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基于FRAM铁电存储器的可移动数据采集器 总被引:2,自引:0,他引:2
使用新一代的非易失性存储器棗铁电随机存取存储器,设计一种能长时间记录变化缓慢的直流信号或监测捕捉记录偶尔出现的脉动信号的可移动数据采集器,是低成本解决现场数据的自动记录的有效办法。文章介绍了几种简单易行的数据记录方法和用Ramtron公司生产的FM24C256存储芯片设计的可移动数据采集器及其记录程序流程,给出了一种可变采样频率记录和脉冲检测记录的综合记录方式数据采集器设计方法。 相似文献
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铁电存储器是新一代的非易失性存储器,FM31xxx 是 Ramtron 公司新近推出的几种不同存储容量的铁电存储器系列芯片。该器件除了相应容量的存储器外,还集成了多种支持 CPU 工作所必须的辅助功能。特别适合在为工业记录仪器、数据采集、可移动存储器等方面的应用。文章简要介绍 FM31xxx芯片,并具体给出了用 Atmel 公司的 AVR 单片机汇编语言编写的存储器读写程序。 相似文献
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16kbit非易失性铁电存储器芯片FM25C160原理及其应用 总被引:2,自引:0,他引:2
FM25C160是美国Ramtron公司生产的非易失性铁电介质读写存储器。它具有高速读写,超低功耗和无限次写入等特性。文中介绍了FM25C160的性能特点、管脚定义、内部结构和工作原理。给出了AT89C51单片机与FM25C160的接口电路图和对FM25C160的写操作流程图。 相似文献
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RAMTRON公司生产的并行接口高性能铁电存储器FM1808是NV -SRAM的理想替代产品。文中介绍了FM1808的性能特点、引脚功能和工作原理 ,同时重点介绍了铁电存储器的应用特点及与其它类型存储器之间的应用差别 ,给出了FM1808的设计应用要点 相似文献
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FM31xx是一种基于I2C总线并采用铁电体存储技术的多功能存储芯片.文中介绍了存储器、实时时钟、看门狗、复位、低压报警等部件和序列号的使用方法,给出了FM31xx电存储器在使用过程中的常见问题和解决技巧. 相似文献
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分析了 MFIS FET的工作机理以及影响 MFIS电容的存储窗口特性的因素 ,提出用存储窗口与铁电薄膜正、负矫顽电压的差值来评价存储窗口特性 ,制备了 Au/Cr/PZT/Zr O2 /Si的 MFIS结构并研究了其存储窗口特性 ,存储窗口随 Zr O2 的厚度变化呈现一个极大值 ,甚至会出现 C-V曲线方向的变化 ,而 PZT薄膜的厚度增大会导致窗口增大 ,这是由于界面效应以及在铁电层和介质阻挡层上电压分配关系的不同而造成的 ,这一结果与前面的分析很好地吻合。当 Zr O2 和 PZT的厚度分别为 3 0 nm和 2 5 0 nm、扫描电压从 -5 V到 +5 V变化时 ,存储窗口大小为 2 .5 V,与相应的铁电薄膜的正、负矫顽电压的差值的比为 0 .8。 相似文献
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将ZrO2和PZT的sol-gel薄膜制备技术应用到非破坏性读出铁电存储器中,制作出应用Al/PZT/ZrO2/p-Si结构的MFIS电容和单管MFIS FET,研究了MFIS电容的界面和存储窗口特性,结果表明ZrO2介质阻挡层和Si衬底以及PZT的附着良好,在±5V测试电压、1MHz测试频率下,存储窗口电压为2.6V左右,与相应的铁电薄膜的正、负矫顽电压差值的比为0.8.对于宽长比为500μm/50μm器件,采用栅极与源极、漏极写入方式,±10V时在写入电压下得到理想的输入-输出特性;小尺寸的40μm/8μm器件在±5V写入电压下特性较好. 相似文献
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将ZrO2和PZT的sol-gel薄膜制备技术应用到非破坏性读出铁电存储器中,制作出应用Al/PZT/ZrO2/p-Si结构的MFIS电容和单管MFIS FET,研究了MFIS电容的界面和存储窗口特性,结果表明ZrO2介质阻挡层和Si衬底以及PZT的附着良好,在±5V测试电压、1MHz测试频率下,存储窗口电压为2.6V左右,与相应的铁电薄膜的正、负矫顽电压差值的比为0.8.对于宽长比为500μm/50μm器件,采用栅极与源极、漏极写入方式,±10V时在写入电压下得到理想的输入-输出特性;小尺寸的40μm/8μm器件在±5V写入电压下特性较好. 相似文献
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