X射线荧光光谱法在矿石成分分析中的应用

X射线荧光光谱法（XRF）是应用比较早且至今仍在广泛应用的一种元素分析技术。因其具有分析速度快、精度高、灵敏度高、重现性好、分析元素范围广等优点,广泛的应用于矿石样品的成分分析。本文对X射线荧光光谱法（XRF）进行了概述,并对其在几种常见矿石样品分析中的应用进行了综述。     

X射线荧光光谱法测定钛酸钡中主次元素含量

用粉末压片X射线荧光光谱法测定BaTiO3中Ba、Ti、Mg、Si、Fe、Sr含量。根据钛酸钡样品中主次成分含量范围,采用在高纯钛酸钡样品(纯度≥99.99%)中加入梯度量各杂质元素标准溶液的方法制作校准样品系列,解决了无钛酸钡标准样品的问题。采用经验影响系数法纠正基体效应,并对较准样品的配制方法、压片机压力、粒度效应等进行了探讨。方法用于钛酸钡中主次元素含量测定时,测定结果与化学分析法相符,相对标准偏差均小于6.73%。     

X射线荧光光谱法快速测定钛合金中的Al、V

本文研究了X荧光光谱仪快速测定钛合金中Al、V元素的方法。通过试验确定仪器最佳测试条件,应用基体元素校正公式对标准工作曲线进行校正,结果表明,该方法快捷、简便、准确度高、稳定性好。     

X射线荧光光谱法测定钻探岩心样品中的主次量元素

利用X射线荧光光谱仪,借助粉末压片制样测定了钻探岩心样品中Si、Al、Fe、Mg、Ca、Na、K、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Ge、As、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Mo、Ba、Nd、Yb、Hf、Ta、Pb和Th等33种主次量元素,研究了元素基体校正、谱线重叠校正和方法检出限、精密度、准确度。结果表明,该方法除Mo的检出限0. 8μg/g超出地球化学普查要求检出限0. 5μg/g外,其它元素都在要求范围内;绝大多数主、次量元素的精密度(RSD,n=12)均小于5%,主量和次量(除Mo外)元素的准确度分别小于0. 07和0. 11,方法精密度和准确度都满足地球化学普查的要求。该法具有操作简单、多元素分析、非破坏性测定等特点,适用于大批量钻探岩心样品的分析生产。     

X射线荧光光谱法测定硫铁矿选矿尾砂中主量元素含量

确定了用X射线荧光光谱法测定硫铁矿选矿尾砂中主量元素含量的最佳测定条件,该方法简单、条件易控制,Si O2、Al2O3、Ca O、Mg O元素的相对标准偏差分别达到0.40%、0.78%、3.6%、5.9%。经大量实验证明,采用本方法测定,准确度较高,操作方便,结果令人满意。     

X荧光光谱法快速测定手机有害元素含量

采用X荧光光谱仪快速分析20款手机表面的Cr、Cd、Pb、Hg以及Br等多种RoHS限制的有害元素含量。该方法对不同大小,形状,品牌的手机可不做任何的预处理,直接无损测定其表面有害元素。测定结果表明,抽查的20款手机,整体表现优秀,合格率达到95%;方法精密度良好。     

X射线荧光光谱法测定大理石中氯含量

使用粉未压片法制取样品,X射线荧光光谱法测定大理石中氯含量。确定了方法最佳测定条件,该方法操作简便,分析速度快,条件易控制,氯元素的相对标准偏差（RSD）为5.7%。经大量实验证明,采用本方法测定,分析时间短,准确度较高,结果令人满意。     

X射线荧光光谱法在硅酸盐陶瓷工业上的应用

一、前言在陶瓷生产中,对原料、坯料或釉料的化学组成随时进行监控或及时地找出生产中出现质量问题的原因,是确保产品质量稳定的根本措施。常规的手工化学分析能准确地提供各种物料的组成,但费时较长,有时满足不了现代化生产的需要。而用仪器分析则较为简便。采用X荧光法来完成硅酸盐陶瓷原料的分析,这是当前国际上比较成功而通用的一种方法,它具有分析元素种类和浓度范围     

X射线荧光光谱法快速测定聚合物材料镉和铅

提出能量色散型X射线荧光光谱仪快速测定聚合物镉和铅的测试方法。校准曲线线性范围分别在250 mg·kg~(-1)、1100 mg·kg~(-1)内,方法检出限分别为4.8 mg·kg~(-1)、4.2 mg·kg~(-1)。方法应用于测定EC680和EC681k,镉和铅回收率介于90%~110%;测定标准物质和实际聚合物样品镉和铅精密度均小于15%。     

X射线荧光光谱法测定煤炭中的磷和砷

将煤炭样品与粘结剂混和、压片制样,采用X射线荧光光谱法测定磷砷含量。方法测定范围为P:0.007%-0.092%、As:0.0013%-0.0051%。将煤炭有证标准物质的检测结果与参考值及化学法测定磷砷含量结果进行对比,结果符合性较好,可以满足煤炭中磷砷的快速测定。     

X射线荧光光谱法测定高硅分子筛中的氧化钾

采用直接压片成型的方法,建立了一种高硅分子筛中氧化钾的X射线荧光光谱分析方法(XRF)。实验结果表明,该方法线性良好,相关系数r=0.9997;与化学法测定结果比较相对误差小于5.6%;精密度试验RSD值小于2.1%;方法具有良好的准确度和精密度;本方法直接压片测定,具有简单、快速、成本低的优点,能满足企业大批量生产的分析要求。     

X射线荧光光谱法测定兰炭中铝含量

采用直接粉末压片法制备样品片,选用日本进口焦炭标准样品制作工作曲线,X射线荧光光谱仪直接测定兰炭中铝含量。该法分析结果与给定值相符;对同一样品测定10次,测定值的相对标准偏差小于10%,讨论了在压样压力30 t,保持时间30 s下样品片成型较好。选择三乙醇胺作为粘结剂,讨论了最优添加量为8%。方法快速、简便,满足了煤炭检验及生产需要。     

X射线荧光光谱法测定铝土矿中的主次量组分

选用高温预氧化熔片制样,应用理论系数法和散射线内标法校正元素间谱线干扰和基体效应,用X射线荧光光谱法测定铝土矿中硅、铝、铁、钾、钠、钙、镁、磷、钛、锰、硫、锆、锶、钒、铬、镓等16种主次量组分,各相对标准偏差（RSD,n=11）均小于10％,测定值与外检结果吻合.     

X射线荧光光谱法测定锆钛酸钡元素摩尔比的不确定度评定

用X射线荧光光谱仪(XRF)测定锆钛酸钡中Ba、Ti、Zr各元素的含量,并对锆钛酸钡中Ba/(Ti+Zr)和Zr/(Ti+Zr)摩尔比进行了不确定度评定。结果表明利用XRF测定的Ba/(Ti+Zr)和Zr/(Ti+Zr)摩尔比具有较小的不确定度,其中校准曲线的回归对Ba/(Ti+Zr)和Zr/(Ti+Zr)摩尔比不确定度的影响最大。     

X射线荧光光谱法测定水泥中Cl-方法研究

X射线荧光分析法测定水泥中化学成分已列入GB/T176-2008《水泥化学分析方法》,与X射线荧光分析法测定水泥中其他化学成分相比,对Cl-测定存在的困难主要在于其含量较低,有谱线重叠,熔融过程中可能存在挥发损失和缺乏含量较高的校准样品等。本文通过对校准样品的制备方法和氯Kα线与铑靶Lα散射线的研究,提出了采用粉末压片和玻璃熔片的Cl- X射线荧光分析方法,在国家水泥质检中心的实际应用中获得了良好的效果。     

X射线荧光光谱法测定土壤和沉积物中的8种金属元素

采用粉末样品压片制样,利用波长色散X射线荧光光谱仪,建立了X射线荧光光谱法测定土壤样品中的As、Cr、Cu、Co、Ni、Pb、V、Zn等8种重金属元素的方法.选用30个以上不同元素质量分数的土壤和沉积物有证标准物质绘制曲线,相关系数均在0.999以上.方法 检出限为0.8～3.4 mg/kg.选取不同浓度范围的、具有代...     

X射线荧光光谱法测定磷矿中Na元素的重叠校正

根据钠的X射线荧光光谱扫描图中干扰线ZrLα1，2（2θ=24.60°，2次线），ZnLα1，2（2θ=24．83°，1次线），ZnLβ1（2θ=24°17°，1次线），对NaKα1,2的干扰谱信息，采用数学方法和重叠校正后的系数计算分析元素的强度，此法可降低或消除露叠干扰，提高测量的准确度。     

溴化锂含量影响X射线荧光光谱法测定滑石主、次元素的研究

采用波长色散型X射线荧光光谱法中熔融玻片法测定滑石中的主、次元素含量,在制备熔融玻片样品时,选择10 mg无污染、脱模效率高的溴化锂做脱模剂,在取得好的脱模效果的同时使测试的元素氧化物含量结果更准确。