平行光管杂散辐射对红外辐射定标影响的分析

利用黑体与平行光管组合是红外辐射定标的重要手段之一。然而,由于平行光管自身存在热辐射,会在系统探测器上形成杂散辐射噪声,如果不进行处理,将产生定标误差,影响定标精度。建立了平行光管杂散辐射理论模型,定量分析不同工作温度、不同表面发射率下镜面的杂散辐射,确定杂散辐射对红外辐射定标的影响。同时提出杂散辐射修正措施,消除平行光管杂散辐射对红外辐射定标的影响,提高红外辐射定标的精度。     

红外焦平面探测器杜瓦组件杂散辐射研究

在对红外焦平面探测器杜瓦组件杂散辐射分析的过程中,建立了分析模型,通过对模型进行光线追迹,找到了窗片、滤光片、冷屏、探测器芯片的反射是产生杂散辐射的原因。针对这些原因,采取了相应抑制杂散辐射的方式,包括通过镀膜降低窗片、滤光片反射率,通过发黑、设计多层隔板来提高冷屏的吸收能力,通过在探测器芯片上制作可靠性高的微纳结构来降低表面反射率等,起到了较好的效果。     

冷屏结构与冷屏效率

红外探测器中,冷屏结构设计直接影响其杂散辐射抑制能力。为进一步提高冷屏效率,针对冷屏高度、外壳结构对冷屏杂散辐射抑制的影响进行分析。分析采用数学建模的方式,对计算结果与探测器组件测试结果进行比较,总结规律。当冷屏高度为25 mm,探测器组件测试结果为5.46%,当冷屏高度增高到29 mm,冷屏的非有效抑制杂散辐射结构和有效抑制杂散辐射结构组件测试结果分别为6.11%和4.87%。提出了一种冷屏结构设计的新思路,仅增加冷屏高度,不一定可以提高冷屏效率;挡光环有效抑制杂散辐射时,随着冷屏高度增高,杂散辐射抑制能力变强,冷屏效率随之增高,红外探测器性能有所改善,此时调整冷屏外壳结构不会影响冷屏效率。     

红外探测器内部颗粒物对图像的影响

在高灵敏度的红外光学系统中,来自系统内部的热辐射是影响系统探测性能的重要因素之一。污染颗粒物通常是杂散辐射的主要来源,除了光学元件的表面污染,探测器内部也会存在污染颗粒物。文中主要研究探测器内部颗粒物对焦平面光场分布产生的影响。根据红外辐射及散射原理建立了相应的理论模型,对探测器内部不同温度、不同位置的颗粒物在焦平面上形成的光场分布进行了仿真计算和对比分析,并进行了实验验证。结果表明,探测器内部如有颗粒杂质,在一定的使用环境下,可在探测器焦面上产生黑斑、白斑、黑点白斑等异常现象,而这些异常光场分布会对场景中的红外目标物产生干扰,造成误判,从而影响对目标的准确识别。因此应采用措施以保证探测器内部的洁净度,防止颗粒物的产生。     

磁化杯对家电的危害

随着人们健康意识的增强,用磁化杯饮水的消费者越来越多。但是,磁化杯若摆放不当,就会对家用电器带来危害。许多家用电器如彩色电视机、录像机、录音机等都怕外界磁场的干扰。据测定,目前国内生产的磁化杯磁场强度一般高达300高斯,若将其放在上述家用电器或手表周围,磁化杯所产生的磁场足以对     

彩色TV用扬声器漏磁场的测量

扬声器的杂散磁场会使彩色显象管的三条电子束产生附加偏转,对色纯度和三条电子束运动轨迹彼此吻合的精度产生不良影响。为此,要求彩色电视机用扬声器必须漏磁极小。通常是在扬声器磁体外面加磁屏蔽罩来减小漏磁。漏磁指标已成为彩电用扬声器的一项重要参数。     

采用双窗口红外探测器的道面温度遥测系统

在外场应用环境中,红外道面温度遥测系统的自身温度会发生较大幅度的变化,引起的内部杂散辐射变化会导致较大的系统测量误差。设计了采用双窗口红外探测器的红外道面温度遥测系统,同时对目标物辐射和内部杂散辐射进行实时测量,并在考虑探测器温度效应的基础上,建立了扣除内部杂散辐射影响的道面温度计算模型;标定实验结果表明:当探测器工作温度和测量目标温度分别在?10~40 ℃、?10~60 ℃范围时,探测器温度效应和辐射定标函数均可以做线性化处理,并呈线性叠加效果,验证了道面温度计算模型的合理性;经过标定后,红外道面温度遥测系统与Pt100接触式温度传感器进行了外场比对测试,得到测量系统与Pt100接触式温度传感器的测量数据相关性达到98.7%,其中夜间测量误差低于2.78%,表明了系统可在环境温度变化的外场条件下准确测量道面温度。     

输电线杂散磁场的屏蔽一例

电镜通常容许的杂散磁场值为2—5毫高斯,视镜筒的屏蔽及要求的分辨本领而定。如果超出电镜制造厂的规定值,将导致电镜成象模糊而影响了分辨率。一、杂散磁场的检测。去年,我们向日本电子公司订购了一台透射电镜(JEM—100CX),电子光学放大倍数可达45万倍,分辨率为2.0A。使用说明书中规定安装环境的杂散磁场值应低于3毫高斯。但实测我们的电镜室,其杂散磁场值却高于10毫高斯,大大超出了要求。用测试线圈及示波器多次反复跟踪检查,发现干扰源不属于附近实验室用电装置,     

彩电消磁电路的设计

１消磁原理由于地磁场等外界杂散磁场对运动电子束的影响，导致电子着屏误差，使色纯度和会聚变差，为此，CRT中往往采取磁屏蔽措施（彩电基本采用内磁屏蔽方法加以解决），但是CRT的荫罩、荫罩框架和防爆带均为易导磁的金属材料，在周围的地磁场及杂散磁场作用下，极易磁化，其磁化后的剩磁也会影响电子束的扫描轨迹，从而增大着屏误差，这种磁化影响是内磁屏蔽所无法解决的，而需要依靠外界来消磁。彩电在移动或搬运时，其所处磁场随时都在改变，从而使荫罩、框架、防爆带等金属材料受磁化，产生剩磁，导致色纯和会聚不良，为解决这个…     

辐射杂散测试规范浅谈

随着智能家用电器产品种类日益增多和产品无线通信功能的普及,辐射杂散(Radiated Spurious Emission,RSE)信号已成为影响产品通信稳定性的主要影响因素.规范地对无线通信类产品的辐射杂散进行测试,非常重要.对此,详细介绍辐射杂散测量方法对辐射杂散场地的要求、被测物布置以及测试过程等环节.     

热红外光谱仪系统的内部杂散辐射定标与测量技术

提出了一种热红外光谱仪系统内部杂散辐射的测量方法,该方法基于探测器和热红外光谱仪系统的辐射定标.通过分别单独标定探测器对黑体辐射能量的全谱段输出响应曲线和光谱仪系统对黑体辐射能量分光后单一光谱通道的输出响应曲线,从而定量得出光谱仪的内部杂散辐射灰度值及辐射通量值且能计算出不同积分时间和光机温度时内部杂散辐射的灰度值及辐射通量.采用该方法对现有光谱仪内部杂散辐射进行了实验测量,并进行了对比实验,结果表明,对比实验值与理论预测值误差偏离小于1%.该方法可操作性高,可用于测量热红外光谱仪内部杂散辐射在总输出DN值中的占比、预测光谱仪制冷对内部杂散辐射的影响、测量其他内部杂散辐射抑制手段的效果等.     

不同冷屏黑化工艺对红外探测器性能的影响

结合红外探测器的光学性能设计,介绍了利用冷屏黑化层工艺来吸收和抑制杂散辐射的原理。基于同一种冷屏结构,对比了三种不同的表面黑化工艺,并测试分析了冷屏黑化层的表面吸收率等物理性能参数。通过红外探测器性能测试,分析了不同冷屏黑化工艺对红外探测器性能的实际影响。结果表明,在2～14 μm波段,2#和3#冷屏黑化工艺的表面吸收率的一致性较好;在8～11 μm波段,它们对红外探测器的杂散辐射具有良好的吸收与抑制效果。     

多光谱制冷型红外系统杂散辐射抑制技术研究

对采用制冷型中波红外探测器的光学系统,设计了一个多光谱中波红外汇聚系统,针对分色滤光片引入外界杂散辐射的问题,设计了一个热辐射抑制光阑,对其形状及位置不断地迭代优化,达到抑制系统外界杂散辐射的目的.经TracePro仿真验证表明,运用此热辐射抑制光阑后,总的杂散辐射降为之前总杂散辐射的8.8％,对改善成像质量有明显的效...     

正交波形MIMO雷达对发射杂散影响的改善

雷达在波形产生和传输过程中会产生杂散信号,这些杂散信号可能干扰雷达检测,产生EMI等。由于正交波形MIMO雷达各个发射通道的发射信号波形是正交的,而某些发射杂散对阵列是不相干的,因此不会产生阵列处理增益,从而就减小了对雷达本身及其他RF系统的干扰。本文分析了雷达发射杂散的信号模型,讨论了发射杂散对正交波形MIMO雷达和传统相控阵雷达的目标检测性能的影响,说明了MIMO雷达在减小杂散影响方面的性能优势。     

浅谈CRT显示器中的消磁电路设计

ＣＲＴ显示器图像的重现,是依靠电子束对显像管（ＣＲＴ）屏幕荧光粉的轰击发光形成的,而电子束在空间位置上的运动,是由偏转线圈产生的电磁场控制的,因此说,电磁场的正确产生对电视图像的再现具有决定性的作用。显像管生产厂家为防止杂散磁场和地磁场对电子束的偏转产生影响,而造成显像管的色纯下降、会聚不良等,通常在显像管的坠体周围加上一个由０．５ｍｍ厚的冷扎钢片制成的磁屏蔽罩,起到了一定的磁屏蔽作用,但该屏蔽罩本身和防爆卡箍、支架、荫罩板等铁制部件会因磁场的作用而被磁化,同样会严重影响显像管的色纯和会聚。由于…     

FDDLTE与TD-LTE基站邻频杂散辐射的研究

随着LTE技术的初步商用,FDDLTE和TD-LTE基站邻频共存的情况很可能出现,这两种LTE基站间将会产生邻频干扰。基站发射机输出的信号通常为大功率信号,基站发射信号有可能会在有用频带之外产生较大的杂散辐射。杂散辐射对异系统的影响在这两种基站工作频段相邻时更为严重,本文正是基于这种场景对两种LTE基站之间邻频共存的杂...     

测试回路杂散电感消除技术研究

由于测试回路中的杂散电感会在被测器件开通和关断的过程中感应出较高的电压尖峰,增大了被测器件的电压应力,严重影响被测器件相关参数的测试精度,甚至导致被测器件损坏。对高压探针测试系统测试回路中产生杂散电感的原理进行研究,通过仿真分析和优化设计,提出了一种在测试回路中采用叠层母排结构以降低杂散电感的解决办法。     

大屏幕彩电新型消磁电路原理

<正> 彩色电视机显像管内的栅网、荫罩等部件都是用金属材料做成的。地磁场、周围杂散磁场以及电视机正常工作时在机内形成的磁场,都会使这些金属部件磁化,从而使电子束发射的红、蓝、绿三条电子束的运动轨迹发生不应有的偏离,不能准确地击中荧光屏上相应的红、蓝、绿荧光粉色素基点上,这样就会产生异常色彩(或不规则的色斑)。为了消除显像管上可能出现的磁化现象,彩电中都设置了自动消磁电路。     

地铁杂散电流监测系统的构成及综合治理

针对杂散电流产生的原因,阐述了杂散电流监测系统的基本构成,提出了杂散电流的防护综合治理的方法.同时,根据杂散电流产生的危害,通过"以防为主、以排为辅、防排结合、加强监测"的途径,结合杂散电流的监测与防护,着重从"防"、"排"两个方面采取措施,对其进行了有效的治理.研究表明,通过杂散电流监测系统的应用,有效控制了地铁杂散电流产生的危害.     

元件缺陷对红外光学系统杂散辐射特性的影响

针对红外光学系统元件表面缺陷问题，基于米氏散射理论定量分析了不同疵病等级光学元件表面散射特性，讨论了光学元件表面双向散射分布函数（BSDF）的变化规律，进而建立光学元件不同疵病等级的散射模型。在此基础上，以双子望远镜系统为例，利用ASAP光学分析软件对其主镜在不同疵病等级的情况下，到达探测器像面上的系统自身热辐射通量及其分布进行了仿真计算，并根据有效发射率的定义，对系统杂散辐射性能进行了定量评价。研究分析发现:光学元件不同疵病等级不仅会造成系统杂散辐射特性及其在探测器像面上的辐射通量分布发生变化，而且还会导致其有效发射率发生变化。对主镜疵病等级分别为0、I-10、I-20、I-30、II和 III的情况，计算得到系统有效发射率分别为2.19%、2.34%、2.46%、2.59%、2.72%和3.08%。由此可见，随着疵病等级的增加，系统杂散辐射性能逐渐降低。实际工作中，必须严格控制光学元件表面疵病等级。