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重点研究了利用偏轴射频溅射的方法在Si衬底上生长YSZ(Y稳定的ZrO2)缓冲层及Bi-Sr-Ca-Cu-O超导薄膜的工艺,获得了82K的超导转变温度(Ton)。利用扫描原子显微镜和原子力显微镜对不同条件下生长的YSZ和BSCCO薄膜进行了观察,提出了YSZ晶粒填补Si衬底上针孔的新功能,并验证了BSCCO薄膜的螺旋柱状生长机理。 相似文献
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TCP/IP是当前广泛采用于各种网络中的一种网络体系,它是目前事实上的网络标准。OSI则是ISO制定的网络体系结构国际标准。从网络现状出发实现一个基于TCP/IP的OSI协议环境是很有意义的。本文较为详尽地介绍了该环境的实现,并给出了在TP2上OSI高层协议实现的通用模式。 相似文献
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单片机系统对开关阵列的巡回检测 总被引:1,自引:0,他引:1
文章以单片机MCS-8031和可编程键盘/显示器8279接口芯片为核心,组成工业控制上常见的大数量开关阵列的巡回检测应用系统,文中给出了硬件设计电路和软件实现程序框图;并由此引出了一种大数量扩展中断的实用方法。 相似文献
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本研究采用电子通道技术(ECP)对单晶和双晶外延生长的YBa_2Cu_3O_7(YBCO)超导薄膜的结构、取向和表面完好性作检测,并证实对衬底的预处理可改善外延超导薄膜的质量;还对YBCO/CeO_2/MgO/SrTiO3的双外延薄膜作研究。 相似文献
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我们在具有Y稳定的ZrO_2(YSZ)层的蓝宝石上获得高质量的YBa_2Cu_3O_7(YBCO)高温超导薄膜。在零磁场下,77k时,其临界电流密度达到1.6×10 ̄6A/cm ̄2。本文确定了多层膜超导材料的取向关系。YBCO膜的(001)面平行于YSZ过渡层的(100)表面。YSZ层厚为20nm。并且,由于Ba自YBCO层的外扩散,YSZ层含有Ba。尽管蓝宝石与YSZ层间的晶格铅配很大,由于YSZ层具有[100]择优取向,仍能获得准单晶的YBCO薄膜。在YBCO薄膜中,观察到均匀分布的、微小尺寸的Y_2BaCuO_5(211相)沉淀粒子,它们也有利于提高临界电流密度。 相似文献
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SAD0820高速8位A/D转换器是一种具有跟踪/保持功能的8位高速微机兼容A/D转换器,其转换时间为1.5us,功耗为75mW,用串并结构来实现A/D转换器的高速。每4位ADC分别由15个比较器构成;单一电源工作,采用双层多晶硅p阱CMOS工艺制作。 相似文献
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介绍了深亚微米(0.35/-.25/0.18μm)半导体器件制造的最新工艺及设备,包括新一代CMOS工艺、FOND工艺、PSM技术、电子束光刻工艺、X射线光刻工艺、Cu互连技术和圆片老化筛选工艺及设备。 相似文献
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微机的CMOS设置和故障检修(下)卞德森三、扩展CMOS设置扩展CMOS设置主要针对系统板和芯片组(CHIPSET),如高速缓存、影子内存、协处理器、快速人20、内存刷新、总线及I/O时钟、奇偶校验等设置,故又称板级和芯片级的设置。这些设置一般由硬件... 相似文献
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MCS-51单片机串行口扩展显示接口电路的改进林小平,邝榆宁在MCS-51单片机应用系统中,当不用串行口作通讯时可用其扩展并行I/O口(设定串行口工作在方式0,移位寄存器状态)。用于显示器接口时使用串行输人,并行输出移位寄存器74LS16)。每扩展一... 相似文献
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1985年,科学技术数据委员会(CODATA)公布了固体热物理性能研究小组的报告,报告分析适用数据并给出了推荐值:Al2O3、Cu、W和Fe的比热,Cu、Si、W和Al2O3的热膨胀,Cu、Fe、W和Pt的电阻率,Al、Cu、Fe和W的热导率以及Pb、Cu和Pt的绝对热功率。研究小组组长由Y.S.Touloukian教授担任,直至1981年去世后,由Merrill Minges博士担任。自上述报告 相似文献
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本文较为详细地介绍了能有效地改善SOS材料结晶质量的双固相外延DSPE工艺,给出了优化的工艺条件.通过比较用DSPE及普通SOS材料制作的CMOS/SOS器件和电路的特性可以看出,采用DSPE工艺能显著改善SOS材料的表面结晶质量,应用DSPE工艺在硅层厚度为350nm的SOS材料上成功地研制出了沟道长度为1μm的高性能CMOS/SOS器件和电路,其巾NMOSFET及PMOSFET的泄漏电流分别为2.5pA和1.5pA,19级CMOS/SOS环形振荡器的单级门延迟时间为320ps. 相似文献
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在有线电视网络向农村发展过程中经常会遇到三级模拟光链路级联的问题。本文介绍了上海有线电视网中三级模拟光纤网络在市至村联网中比较典型的应用实例,分析了该网络的C/N、C/CTB和C/CSO指标,提出了在当前加载频道下调整系统参数,对C/N和C/CTB、C/CSO进行拆衷处理,使其满足指标要求的方法,并提出了以后逐步改造的方法。 相似文献
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提出并采用真空热蒸发技术制备了一种新型的多元掺杂(Cl,Cu)敏化的CdS/CdSe双层光电导薄膜。研究了这种光电导薄膜的暗电导和亮电导、响应时间,以及光谱响应等主要光电特性与初始材料比例、掺杂浓度和Cl/Cu比例等工艺参数的关系。实验表明:适宜的掺杂浓度和Cl/Cu比例可使暗电导降低而亮暗电导比提高,响应时间比未掺杂薄膜的显著降低;而光谱响应特性则可以通过控制CdS/CdSe之比加以优化。 相似文献