要求。通过文献[1]及本文的介绍,映证该技术可以实现普及1等量块的检定及量块的自动化检定,特别适用于量块生产厂00级、K级、0级量块的自动化检定。 相似文献
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