国外放射性同位素X射线荧光分析仪及其应用

一、概述放射性同位素X射线荧光分析仪是最近发展起来的一项新技术。在国外,它正在广泛应用于地质、勘探、采矿、选矿、冶炼和金属加工等工业部门。放射性同位素X射线荧光分析仪的基本原理是用放射性同位素源激发被测元素,使     

同位素X射线荧光分析技术在汞锑矿的应用研究

本文主要介绍了利用同位素X射线荧光分析方法在陕西青铜沟汞锑矿对汞锑元素分析的方法研究与应用效果。阐述了如何用X荧光分析方法同时进行汞锑两种元素分析,并证明了这一方法在该矿山应用的可行性。通过对室内样品定量测量效果来看,还可以解决矿车在线矿石品位半定量计算,以及坑道巷道中代替刻槽取样等指导性工作。     

应用放射性同位素X荧光法测定矿石中的铜和铁

国外在X射线荧光光谱分析中已广泛采的元素含量,见表1。用放射性同位素作为照射源,以测定矿石中各种元素的x射线荧光分析万     

X射线荧光光谱法测定Dy_2O_3及其杂质Eu_2O_3,Gd_2O_3,Tb_4O_7,Ho_2O_3,Er_2O_3和Y_2O_3

当前稀土应用范围越来越广,尤其Dy2O3和金属Dy其出口量不断增大．Dy2O3中所含杂质总量通常在0．1％～5％之间,该范围内的测定方法以XRFR为合适,快速、准确、无破坏．1实验部分1．l原理本法采用粉末直接压片法制样,在各元素分析线峰位上测量X射线强度,根据待测元素的X射线荧光光谱强度与含量的定量关系,选择相应的数学模型,由计算机自动计算出待测成份含量．1．2仪器和试剂荷兰飞利浦PW—1400顺序式X射线荧光光谱仪;康柏486计算机;电动小型油压机;万分之一精度分析天平．DyZO399．999％;EnD3,GdD3,ThAn,HoAn,ErD3…     

能量色散X射线荧光光谱法对水溶液中多种重金属离子的检测方法探讨

使用小台式的能量色散X射线荧光光谱仪可以实现水溶液中多种痕量重金属离子的直接测试,不需要对溶液进行消解,且仪器简单,对环境要求低.通过对谱线能量不同的元素进行分组,对各组元素的滤光片进行选择:对于铬、锰、铁,使用0.2 mm Al滤光片;对于镍、铜、锌、铅、硒、砷、汞,使用0.5 mm Ti滤光片;对于锑,使用1.25...     

X射线荧光光谱法测定纯铜中微量杂质元素

对X射线荧光光谱法测定纯铜中微量杂质元素的实验条件,背景和光谱重叠干扰及校正进行研究。通过以纯铜标准样品绘制校准曲线,采用专用空白试样测量背景强度,多项式(多点)拟合计算峰底背景,专用的标准样品计算与分析线的重叠干扰量并加以校正,理论α系数法或基本参数法校正样品中元素间的吸收-增强效应,选择高反射率的人工晶体PX-10测定部分重金属痕量元素,成功地用X射线荧光光谱法测定纯铜中微量杂质元素。样品的分析结果与推荐值或火花源原子发射光谱的测定值符合,回收率在95%～102%范围,各元素的相对标准偏差(RSD)均小于5.0%。     

探讨铁矿石检测中钴内标X射线荧光光谱分析法的运用

X射线荧光光谱分析(XRF)是一种利用原级X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生荧光(二次X射线),从而对样品进行化学成分定性分析和定量研究的方法。与传统化学分析方法相比较,X射线荧光光谱分析法在检测效率与准确度上都有了很大提高。玻璃熔片法与粉末压片法是铁矿石X射线荧光光谱法分析常用的手段,但由于种种原因,其检测结果的准确度却不如化学法高。为此,本文笔者通过实验对钴内标X射线光谱分析方法在铁矿石检测中的应用进行探讨,希望为相关工作提供参考。     

X荧光光谱仪在锌浸出渣分析中的应用

本文研究了X荧光光谱仪在测定锌浸出渣中Pb、Zn、Ag、Cu、As、Sb、Cd、Fe元素中的应用。通过挑选具有一定浓度梯度的锌浸出渣作为标准样品,利用电感耦合等离子体发射光谱（ICP-OES）法、原子吸收光谱（AAS）法、EDTA滴定法对选定的标样进行定值,并通过方法比对、标准加入法进行验证,得到锌浸出渣中待测元素的分析基准,将锌浸出渣分析基准引入X荧光光谱仪绘制标准曲线,利用标准曲线测定待测样品,结果表明X荧光光谱仪测定锌浸出渣的Pb、Zn、Ag、Cu、As、Sb、Cd、Fe元素含量,准确度高,重现性好,分析速度快,操作简便,能够有效的指导生产,具有一定的推广价值。     

X射线荧光光谱法测定镁合金中6种元素

使用镁合金标准样品建立校准曲线,采用经验系数法对基体效应进行校正,实现X射线荧光光谱法对镁合金中Al、Si、Fe、Ni、Cu和Zn元素含量的测定。通过试验确定仪器最佳分析参数,根据仪器自带软件提供的数学模型对基体效应进行校正。精密度试验表明,待测元素的相对标准偏差均低于2.5%（n=10）,能满足镁合金中各元素的检测要求。采用本方法分析镁合金标准样品,测量值与认定值吻合良好。     

东芝公司在市场上出售一种X射线图像增强器

东芝公哥已研制成功一种高性能的金属X射线图像增强器(或称X射线荧光倍增器),并已在市场上销售。该增强器用于诊断循环器官。在增强器的X射线接收窗口上用钛金属膜代替通常采用的玻璃。     

X射线荧光光谱分析方法测定锰硅合金中钛的质量分数

将一定粒度的粉末试样压制成片状试料后,用VXQ-150AX射线荧光光谱仪进行测试分析,在真空介质中;试片经激发源产生的X射线的X光管照射后,发射出元素组成的特征谱线,分光晶体按照布拉格衍射定律将特征谱线分解成所需要的分析线,分析线的积分强度与含量成正比。     

X射线荧光光谱熔融片法测定铜矿中的主次元素分析

在对铜矿中的主次元素进行测定时,利用X射线荧光光谱熔融片法开展相关工作,可以通过熔融制样和压片制样两种方法,提高最终测定结果的准确性。在进行熔融制样时,主要是利用X射线荧光光谱仪器设备,对铜矿中的12种主量元素进行有效的测定和分析,还要对制样过程中的各项影响因素进行全面的控制,确保检验过程中的基体效应能够完全消除。在进行光谱检测技术应用时,具备更高的检测度和灵敏度,且平行效果比较好,本文就X射线荧光光谱熔融片法测定铜矿中的主次元素进行相关的分析和探讨。     

使用散射X射线的理论强度进行土壤、岩石中的微量重元素的X射线荧光分析

是依据FP法进行土壤、岩石中的Pb ,As等微量重元素的X射线荧光定量分析的方法。FP法对定量元素的荧光X射线进行理论强度计算 ,同时对散射X射线也进行计算 ,用于多种样品的定量分析 ,提高了定量元素准确度。     

非钌金属阳极涂层组分的X射线荧光光谱法快速定量测定

一、前言金属阳极涂层组分测试,国外曾见有采用破坏涂层的原子吸收光谱法,及用机械方法剥落涂层再进行涂层组分和结构分析的X射线分析方法。本文由Birks导出的X射线荧光激发的基本理论公式推得在薄层样品中i元素的X射线强度Ⅰ:与涂层中该元素     

X射线荧光外标实验校正法测定铂材料中4种主要元素

采用X射线荧光外标实验校正法测定 4种主要元素Ag ,Cu ,Zn ,Ni。当被测元素含量 <1 0 %时 ,测定的相对标准偏差 <0.15 % ,当 1% <被测元素含量 <10 %时 ,测定的相对标准偏差 <0.40 % ,本法适合于测定含量 <10 %的上述 4种元素。     

粉末压片制样-波长色散X射线荧光光谱法测定土壤和水系沉积物中溴氯氟磷硫

采用粉末直接压片制样,波长色散X射线荧光光谱法(WD-XRF)同时测定土壤及水系沉积物样品中的Br、Cl、F、P和S时,5种待测元素受矿物、化学态和粒度效应影响,测试难度较大.实验选择水系沉积物和土壤标准物质建立校准曲线,Br采用经验系数法和Rh Kα康普顿散射内标法校正基体效应和谱线干扰,F采用经验系数法和F背景内标...     

快速判定木质素磺酸钠质量的方法

本文结合木质素磺酸钠的物化性质,对木质素磺酸钠标准样品和待测样品进行X荧光全扫描半定量分析、水溶性实验、Na、S元素含量的比例分析,通过比对标准样品和待测样品的三项实验数据,对木质素磺酸钠质量进行符合性判定。经实践证明,该判定方法运行成本低,分析速度快,可有效指导生产。     

X射线荧光光谱法无标样分析测定粉煤灰中主次量元素

应用X射线荧光光谱仪测定粉煤灰中主次量元素时,存在适合绘制标准曲线的标准物质比较少、元素组分含量范围窄、梯度变化大等问题,而自制标样工作量大且定值不够准确.针对这些问题,可以应用无标分析来解决.但是粉煤灰中含碳量很高,大多数X射线荧光光谱仪都没有配备检测碳的分光晶体,仪器对试样中的碳无法检测,这会造成无标分析软件在最后计算过程中无法准确归一,而影响待测组分检测结果的准确度.因此文章采用灼烧除碳,消除了碳对无标分析软件在最后的归一化计算时的影响.试验证明,该方法的分析结果与化学法值吻合较好,各组分的相对标准偏差(RSD,n =11)在0.3％ ～3.2％之间,具有较好的重现性.较以前的方法简便快速,分析成本低,劳动强度小,适用性强,数据准确可靠.     

X射线荧光光谱法测定萤石矿中CaF_2、T_(Fe)、K_2O、Na_2O、P、S和SiO_2

尝试用X射线荧光光谱法分析萤石中的CaF2、SiO2、P和S以及全铁（TFe）、K2O和Na2O,实现多元素同时分析。从样品制备、仪器工作条件选择及基体效应的影响等方面进行试验,找出最佳条件,取得了满意的结果。实验结果表明,用X射线荧光光谱法分析萤石中各元素成分,完全可以满足日常生产分析要求。     

利用X荧光能谱仪快速测定合金钢中钼元素

在合金钢能量色散X射线荧光光谱的研究基础上,使用国产的XRF-6型X射线荧光能谱仪对合金钢中钼元素进行了测定分析。钼元素的Kα特征射线能量值为17.443 keV,铁元素的K_α特征射线能量值为6.40 keV,通过与基体铁元素特征射线强度值之比得到的工作曲线可以实现合金钢中钼元素的快速定性及定量分析。合金钢中成分元素铌对钼元素测定存在一定的干扰,有效地克服干扰元素对钼元素测定数据的影响是数据处理的技术关键。研究结果表明铌元素等的干扰能被有效克服,X射线荧光能谱可解决合金钢中钼元素的快速分析问题。