基于内建自测试电路的NAND Flash测试方法

随着NAND Flash在存储器市场中的占比与日俱增,对NAND Flash的测试需求也越来越大。针对NAND Flash存储器中存在的故障类型进行讨论,并对现有测试算法进行分析,为提高故障覆盖率以及降低测试时间,对现有的March-like测试算法做出改进,改进算法比March-like算法的故障覆盖率提高了16.7%,测试时间减少了30%。完成存储器内建自测试（MBIST）电路设计,设计了FPGA最小系统板并进行板级验证,结果验证了MBIST电路以及改进的测试算法的可行性。     

一种专用可重配置的FPGA嵌入式存储器模块的设计和实现

本文设计了一种满足FPGA芯片专用定制需求的嵌入式可重配置存储器模块.一共8块,每块容量为18Kbits的同步双口BRAM,可以配置成16K×1bit、8K×2bits、4K×4bits、2K×9bits、1K×18bits、512×36bits六种不同的位宽工作模式;write_first、no_change两种不同的写入模式.多个BRAM还可以通过FPGA中互连电路的级联来实现深度或宽度的扩展.本文重点介绍实现可重配置功能的电路及BRAM嵌入至FPGA中的互连电路.采用SMIC 0.13μm 8层金属CMOS工艺,产生FDP-II芯片的完整版图并成功流片,芯片面积约为4.5mm×4.4mm.运用基于March C+算法的MBIST测试方法,软硬件协同测试,结果表明FDP-II中的BRAM无任何故障,可重配置功能正确,证实了该存储器模块的设计思想.     

地址数据复用型Flash存储器测试技术研究

随着半导体技术的迅猛发展,移动存储设备快速增长。Flash芯片作为移动存储设备中最常用的器件,得到了日趋广泛的应用,对Flash芯片的测试要求也越来越高。地址数据复用型Flash存储器测试技术研究及电路设计,设计改善大规模数字集成电路测试系统数字系统算法图形功能。对K9F2G08R0A进行了测试并通过对数字系统算法图形功能进行改善,算法图形发生器由多个算术逻辑单元、多路选择器以及操作寄存器组成,可以实现复杂的逻辑操作和算术运算,可以更快、更简便地对地址复用型Flash存储器进行测试,减少测试程序开发难度。     

小型封装FPGA器件

美高森美为其主流SERDES—basedSmartFUsiOn2系统级芯片（SoC）FPGAS和IGL002FPGA器件提供全新小尺寸解决方案。这两款FPGA器件采用非易失性Flash技术,可省去外部配置存储器,为设计人员提供了极小的占位面积。新封装的推出为两种产品系列增添了多种小尺寸外型,包括FCS32511mm×11mm、VF25614mm×14mm、FCV48419mm×19mm和VQ14422mm×22mm。     

MCU应用新世界：Cortex-M1微控制器和FPGA

Actel公司的FPGA器件是ASIC器件的理想替代品,具有ASIC产品的很多特点如:单芯片、上电即行、非易失性、低功耗、保密性强、免疫固件错误、片上非易失性存储器、整体系统成本低等.同时FPGA采用Flash*Freeze技术,又具有无NRE成本、快速生成原型、生产周期短以及在系统可编程等优点.     

基于共享总线结构的存储器内建自测试电路

随着片上系统处理的数据增多,数据存储器测试逻辑相应增加,在保证测试功能的同时减小测试电路面积是当下急需解决的问题。基于共享总线结构的存储器内建自测试(MBIST)电路,通过将多个存储器引脚信号进行复用的方式,对存储器进行层次化设计,将物理存储器拼接组成逻辑存储器模块,再整合多个逻辑存储器成为一个大的存储器集模块,MBIST控制器针对存储器集进行MBIST,从而减少测试逻辑数量以达到减小测试电路占用面积的目的。通过实验证明,该结构可以满足MBIST相关需求,相较于针对单颗存储器测试的传统MBIST电路面积减小了21.44%。该方案具有良好的实用性,可以为相关存储器测试设计提供参考。     

嵌入式非易失性存储器在SoC物理设计中的应用

嵌入式非易失性存储器以其同时具备数据可更改性及掉电保存性而已被越来越广泛的应用于SoC物理设计。文中结合一款电力网控制芯片R36的实际设计案例,分析了该器件的应用特点,并从用途、性能、容量选择等方面说明了通过非易失性存储器对降低芯片成本、提高速度及可靠性应用方法。     

MIC总线控制器中存储器的可测性设计

MIC总线控制器远程模块专用集成电路内部嵌入的存储器采用了存储器内建自测试技术（Memory Built—in—Self Test，MBIST），以此增加测试的覆盖率，同时MBIST还具有故障自动诊断功能，方便了对宏模块的故障定位和产生针对性测试向量。本文将介绍用于嵌入式存储器设计的MBIST技术，并结合MIC总线控制器远程模块专用集成电路对存储器的可测性设计（DFT）进行阐述。     

铁电存储器FM3116在工程机械监控系统中的应用

铁电存储器是一种新兴的非易失性存储器，FM3116是RAMTRON公司新推出的铁电存储器芯片，该芯片具有非易失性存储、实时时钟、低电压复位、看门狗计数器、非易失性事件计数器等功能。文章在简要介绍了FM3116芯片的基础上，给出了一个基于FM3116和80C196单片机的数据记录系统的设计方法，该系统已成功应用于某工程机械安全监控系统中。     

Microsemi公司推出军事、车辆和工业用小尺寸现场可编程门阵列

军事与航空电子网站3月17日报道,位于美国加州的Microsemi公司推出基于SERDES的SmartFusion2系列小尺寸系统级芯片（SoC）和IGLOO2现场可编程门阵列（FPGA）,适用于军事、车辆、通信、工业自动化和成像等广泛领域。这两个FPGA采用非易失性结构,无需外部配置存储器,可减少器件尺寸。     

英特尔与恒忆公布相变存储器（PCM）研究成果

英特尔公司与恒忆（Numonyx）公布了一项突破性的相变存储器（PCM）研究成果,这种新的非易失性存储器技术结合了目前各种存储器的优势。研究人员首次展示了能够在单个硅片上堆叠或放置多个PCM阵列层的64Mb测试芯片。这些研究成果为制造更高容量、更低能耗的存储器设备铺平了道路,能够为随机存取非易失性存储器和存储应用降低所占用的空间。     

适合超低功耗手持装置的非易失性FPGA

单芯片FPGA系列iCE采用65nmLP标准CMOS工艺,整合丁NVCM（非易失性配置存储器）专利技术,能减少额外使用闪存PROM的成本,且更易于使用。该系列针对智能型手机、PMP、数码相机、移动上网装置和医疗仪器等手持装置进行了优化。     

加速Flash系列FPGA芯片功能验证方法

提出了一种加速闪存（Flash）系列现场可编程门阵列（FPGA）芯片功能验证方法。通过解析全配置位流,得到帧数据与svf文件的映射关系,根据验证用例赋值相应的配置位流,大大减少了大规模FPGA全芯片功能验证的配置时间,加速了仿真的速度,提高了仿真验证效率。该方法已成功应用于Flash系列FPGA芯片电路功能验证工程实践中。     

基于CPCI总线的FPGA加载设计

以现场可编程门阵列（FPGA, Field Programmable Gate hrray ）为核心的软件无线电平台在近年得到了广泛应用。由于具有极强的实时性和并行处理能力,FPGA芯片在无线通信、信号处理等领域得到了广泛应用。但是鉴于FPGA有易失性的特点,使得需要配备可擦可编程只读存储器（EPROM, Erasable Programmable Read Only Memory）芯片对其进行加载。对于要求实时切换不同算法的应用场景,需要系统设计能够对FPGA进行动态加载。这里介绍了xi1inx系列FPGA的加载原理,基于紧凑型PCI （ CPCI, Compact Peripheral Component Interconnect）总线设计,实现了对多片FPGA的动态加载。     

Flash型FPGA内嵌BRAM测试技术研究

Flash型FPGA由于具有高可靠性、卓越的安全性和即插即用的功能,被广泛应用于军事及航空航天领域。Flash型FPGA的内部结构复杂而庞大,因此研究其测试技术的可靠性和准确性至关重要。块随机存储器（BRAM）作为FPGA内部重要的存储模块,在传统测试中存在故障覆盖率较低的问题。为了扩大故障覆盖范围,对March C+算法进行了改进,优化后算法对写干扰故障（WDF）、写破坏耦合故障（CFwd）、干扰耦合故障（CFds）和字内耦合故障的检测能力得到了显著提高。结果表明,优化后的算法相较于March C+算法,其故障覆盖率提高了25个百分点,且与时间复杂度相同的March SS算法相比,其故障覆盖率提高了5.8个百分点。     

嵌入式存储器MBIST设计中内建自诊断功能研究

针对大规模嵌入式存储器可测性设计技术——存储器内建自测试（MBIST）中的故障诊断问题,介绍了MBIST设计的扩展功能——存储器内建自诊断（MBISD）。在引入存储器内建自测试的基础上,详细分析了存储器内建自诊断模块根据输出故障信息自动分析器件失效原因、并对失效单元进行故障定位和识别的基本原理及其中的关键算法,并用一块SRAM的MBIST设计（采用Mentor公司的MBISTArchitect完成）中的MBISD具体实例进行了仿真验证。存储器内建自诊断的应用,大大提高了存储器的成品率。     

一种基于存储器故障原语的March测试算法研究

研究高效率的系统故障测试算法,建立有效的嵌入式存储器测试方法,对提高芯片良品率、降低芯片生产成本,具有十分重要的意义.从存储器基本故障原语测试出发,在研究MarchLR算法的基础上,提出March LSC新算法.该算法可测试现实的连接性故障,对目前存储器的单一单元故障及耦合故障覆盖率提升到100%.采用March LSC算法,实现了内建自测试电路(MBIST).仿真实验表明,March LSC算法能很好地测试出嵌入式存储器故障,满足技术要求.研究结果具有重要的应用参考价值.     

GPS基带芯片中存储器的可测性设计

GPS基带芯片中嵌入的存储器采用存储器内建自测试(Memory Built-in-Self-Test,MBIST)技术进行可测性设计,并利用一种改进型算法对存储器内建自测试电路的控制逻辑进行设计,结果表明整个芯片的测试覆盖率和测试效率均得到显著提高,电路性能达到用户要求,设计一次成功.     

VPX平台的多板卡FPGA动态配置方法

针对VPX平台板卡的FPGA通常采用上电时从非易失性存储器主动加载配置数据的方式,存在灵活性较差的缺点。文中提出了一种基于CPU+SPI总线+CPLD的多板卡FPGA动态配置方法,可在不开箱的情况下对平台内各板卡FPGA进行动态配置。经测试,该方法配置10.9 MB大小的数据用时约为7 s,具有较好的灵活性和可靠性     

基于USB2．0的Flash编程器的FPGA实现

Flash闪存是一种非易失性存储器,由于与其他类型非易失性存储器相比具有容量大、访问速度快、成本低廉、使用方便等许多优点,广泛应用于工业控制、通信设备、办公设备、家用电器等领域.利用存储信息掉电不丢失的特点,Flash常常用来存储程序、系统参数、关键数据等内容.