关于固体电解质钽电容器储存稳定性的研究

钽电容器长期储存稳定性,是生产厂、用户十分关心的问题。本根据多年来的大量试验、数据及宝贵的二十多年储存数据。阐述了固体电解质钽电容器具有很好的长期储存稳定性。     

关于固体电解质钽电容器储存稳定性(上)

钽电容器长期储存稳定性,是生产厂、用户十分关心的问题。本文根据多年来的大量试验、数据及宝贵的二十多年的储存数据,阐述了固体电解质钽电容器具有很好的长期储存稳定性。     

有机电解质片式钽电容器稳定性的提高

新一代信息技术的发展不仅要求有机固体电解质片式钽电容器的等效串联电阻(ESR)小,更需要在严酷环境中使用时电容量、ESR和漏电流保持稳定。影响钽电容器稳定性的影响因素很多,其中界面稳定性是关键因素之一。为此,在此类电容器生产中引入一种新的界面预处理方法,即在介质氧化膜表面涂敷硅烷偶联剂预涂层,抑制介质氧化膜-聚合物界面的劣化。经过高低温、浪涌电压和125℃-2000 h寿命测试,静电容量、漏电流和ESR的稳定性有明显改善。试验结果表明,该界面预处理技术是制造高稳定性高压有机钽电容器非常有效的方法。     

无引线片状固体电解质钽电容器的研制

结合作者的研制实践，阐述了所研制的无引线片状固体电解质钽电容器的先进性、科学性和标准化依据，并给出试验数据和图表，还概述了该系列产品的设计、工艺、材料等方面的研究成果及产品发展方向。     

非固体电解质钽电容器阴极表面处理

采用银壳作为非固体电解质钽电容器负极,银壳的表面处理方式往往决定这个钽电容器的电性能参数,通过硫酸或氯铂酸表面处理,银壳的表面比电容可以达到(100～800)×10–6F/cm2,对提高非固体电解质钽电容器的可靠性至关重要。     

应用聚吡咯电解质的固体钽电解电容器

叙述了聚吡咯电解质的制备过程,并比较了该电解质较传统电解质的特点,分析了聚吡咯电解质固体钽电解电容器的性能特征。应用PPy-DEHS(2-(2-乙基己基)硫代丁二酸钠盐掺杂聚吡咯,溶剂为三氟乙酸)电解质装配的固体钽电解电容器具有较高的电容量和较低的损耗。在掺杂聚吡咯中加入表面活性剂和偶联剂可以增加电容器容量,降低其损耗。     

CA型固体钽电容器

本文介绍采用蒸汽和掺杂相结合的被膜工艺制造的CA型固体电解质钽电容器,该产品可耐高压,体积小,耐高温。在+125～+155℃范围内其电性能具有高稳定性。     

日本固体钽电解电容器

日本固体钽电解电容器王世可（天津市无线电元件二厂天津３００２０３）ＤｅｖｅｌｏｐｍｅｎｔｏｆＳｏｌｉｄＴａｎｔａｌＥｌｅｃｌｒｏｌｙｔｉｃＣａｐａｃｉｔｏｒｏｆＪａｐａｎＷａｎｇＳｈｉｋｅ（ＴｉａｎｊｉｎＲａｄｉｏＣｏｍｐｏｎｅｎｔＦａｃｔｏｒｙＮｏ...     

高频固体钽电解电容器电性能与钽粉

对高频固体钽电容器应特别关注高频阻抗、电感量、等效串联电阻、纹波电流等参数。研究这类电容器电性能参数与钽粉性能的关系表明：当前对钽粉应以提高化学纯度、增多品种和规格、改善性能,以满足制造不同用途的电容器的需要     

固体电解质钽电容器介质膜晶化机理及其失效分析

从场致晶化和热致晶化的角度对固体电介质钽电容器介质膜晶化现象和机理进行了讨论,并结合CA45-H-35V-470μF固体电解质钽电容器的失效分析对介质膜晶化引起电容器失效进行了进一步的说明.采用筛选、物理分析和降额使用的方法,可有效避免介质膜晶化引起的钽电解电容器失效.     

固体电解质铝电解电容器

本文较系统地介绍采用有机导电性化合物作为阴极的固体电解质铝电解电容器。主要论述采用有机半导体ＴＣＮＱ综合物的电容器（ＯＳ－Ｃｏｎ）和采用功能性高分子聚吡咯的电容器（Ｓｐ－Ｃａｐ）的固体电解质的合成及电容器的制造工序流程和应用。     

高压超大容量有机电解质片式钽电容器高温稳定性试验

高压超大容量有机固体电解质片式钽电容器是适应新一代电子信息技术而开发的一种新型电容器，但行业内规定高低温(-55℃ ，125℃ )容量变化±30％，严重限制了其在一些特殊领域的应用，通过对电介质化成工艺的调整，以及添加电介质和聚合物膜界面的后处理等方法有效改善了高温容量的稳定性，并通过一系列可靠性试验验证，电容器的容量变化率ΔＣ/Ｃ不超过20％，漏电流的稳定性也得到显著改善，从而满足了此类产品在特殊环境的使用要求。     

电解质对高温液体钽电容器电性能影响的研究

研究了２种去极化剂对高温液体钽电解电容器电性能的影响。１０００ ｈ高温负荷表明,分别选用 ＣｕＳＯ４·５Ｈ２Ｏ和ＶＯＳＯ４作为低压和高压电容器电解质中的去极化剂,可以显著提高其电性能。     

钽电容器和独石电容器应用中的失效分析

通过对钽电容器和多层独石瓷介电容器的几个失效分析实例,得出以下结论：（1）钽电容器使用中常见的失效现象是焊接不当,导致内部焊锡流动引起短路失效,应引起起装机工作人员高度重视;（2）通过分立元器件的解剖方法结合详细的测试分析,找出独石瓷介电容器内部的质量问题在于介质中的缺陷,导致电极材料局部突起,以至发生离子迁移或短路失效。     

高压大容量有机固体电解质片式钽电容器可靠性试验

高压大容量有机固体电解质片式钽电容器是适应现代电子技术而发展起来的一款新型产品,但由于缺乏其高温可靠性检测报道,严重限制了此类电容器的广泛应用。目前国际上普遍采用–55~+105℃的使用温度范围,而不能满足特殊领域如125℃的使用要求。本文通过对电介质和聚合物膜层的处理,以及增加防潮涂层,经过一系列可靠性试验后电容器的各项性能参数趋于稳定,电容器的可靠性得到明显证实。此研究结果将为高压大容量有机固体电解质片式钽电容器在特殊环境下的应用提供必要的技术支撑。     

Vishay固体钽电容器芯片

Vishay Intertechnology，Inc．推出新型Tantamount Hi—Rel COTS T95系列固体钽电容器芯片。这些新型T95电容器主要面向安全性至关重要的航空及军事应用。日前推出的这些器件属于Vishay Tantamount钽电容器系列，它们的电容值范围介于0．1μF～680μF，电压范围介于4V～50V。这些器件提供了低ESR值选择，在＋25℃、100kHz时，ESR值低至0．055。T95系列中的器件工作范围介于-55℃～＋125℃。