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线阵CCD在高精度测量系统中的照明选择 总被引:3,自引:0,他引:3
本文讨论了线阵CCD在一非接触高精度测量系统中照明光源的选择问题。由于测量点多,要求测量速度,精度高,线阵CCD又处于运动状态,因此在光积分时间非常短的情况下,对物体的照明提出了较高要求。本文在实验基础上通过比较多种照明光源,找出了满足高精度、高速度测量系统测量要求的照明光源。 相似文献
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基于多线阵CCD的激光投线仪数字化检测 总被引:1,自引:0,他引:1
在分析现有激光投线仪主要技术指标的基础上,提出了利用8个线阵CCD和1个面阵CCD对激光投线仪进行检测的基本原理以及误差判定方法,通过上位机软件对CCD所采集到的数据进行统一处理,并给出检测结果,同时进行存档打印。实践证明,该方法能大大提高检测效率。 相似文献
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目的 为了提高包装机纠偏控制的精度和通用性,提出一种纠偏检测方法。方法 采用两路线阵CCD成像,并比较两者CCD信号,判断材料在工作过程中是否发生跑偏现象,然后通过控制器进行纠偏操作。结果 两路CCD灰度值显著变化的像元位置表明了带材的边缘位置,通过两像元的差值即可判断带材是否发生跑偏,方案可行。结论 相较于以往的CCD的检测方法,该方法稳定性和精度均有所提高,并且当材料的宽度在一定范围内变化时,纠偏装置仍可以工作,而不需要其他操作,通用性也有一定提高。 相似文献
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本文提出了一种应用线阵CCD器件测量照明光场均匀度的新方法,并给出了测量系统的结构框图。 相似文献
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通过分析基于线阵CCD器件的一维尺寸测量原理 ,系统讨论了基于CCD器件各种一维尺寸的测量方案 ,同时分析了各种测量方案所产生的测量误差的计算方法 相似文献
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线阵CCD位移测试技术的误差分析 总被引:6,自引:0,他引:6
利用线阵CCD进行位移测量的两种方法 :边缘检测法和中心检测法 ,其相关的误差来源是不同的。根据静态位移测量和动态位移测量两种情况 ,从原理上对边缘检测法和中心检测法的测量误差进行了分析并对两种方法进行比较 ,分析了应用中存在的局限性。 相似文献
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CCD高速信号采集和处理系统 总被引:4,自引:1,他引:4
介绍了一种用于线阵CCD高速数据采集的方法和系统,用双CCD图象存储体逐场存储CCD信号,CPU直接对存储体进行寻址运算的原理,并用8097单片机构成的16位数据总线CPU单元,实现了CCD信号的高速采集及处理。 相似文献
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介绍了线阵CCD器件用于二线小角度测量的研究,给出了一种线阵(二双坐标自准直仪及其测量原理、仪器硬件和软件设计。实验表明:所研制的CCD双坐标自准在仪量程为±5,分辨力优于0.2",测量精度优于1"。 相似文献
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根据国内外高精度图象测量系统方法的文献资料,对各种细分方法的优缺点、适用范围作了详细的比较对照.在此基础上,提出一种适用于实际离线对准系统的细分方法一自适应权重5点拟合细分算法(AWS),分析其理论基础和创新点,并给出仿真结果。 相似文献
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讨论了用电荷耦合器对件对线纹量具进行非接触测量的理论与方法,介绍了一种笔者实践过的应用系统并阐述了系统的计算机控制原理。 相似文献
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针对CCD校准器控制系统的技术要求,设计了基于ADI公司的微处理控制芯片ADuC812为核心构成的测量控制系统。为CCD校准器辐射源提供稳定的电压、电流输出以及对辐射源的照度值进行实时监控,实现CCD校准器光辐射源所要求的稳定性输出。 相似文献
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CCD传感器在工业测控中的应用现状及展望 总被引:4,自引:0,他引:4
本文简要讨论了CCD传感器用于工业测控系统中的检测原理 ,并论述了CCD传感器在工业测控中的应用现状 ,对CCD传感器及其在工业测控应用中的发展趋势进行了展望。 相似文献
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介绍了采用双面镜像镀膜法在线阵CCD上产生小光点的新机理,并从本工程具体需要的 角度与产生平行光的常规方案做了分析对比,对光路进行了数学分析,通过衍射分析得到了缝宽、盘厚和发散角的函数关系,得到了小且清晰的光点,该技术具有结构简洁实用,对光源的要求低等特点。 相似文献