X-射线衍射法测定扩散率

由于X-射线衍射理论和技术的发展,加之使用已建立的扩散模型,现已能使转变或反应过程的静态速率控制参数得以十分简便地测定。本文简要地叙述了动力学测定技术及数据分析程序。根据动力学数据,获取互扩散系数的方法有两种:正空间法和倒易空间法。为了表明这种分析的有效性,文中列举了三个实例:硅上Pd_2Si层的增长动力学、过饱和Ni-Si合金分解动力学以及不规则固溶体的短程有序。     

X射线衍射法测量聚合物材料应力

本文描述了无定形聚合物中的应力,可根据弥散于其中的结晶微粒或粉末填料,在高布拉格角的条件下,用X射线衍射法进行测量的实验方法。本方法经过校正后,可应用于测量作用应力和残余应力,应力松弛研究,张应力和压应力,物体内部和表面位置,各种复合材料以及大体上是均质的聚合物材料。在低应力(胡克)范围内,弥散在基体中的金属微粒的应变和应力随基体内的应力和应变线性增加。当作用应力超过与金属微粒填料的屈服强度相关的明显屈服点时,微粒的弹性应变只是稍为增加,而且随着基体应变的增加甚至降低,但作用应变恒定时,微粒由于应力松弛而显示出变化。实验表明与基体的应变相比,微粒的应变较小,而应力较高。将银粉末或铝合金粉末弥散在石墨纤维环氧复合材料中,而后进行的实验表明,在350℃固化,接着冷却到室温所产生的压残余应力,以及外界作用于固化复合材料的应力可通过微粒标志出来,用快速而简便的测量法可以得到1000磅/英寸~2(0.7公斤/毫米~2或0.9兆巴)量级的精度,用更精细的方法时可获得高得多的精度。     

X射线法测定药柱的残余应力

叙述了药柱中残余应力产生的原因，介绍了残余应力的Ｘ射线测试方法及初步的测试结果。表明用Ｘ射线法测试药柱的残余应力，是一种可行的方法。     

薄膜X射线应力测试三种衍射几何比较

对比了薄膜 X射线应力测试的三种衍射几何 ,结果表明掠射侧倾法具有透入深度浅、透入深度随ψ角变化不大、对织构影响不敏感以及没有无应力试样的正、负ψ曲线分离等优点 ,所以掠射侧倾法是一种更适于薄膜应力测量的测试方法。应用掠射侧倾法测量了 PVD和 PCVD工艺的 Ti N薄膜的内应力情况 ,结果表明制备工艺对于气相沉积膜内的应力状态有较大影响。     

X射线电影摄影技术的新发展

本文举例说明近年来X射线电影摄影技术的新发展,并指出发展X射线电影摄影技术必须解决的两个问题,即发展有足够强度的X射线源,并能快速响应,有效地将X射线转换为可见光。     

X射线粉末衍射测定炸药晶体的线膨胀系数和理论密度

炸药晶体的线膨胀系数和理论密度是影响其使用性能的重要参数,X射线粉末衍射是测定炸药线膨胀系数和理论密度的重要手段。本文介绍了X射线粉末衍射测定炸药线膨胀系数和理论密度的方法和原理,结合密度梯度管法得到的RDX、HMX两种炸药晶体的实测结果说明了该方法的可靠性和准确性,并提出应加强X射线衍射在炸药晶体研究中的应用。     

实时直观X射线检验新动技术

实时直观X射线检验法能以生产线速度检验原材料、组合件或成品件的裂纹、空隙及其它疵病,检出密封金属容器内金属与异物的位置,显示熔模铸件内残留的蜡迹,事实上可完成目前由超声、磁力及传统X射线照相法所完成的各种检验任务。采用达种方法能提高生产     

含钽光学玻璃的X射线分析

实验确定了Ｔａ２Ｏ５－Ｋ２Ｏ－ＳｉＯ２系统玻璃形成范围，采用Ｘ射线衍射法研究了其玻璃结构和得出结构参数，并由此讨论了钽硅酸盐玻璃结构模型。     

X射线法测定残余奥氏体时几种积分强度测量方法

本文介绍了用X射线衍射法测定钢中残余奥氏体含量时,对采用称重法、数格法、计数法和求面积法测量积分强度进行了比较。从计算结果可以看出:四种方法所得结果非常接近,都可以满足测量要求。文中还对影响测量结果的几个主要因素进行了粗浅的讨论。     

粉末X射线衍射内标法研究丙酮溶液中β-HMX的晶习

为了研究β-HMX晶体在丙酮溶液中的晶习,采用丙酮溶剂挥发法制备了β-HMX大单晶,利用粉末Ge O_2作为内标物质,通过粉末X射线衍射内标法,确定了β-HMX晶体所有显露面的晶面指数,从实验上建立了β-HMX在丙酮溶液中的晶习模型,并与文献报道的利用不同生长模型模拟得到的晶习模型进行了比较。β-HMX晶体各个显露面的晶面指数分别为(1 0 0)、(0 1 1)、(-1 1 1)和(0 2 0),其中(1 0 0)晶面为最优生长面,其次为(0 1 1)、(-1 1 1)晶面,再次为(0 2 0)晶面,与溶剂校正后的AE模型模拟得到的β-HMX晶体在丙酮溶液中的晶习模型相符。丙酮分子与β-HMX晶体的(1 1 0)和(0 2 0)晶面的相互作用较弱,导致随晶体生长,(1 1 0)和(0 2 0)晶面逐渐消失,证明溶剂环境对HMX的晶体形貌具有很大的影响。     

工业X射线透视成像中的散射及其校正

本文以实验为基础研究了工业X射线散射对无损检测成像质量的影响、散射规律及其校正方法.通过研究散射系统的设计,用实验得出了射线散射随试件厚度的变化关系,修正了以往人们常用的散射模型,提出了指数幂散射模型,利用该模型对X射线散射用维纳滤波法进行了校正.实例表明,本法可以有效地抑制散射对成像质量的影响,使透视图像的空间分辨率与校正前相比提高了56%,取得了较好的校正效果.     

平面主应力的X射线测定方法

用X射线法测定表面残余应力,测定平面主应力的大小和方向,由此可计算出平面应力分布,许多研究者作了不少工作,但公式繁多,不便记忆。本文导出三次测量计算主应力大小和方向的普遍适用的公式,并对主应力方向的判断进行了讨论,提出了主应力方向的简单判断方法。     

高能X射线的数字图像重构

阐述了一种使用数字X射线检测大口径炮弹内部瑕疵的方法.在工程实际中,由于噪声和趋势项的存在,严重影响了被测物体图像的准确性和质量.为此,文中采用了一些减小噪声和趋势项的自适应滤波算法,从而恢复退化图像.实验结果验证了算法的可行性.     

X射线检测药柱的数字图像处理

阐述了计算机数字图像处理的原理及其在射线检测炸药药柱中的应用。现以９０ｍｍ×４０ｍｍ炸药柱为例，在药柱表面粘贴不同直径的金属丝及一定粒径的金属杂质，在不同位置加工不同直径、不同深度的孔，然后对其进行检测。实验结果表明，运用数字图像处理技术可检出０．０８ｍｍ金属丝杂质，０．１４ｍｍ金属颗粒杂质，内部２ｍｍ以上的气孔。该技术可以满足药柱无损检测要求，已达到美国ＡＳＭＥ标准规定的２２Ｔ射线照相灵敏度等级。     

等温淬火球铁的X射线定量相分析

利用X射线对等温碎火球铁进行定量相分析,是研究球铁等温转交不可缺少的方法。本文论述了对石墨、碳化物和奥氏体定量相分析的方法,指出在石墨定量相分析时进行显微吸收校正的必要性和校正计算的方法。分析了碳化物定量分析的意义和分析的方法,提出在石墨及碳化物存在的情况下残余奥氏体体积百分数的计算公式。最后讨论了不同等温淬火工艺的球铁试样进行X射线定量相分析的结果。     

一种玻璃微珠状材料的X射线分析

<正> 有一种深灰色呈玻璃微珠状材料,粒度为25～70μm。为分析其物相组成,用X射线衍射分析发现,衍射谱中无明显可见的衍射峰。众所周知,X射线衍射分析法,是分析晶体物质物相组成的一种非常有效、且迄今     

初速或然误差模拟公式的试验验证

势平衡理论的初速或然误差的模拟方法,建立在火药动静态燃烧的不均一性参量π与π'成正比,即π=θπ'的物理推断的基础上.该文通过三种七孔药的动静态燃烧试验,验证了该推断的正确性,并证实了火药的初速或然误差与其动静态燃烧的不均一性参量π、π'成正比的规律.     

一个毁歼概率近似计算公式的误差

分析了毁歼概率二项式展开近似计算公式的误差，用数值结果进一步说明了所得出的结论，并给出了该近似公式的适用条件。     

降感RDX微观结构的X射线小角散射分析

应用同步辐射X射线小角散射技术研究了降感RDX材料的微观结构,分析了RDX微孔数量、尺寸以及数量分布信息。结果表明降感RDX微孔尺度随样品颗粒变化不明显,数据显示微孔平均半径只有1~2 nm的微弱变化。对比不同分析方法得到的微结构信息表明RDX内部除了微孔结构还存在裂缝微结构。     

提高X射线实时成像的透照灵敏度

本文介绍利用计算机图象处理系统进行无损检测时,如何提高X射线探伤的透照灵敏度。节约成本,节省大量的暗室工作,并为计算机自动检测打下了基础。