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基于March算法的存储器内建自测试电路能够获得很高的故障覆盖率,但在测试小规模的存储器时暴露出了面积相对比较大的缺点.针对大屏幕Timing Controller芯片"龙腾TC1"中4块640×18 bit SRAM"按地址递增顺序连续进行写操作"的工作特点,提出了一种新的存储器内建自测试方法.该方法按照地址递增顺序向存储器施加测试矢量,避免了直接采用March C算法所带来的冗余测试,简化了内建自测试电路,大大减少了由管子的数量和布线带来的面积开销,可达到March C 算法相同的"测试效果". 相似文献
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基于FPGA的SRAM测试电路的设计与实现 总被引:2,自引:0,他引:2
为了保证独立的SRAM模块或嵌入式SRAM模块功能的完整性与可靠性,必须对SRAM模块进行测试。介绍了一种基于Ahera DE2开发板的面向字节的SRAM测试电路的设计与实现。测试算法采用分为字内和字间测试两部分的高故障覆盖率March C-算法;设计的测试电路可由标准的JTAG(联合测试工作组)接口进行控制。设计的测试电路可测试独立的SRAM模块或作为BIST(内建自测试)电路测试嵌入式SRAM模块。验证结果表明该SRAM测试系统是非常高效的。 相似文献
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针对LS-DSP中嵌入的128kb SRAM模块,讨论了基于March X算法的BIST电路的设计.根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率,讨论了测试算法的选择、数据背景的产生:完成了基于March X算法的BIST电路的设计.128kb SRAM BIST电路的规模约为2000门,仅占存储器面积的1.2%,故障覆盖率高于80%. 相似文献
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制造工艺的不断进步,嵌入式存储器在片上系统芯片中的集成度越来越大,同时存储器本身也变得愈加复杂,使得存储器出现了一系列新的故障类型,比如三单元耦合故障.存储器內建自测试技术是当今存储器测试的主流方法,研究高效率的Mbist算法,是提高芯片成品率的必要前提.以SRAM的7种三单元耦合故障为研究对象,通过分析故障行为得到三单元耦合的72种故障原语,并且分析了地址字内耦合故障的行为,进而提出新的测试算法March 3CL.以2048X32的SRAM为待测存储器,利用EDA工具进行了算法的仿真,仿真结果表明,该算法具有故障覆盖率高、时间复杂度低等优点. 相似文献
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一种基于存储器故障原语的March测试算法研究 总被引:1,自引:0,他引:1
研究高效率的系统故障测试算法,建立有效的嵌入式存储器测试方法,对提高芯片良品率、降低芯片生产成本,具有十分重要的意义.从存储器基本故障原语测试出发,在研究MarchLR算法的基础上,提出March LSC新算法.该算法可测试现实的连接性故障,对目前存储器的单一单元故障及耦合故障覆盖率提升到100%.采用March LSC算法,实现了内建自测试电路(MBIST).仿真实验表明,March LSC算法能很好地测试出嵌入式存储器故障,满足技术要求.研究结果具有重要的应用参考价值. 相似文献
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抗单粒子翻转效应的SRAM研究与设计 总被引:1,自引:0,他引:1
《固体电子学研究与进展》2013,(5)
在空间应用和核辐射环境中,单粒子翻转(SEU)效应严重影响SRAM的可靠性。采用错误检测与校正(EDAC)和版图设计加固技术研究和设计了一款抗辐射SRAM芯片,以提高SRAM的抗单粒子翻转效应能力。内置的EDAC模块不仅实现了对存储数据"纠一检二"的功能,其附加的存储数据错误标志位还简化了SRAM的测试方案。通过SRAM原型芯片的流片和测试,验证了EDAC电路的功能。与三模冗余技术相比,所设计的抗辐射SRAM芯片具有面积小、集成度高以及低功耗等优点。 相似文献
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本文基于SMIC 40nm LL CMOS工艺对一款256Kb的低电压8T SRAM芯片进行测试电路设计与实现,重点研究低电压SRAM的故障模型和测试算法,并完成仿真验证与分析。电路主要包括DFT电路和内建自测试电路两部分,前者针对稳定性故障有着良好的覆盖率,后者在传统March C+算法基础上,提出了一种新的测试算法,March-Like算法,该算法能够实现更高的故障覆盖率。仿真结果表明,本文设计的DFT电路能够减小稳定性故障的最小可检测电阻,提高了稳定性故障的测试灵敏度;March-Like算法可以检测到低电压SRAM阵列中的写破坏耦合故障、读破坏耦合故障和写干扰故障。 相似文献
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自旋转移矩的随机存储器(Spin Transfer Torque Magnetic Random Access Memory, STT-MRAM)以其非易失性、读写速度快、数据保持时间长、完全兼容CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)工艺等优势在新型存储器中脱颖而出.随着其产业化的投入暴增和应用规模的扩大,STT-MRAM存储器产品的质量和可靠性测试十分必要.当前,最常用的March测试算法在对STT-MRAM的性能进行验证时,存在测试复杂度与故障覆盖率两者不匹配的难题.针对于此,从STT-MRAM的制造缺陷形成和分类出发,将部分针孔故障的表现形式,采用March敏化的方式检测,并基于此类故障类型,提出了一种高故障覆盖率的March CM测试算法,根据此算法设计相应的内建自测试(Build-In Self-Testing, BIST)电路.仿真验证及对STT-MRAM的板级测试显示这一设计达到了兼容高复杂度和高覆盖率的测试要求. 相似文献
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AVR系列ATmega128L单片机作为主控芯片,该芯片可通过ISP接口方便地对其内建Flash进行擦除和写入操作;采用DALLAS公司的具有涓细电流充电功能的低功耗的DS1302作为实时时钟芯片,该芯片可以对年、月、日、周日、时、分、秒进行计时,还具有闰年补偿等多种功能,而且其使用寿命长,误差小;采用DS18820获得当前环境温度;采用128×64像素的LCD用汉字直观显示年月日、时分秒、农历、生肖、室温等丰富内容;采用四颗独立式按键可修改当前时间和设定闹铃时间;采用ISDN11语音模块和蜂鸣器实现音乐提示定时闹铃;通过农历算法,可将公历日期转换为农历年月日并可获取天干地支纪年、生肖、节气等相关农历信息。 相似文献
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城区高低层混合居民楼区域作为无线网络覆盖难点,传统宏站无法进行有效的覆盖。本文通过采用“微覆盖、微对打”的建设方式有效解决“高低层混合居民楼”无线网络信号的深度覆盖问题。 相似文献
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田景成 《信息安全与通信保密》2010,(11):24-24
信息化的发展过程是应用不断丰富、完善和创新的过程,同时也是病毒和网络攻击演进的过程。计算机病毒随计算机而来,随应用而变,不断调整发展方向、攻击目标和攻击方式。在字处理时代,病毒更多的是以删除文件、阻止用户使用计算机为乐。网络盛行,应用增多时,拒绝服务攻击是那个时代的里程碑事件,病毒作者更加彰显个性,追求轰动效应。 相似文献
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介绍了STK软件的主要功能及其在航天工程领域的应用。在介绍该软件功能和特性的基础上,分析了在卫星地面应用系统的建设中地面接收站选址对系统效能的影响,以及在系统运行管理中控制卫星传感器进行目标探测时的访问计算问题,结合具体应用提出了利用STK工具软件分析和解决问题的方法。 相似文献
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串行外设接口SPI的应用 总被引:2,自引:0,他引:2
研究了用软件扩展8031SPI的实现方法。介绍了8031单片机与MC14489的电路设计及软件设计方法。该方法设计的软件系统易于适应需求的变化,具有较好的扩充性和易维护性。通过实践证明该方法有效。 相似文献
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提出了基于PKI/PMI的统一应用安全平台的设计思想,由访问控制、数据验证、安全审计等安全服务组件构成,实现了应用系统的强身份认证、访问控制、数据验证、安全审计等安全服务机制。最后描述了统一应用安全平台在B/S和C/S模式应用系统中的应用。 相似文献
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尹晓晖 《信息安全与通信保密》2008,(3):64-65
随着IT系统规模和范围的扩大,在应用系统中,应用层面的安全问题仍然是复杂和具有挑战性的工作。论文概述了公钥基础设施(PKI)在应用系统中的应用和建设问题,并在总结国内很多成功的应用安全建设项目的基础上给出了应用安全支撑系统的设计理念,此理念主要是将PKI基础设施和应用相对分离,使用应用安全支撑系统将PKI基础设施和应用更好地进行连接。应用安全支撑系统的存在将很大程度解决PKI和应用很难集成的问题,并能在一定程度上将安全和应用相对分开,使得PKI技术更能在应用中得到普及和使用。 相似文献