ICP－AES法测定二氧化硅中的微量杂质元素

试样经硫酸—氢氟酸分解，在盐酸介质中用ＩＣＰ－ＡＥＳ法测定二氧化硅中的微量杂质元素。该方法与原子吸收法（ＡＡ）和分光光度法相比更为优越，其化学干扰少，操作简便，快速，重显性好，准确度高，测定结果的相对标准偏差（ＲＳＤ）小于５％     

ICP—AES法测定二氧化硅中的微量杂质元素

试样经硫酸一氢氟酸分解，在盐酸介中用ICP—AES法测二氧化硅中的微量杂质元素．该方法与原子吸收法(AA)和分光光度法相比更为优越，其化学干扰少，操作简便，快速，重显性好，准确度高。测定结果的相对标准偏差(RSD)小于5％。     

应用ICP—AES测定石膏中元素

介绍了用ICP-AES法测定石膏中Fe、Al、Ca、Mi的方法,并用石膏国家标准物质进行验证,结果表明,该方法简便、快速、准确。     

陶瓷中元素的ICP—AES测定

用碱熔法熔解样品,向标准系列中加入同样量的混合溶剂空白,建立工作曲线,试样经酸处理后即可直接用ICP-AES法测定陶瓷中Fe、Al、Ca、Mg、Ti、Zr,并与化学法结果一致。     

ICP—AES法同时测定天然沸石中多种元素

本文研究了ICP-AES法同时测定天然沸石中多种元素的测试方法,解决了样品处理和测试中的一些问题,建立了包括同时可以测硅的分析方法。该法简单,准确,快速,适合大批样品的分析。     

ICP—AES法测定巴氏合金中杂质

用等离子发射光谱法测定巴氏合金中杂质元素,试样用硫酸和硫酸氢钾在高温下分解,经过系列试验,选择仪器的工作条件,进行测定,建立了一套分析方法,经标钢分析,分析结果令人满意。本方法快速准确,精密度良好,完全可以满足生产需要。     

氢氟酸溶样ICP—AES法测定出口磷矿石中氧化铁和氧化铝

研究了用ＩＣＰ－ＡＥＳ法同时测定磷矿石中氧化铁和氧化铝。考察了谱线的选择、基体的影响。方法回收率为９４．８％～１０３．６％,精密度为２．１０％～３．０２％。     

ICP—AES法测定粉煤灰中元素

本文介绍了用电感耦合等离子体发射光谱法测定粉煤灰中Fe、Ca、Mg、Ti的方法 ,并与化学法进行对比试验 ,结果一致。     

ICP—AES法测定镍镉化合物中杂质的共用基体研究

叙述了共用镍基体标准溶液以电感耦合等离子体原子发射光谱法（ＩＣＰ－ＡＥＳ）同时测定镉镍化合物中Ｃａ，Ｍｇ，Ｆｅ，Ｃｕ，Ｓｉ５元素。     

ICP—AES法同时测定农用地膜中的多种元素

提出了用电感耦合等离子体原子发射光谱法（ＩＣＰ－ＡＥＳ）分析农用地膜中的１２种元素含量,各元素选用最佳光谱线和光谱仪合适的工作条件。测定数据的精密度和样品加标回收率结果令人满意,方法快速、简便。     

ICP—AES法测聚氯乙烯管材中有害元素的研究

采用电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP—AES）进行聚氯乙烯管材中微量有害元素的同时测定。在选定的最佳条件下,建立了电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定聚氯乙烯管材中镉、铅、锡、汞4种元素的方法,测得方法检出限为0．007～0．017μg／mL,回收率为95.12％～106．00％,相对标准偏差RSD为1．5％-2．9％。该法准确、快速、简便、结果令人满意。     

ICP—AES法测定锆合金Zr-30Nb中杂质元素Al、Fe、Ti的方法研究

采用ICP—AES法对Zr-30Nb合金中杂质元素Al、Fe、Ti进行了测定。主要研究了合金元素铌对分析元素谱线的光谱干扰情况,并对分析条件进行了优化,确定了方法的检出限,通过准确度和精密度试验,表明本方法准确、可靠。     

用ICP—AES测定废气中铅的前处理方法探讨

玻璃纤维滤筒在采样结束后，经酸煮法或其它等效方法制备成样品溶液，经电感耦合等离子原子发射光谱仪（ICP—AES）测定出溶液中铅的浓度。本文通过对比实验，证明用超声清洗仪洗脱吸附在滤简中铅是一种新的可靠前处理方法；剪下滤筒开口的边缘作为样品空白，可以有效消除滤筒中铅含量过高且高低不一所带来的干扰。     

碱液中微量SiO_2、Al_2O_3含量的测定

本文针对含微量 Si O2 、Al2 O3 的碱液 ,采用分光光度法进行了测定 ,结果表明该方法快速、简便 ,而且结果准确     

NiO－RE_2O_3／α－Al_2O_3催化剂制备过程中稀土的流失

用浸渍法考察先浸硝酸稀土、后浸硝酸镍制备ＮＩＯ－ＲＥ２Ｏ３／α－Ａｌ２Ｏ３催化剂过程中浸渍液的酸度、温度等因素对催化剂上稀土（ＲＥ２Ｏ３）流失的影响，并讨论了抑制稀土流失的方法。     

密闭消解ICP/ICP-MS测定高纯黄磷中杂质元素

建立了采用密闭消解前处理,电感耦合等离子体光/质谱方法测定高纯黄磷中多种杂质元素的分析方法。对仪器分析条件进行了优化,研究了不同消解方法,不同前处理试剂对测定结果的影响,本法加标回收率在88-105%之间,重复性标准偏差不大于8%,检出限低。     

电感耦合等离子发射光谱(ICP)法测定高纯氢氧化钠中杂质含量

电解法生产的高纯氢氧化钠中,含有氧化钙、三氧化二铝和二氧化硅等杂质,其含量低微,现行国家标准中氧化钙的测定采用火焰原子吸收法;三氧化二铝和二氧化硅的测定采用分光光度法.通过试验我们发现,使用电感耦合等离子发射光谱(ICP)法测定高纯氢氧化钠中的杂质含量,是一种速度快、精度高、实用性强的检测方法.