基于Talbot效应的电光调制位相阵列器

利用周期极化反转的铌酸锂晶体设计与制备圆形周期单元六角结构排列的可调位相阵列器,对位相阵列器的Talbot效应光衍射成像进行理论和实验研究,得到了不同位相差和不同分数Talbot距离条件下阵列器近场衍射的理论仿真和实验观测图像,实验结果与理论研究相符.计算衍射场取样区域内平均强度,获得取样区内强度随位相差和Talbot距离变化的曲线,揭示了位相差和衍射位置对阵列器衍射强度分布的影响.     

平面波圆环光阑衍射的边界衍射波理论

根据Maggi-Rub inowic边界衍射波理论和亥姆霍兹-基尔霍夫积分定理,给出了平面波圆环边界衍射波积分公式.圆孔、圆屏衍射以及轴上光场分布可作为其特例得到.分析了衍射场的轴上光强分布特点.数值计算比较表明,使用文中所给公式与直接用基尔霍夫衍射积分公式作数值计算的结果完全一致,而在近场使用瑞利衍射积分与文中结果有较大差异.     

关于标量衍射理论在二元化透镜设计中的应用极限的探讨

本文分别用菲涅耳衍射公式和瑞利－索末菲衍射公式对不同数值孔径的二元化透镜的衍射问题进行了计算机模拟，给出了计算结果，从中得出了菲涅耳衍射公式和瑞利－索末菲衍射公式各自的应用范围。并对大数值孔径二元化透镜设计中的应用严格电磁理论问题作了讨论。     

柯林斯公式的近似计算及应用研究

为了验证柯林斯公式的一种近似计算方法,对光波通过方形孔径光阑及一薄透镜时的衍射图像进行理论计算,并与实验结果进行比较.研究结果表明,理论计算与实验结果一致.利用该方法对透镜的焦距进行了测量,将测量结果与传统方法测得的焦距进行比较,两者误差不到1%.     

硬边衍射多色部分相干光束谱强度的快速计算

为了在微机上快速地计算各类被硬边光澜衍射后的谱强度,采用复高斯函数展开模拟硬边衍射效应,推导出了多色高斯-谢尔模型光束被硬边光阑衍射后谱强度的近似解析表达式,并将所得结果与传统方法(直接对交叉谱密度函数传输公式数值积分)进行了比较。结果表明,所得公式在保证计算精度的前提下,具有大大地节省计算机时的优点,以平顶高斯光束为例,证明所采用方法可同样推广用于其它光束被硬边光阑衍射后谱强度的计算。该方法具有普遍意义。     

多矩孔菲涅耳衍射的数值模拟

本文由衍射积分公式出发,利用数值模拟方法对多矩孔的菲涅耳衍射进行分析,基于菲涅耳衍射积分法,提出了一种针对多矩孔菲涅耳衍射的数值算法,同时给出了相应的Matlab程序以及仿真结果。从数值分析结果可以看出,该研究结果对于实验验证和计算较为复杂的多矩孔菲涅耳衍射现象具有重要的理论参考意义。     

T形结构在位测量薄膜中残余张应力的理论研究

给出了考虑梁的轴向载荷情况下理论计算公式的推导过程,在变形较大时两种公式计算结果最大相差9.65%.用LPCVD技术制作了几种大小不同的T形梁结构,给出了残余张应力与杨氏模量比值.     

T形结构在位测量薄膜中残余张应力的理论研究

给出了考虑梁的轴向载荷情况下理论计算公式的推导过程 ,在变形较大时两种公式计算结果最大相差9.6 5 % .用 L PCVD技术制作了几种大小不同的 T形梁结构 ,给出了残余张应力与杨氏模量比值 .     

部分相干光光栅衍射新特性研究

基于Diriehlet边界条件下瑞利一索末菲衍射积分公式,文章推导出了部分相干光光栅衍射场中交叉谱密度的计算表达式,并以高斯一谢尔模型光束为例研究了部分相干光光栅衍射场中光强的空间分布。数值计算发现部分相干光光栅衍射场中存在极值光强的衍射角不随入射点位置改变而改变和衍射场中极大光强的中央有凹陷,且凹陷深度随光束束宽的减小而变大的新特性。最后利用严格电磁场理论比较研究了本文中的结果。     

衍射的基尔霍夫传递函数及瑞利—索末菲传递函数

由于菲涅耳衍射积分可以简单地表为卷积的形式，可以利用快速傅里叶变换（FFT）计算。通常认为，只有在菲涅耳衍射区，衍射的FFT计算才是可能的。事实上，基尔霍尔夫公式及瑞利-索末菲公式也可以表为卷积形式，可以用FFT对衍射问题作较准确地计算。本文将导出衍射计算的基尔霍夫公式及瑞利-索末菲公式的卷积形式及对应的传递函数，给出用FFT计算基尔霍夫公式及瑞利-索末菲公式的实例，讨论FFT的取样问题，并与实验测量进行比较。     

多层膜周期厚度的精确计算

布拉格修正公式可以用于计算基底是平面的软X射线多层膜周期厚度,但对于基底是曲面的多层膜,小角X射线衍射峰角度常常发生漂移,用该公式计算的周期厚度就与实际周期厚度不一致。分析了衍射峰角度位置漂移现象,对以布拉格公式为基础的多层膜周期厚度计算公式进行了修正,实验结果显示,利用修正公式获得的多层膜周期厚度比较接近多层膜实际周期厚度。     

Interrelations between defects in the Hg1−xCdxTe epilayers and their measured lattice parameters and composition

Absolute values of lattice parameters in Hg_1−xCd_xTe epilayers were precisely measured by high-resolution x-ray diffraction (Bond method), and then compared with those calculated using Cd contents, x, which were derived from Fourier transform infrared transmission spectra. A part of the samples revealed significant discrepancies between measured and calculated lattice parameters, the differences being both of positive and negative signs. The obtained results are discussed in the framework of clusters of the point defects that were visualized by high-resolution scanning electron microscopy.     

Influence of Transited Layer of Multilayer on X-ray Diffraction Intensity and Calculation of the Thickness

This paper integrates the roughness with the diffuse layer as a transited layer factor for study of influence of the practical interface on the X-ray diffraction intensity of multilayer. By the study of a simple model of transited layer presented in this paper, it is given a formula to describe the quantitative relation of the transited layer with the X-ray diffraction intensity. The calculated thickness of transited layer of Mo/Si multilayer is given, which is consisted with the values measured with the high resolution microscopy.     

波面偏心对共轴透镜axicon衍射图的影响

应用衍射理论推导出了入射波偏心情况下的衍射圈计算公式。模拟的数值计算的结果与实验一致。同时讨论了偏心后衍射图变化的各种特性，并导出了偏心限制量计算公式。     

Radiation from conical horns with large flare angles

Radiation patterns of conical horns with large flare angles excited in theTE_{11}mode are calculated from a simple solution for horn modes using the vector diffraction formula. Radiation patterns are expressed in closed form when the half-flare angle is less than30deg. Patterns obtained by experiment show close agreement with calculated results.     

Diffraction of a high-frequency electromagnetic wave by an elongated body of revolution

It is shown that, the Fock asymptotics can be applied in problems of diffraction by elongated bodies at values of the asymptotic parameter k _ρ > 300, while in problems of diffraction by a cylinder at k _ρ ≈ 3. Reasons for this narrowing of the applicability region for the Fock asymptotics are analyzed, and a new special function of two arguments is introduced. The function yields an asymptotics of the current on the surface of a strongly elongated body within a noticeably wider range of parameters. The values of the current calculated according to the new asymptotic formula are compared to exact values, and it is numerically shown that, as the degree of the body’s extension is reduced, the new asymptotics becomes the Fock asymptotics.     

EASE中％ALcons的计算方法

EASE中计算辅音清晰度损失百分率的Peutz公式有多种形式，基于扩散声场理论推导出不同形式的Peutz公式的计算方法，并计算了一个具体算例。理论推导和算例研究表明：EASE的标准模拟中的％ALcons计算值与理论推导值吻合：不同形式的Peutz公式之间存在一定关系。算例计算显示，EASE中AURA模块计算的％ALALcons值与理论推导值之间存在较大差异；相同形式Peutz公式在不同分割时间时计算值之间存在较大差异，同一分割时间不同形式Peutz公式的计算值之间也存在较大差异。     

阻抗劈的UTD公式(TM情形)

本文给出了TM平面波被一照射面为阻抗表面的导体劈绕射的一致性几何绕射公式.利用该公式,我们计算了涂覆有耗介质的矩形平板的后向雷达散射截面,计算结果与测量值吻合较好.     

Microstructural study of SnO2-based nanoparticles by X-ray diffractometry

Two tin dioxide samples undergone to different thermal treatments have been studied by X-ray diffraction profile analysis, using the modified Williamson-Hall and Warren-Averbach methods. Assuming <10-1>{101} slip system and screw dislocations, the area and volume-weighted average particle sizes have been evaluated for both samples. The assumed log-normal particle size distribution has been calculated from these values. This distribution is in good agreement with the derived from SEM micrographs for the sample with lower particle size. Values of the dislocation densities were estimated around 10¹⁴ m⁻² for the sample with lower grain size and around 10¹² m⁻² for the sample with greater grain size. The difference in the results for the analyzed samples could be explained from the difference between the treatments after synthesis.     

用夫朗和费衍射法测定微粒直径的准确度

本文认为文献 [1]的结论是错误的。作者从标量衍射理论的瑞利 - -索末菲公式出发 ,导出了描述通过照明波发散中心并与衍射屏平行的观察面所接受到的衍射花样的夫朗和费衍射公式及其成立条件。并将上述公式应用到二维随机分布的微粒系统 ,从而导出了描述此系统相应的夫朗和费衍射花样的光强公式及粒径测量公式。指出当用夫朗和费衍射法测量微粒直径时 ,只要应用文中导出的在大衍射角情形下亦成立的测量公式 ,便能得到正确的结果 ,并不存在文献 [1]所提出的随衍射角增大而增加的系统误差。相反 ,对于偶然误差而言 ,当衍射距离不变时 ,随着衍射角的增加 ,偶然误差反而减小 ,测量的准确度增加