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相似文献
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1.
本文叙述了放射性同位素X射线荧光的机理在医学上应用的可能,以及应用方案的探讨。  相似文献   

2.
本文介绍所研制的放射性同位素X射线荧光测井仪及其在我国锡矿、锑矿和重晶石矿的钻孔中直接测定锡、锑和重晶石的品位,直接划分矿层厚度和线储量等方面的应用。  相似文献   

3.
应用放射性同位素X射线荧光分析仪测定各种元素含量在许多文献中均有报道。在这里主要介绍用单道HYX-1型和XY-1型X射线荧光仪测定中条山铜矿粉末样品和巷道岩壁中铜的含量及其取得的经济效益。  相似文献   

4.
介绍了现场X射线荧光勘查技术的理论基础、仪器设备和运用X荧光分析仪寻找伴生矿的方法技术.运用手提式X荧光分析仪对新疆的两个地区进行勘探,并采用强度影响系数法和特散比影响系数法对分析中存在的基体效应进行了校正,结果发现了高含量的钴伴生矿和达到工业开采利用的伴生钒、钛矿.证明手提式X荧光分析仪在野外勘探中对寻找伴生矿具有重大意义.  相似文献   

5.
X荧光分析仪   总被引:1,自引:0,他引:1  
  相似文献   

6.
使用X光聚束系统的X射线荧光分析研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
颜一鸣  丁训良 《核技术》1994,17(6):340-342
复合光导管组成的X光透镜可将发散的X光束聚至直径φ0.5mm,聚束后的功率密度增加10^4倍,这种新型的X光透镜已用于X射线荧光分析研究,使用X光管功率仅2W,而探测限可达10^-9-10^10g.  相似文献   

7.
便携式X荧光仪关键技术研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
针对现行便携式X荧光仪灵敏度低,检出限差,测定元素少,基体产应校正能力弱等问题,对激发源,探测与测量系统,微机化等关键技术进行研究。研制了微型低功率X光管激发源,低功耗1024道分析器,实现了以笔记本式微型计算机系统为核心的微机化,构成了高灵敏度便携式X荧光仪。  相似文献   

8.
铝土矿轻元素X射线荧光分析方法研究   总被引:4,自引:0,他引:4  
陈致芬  林星明 《核技术》1995,18(4):216-219
  相似文献   

9.
本文应用GEProspeedCT测量了KI系列稀释溶液,观察了KI浓度与CT值的对应关系,探讨了应用 ̄(241)Am源激发X荧光法测量样品碘含量的探测水平,提出了建立免疫X荧光分析方法的设想。  相似文献   

10.
原位X射线荧光测井井液的影响与校正   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文研究原位X射线荧光测井探测中探测装置与井壁间井液厚度变化对测量结果的影响,通过对测量谱线特征参数的获取提出了一种新的井液校正方法.实验结果表明,这是一种对高含量样品有效、快速、实用的校正方法,校正后目标元素特征X射线峰峰面积与实测没有井液干扰时的峰面积的偏差小于5%.  相似文献   

11.
毛本将  周蓉生 《核技术》1995,18(6):364-367
介绍的应用于便携式X射线荧光仪的稳谱技术是利用X射线与物质作用产生的散射峰作为参考源实现稳谱,其方法简便,不附加参考辐射源,稳谱效果好,采用该技术的CD-4微机化X射线荧光仪稳定性好,整机性能明显改善。  相似文献   

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13.
介绍了一种新颖的的X荧光测量仪。重点阐述了以ADμC812单片机为控制核心的多道脉冲幅度分析器的设计,以及以Labview为软件开发平台的谱处理软件和USB固件设计。系统由多道分析器对探头输出的信号进行分析,然后通过USB接口与PC机通信,再由虚拟谱软件对数据进行处理。结果表明该系统功能完善、性能可靠。  相似文献   

14.
同位素源X射线荧光仪在某铅锌矿巷壁X取样中的应用   总被引:3,自引:2,他引:1  
葛良全  章晔 《核技术》1989,12(1):24-31
  相似文献   

15.
采用同步辐射X荧光分析法(SRXRF)直接测定了兔肝金属硫蛋白(MT)中的金属离子含量,以及经过十二烷基硫酸钠-聚丙烯酰胺凝胶电泳(SDS-APGE)分离后凝胶板中蛋白条带上金属离子的分布。实验结果表明,兔肝MT-1以含锌为主,占总金属含量的97.9%;兔肝MT-2以含锌、镉为主。本工作表明,采用SRXRF技术可实现MT电泳分离后蛋白条带内金属离子分布的原位测定。  相似文献   

16.
用总量X荧光法勘查铜矿   总被引:2,自引:0,他引:2  
周四春  谢庭周 《核技术》1992,15(3):181-186
  相似文献   

17.
贺士瑜  于方俊 《核技术》1991,14(11):659-664
  相似文献   

18.
X-ray scattering may contribute significantly to the spectral background of X-ray fluorescence (XRF) spectra. Based on metrological measurements carried out with a scanning electron microscope (SEM) having attached a well characterised X-ray source (polychromatic X-ray tube) and a calibrated energy dispersive X-ray spectrometer (EDS) the accuracy of a physical model for X-ray scattering is systematically evaluated for representative samples. The knowledge of the X-ray spectrometer efficiency, but also of the spectrometer response functions makes it possible to define a physical spectral background of XRF spectra. Background subtraction relying on purely mathematical procedures is state-of-the-art. The results produced by the analytical model are at least as reliable as those obtained by Monte-Carlo simulations, even without considering the very challenging contribution of multiple scattering. Special attention has been paid to Compton broadening. Relevant applications of the implementation of the analytical model presented in this paper are the prediction of the limits of detection for particular cases or the determination of the transmission of X-ray polycapillary lenses.  相似文献   

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