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提出了使用电路划分与故障映射技术来加速4值并行故障仿真的方法.这一方法首先把电路划分成无扇出区域和扇出茎区域,之后则把非扇出茎故障映射为扇出茎故障.它极大地减少了需要显式并行仿真的故障数目,提高了仿真器的性能.关于测试基准电路的实验结果论证了该方法的有效性. 相似文献
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目前在集成电路测试中,测试时间长、测试效率低是影响测试成本的关键问题之一,针对此问题提出了一种基于测试性能估算的测试集重排序方法。首先针对不同的故障类型进行分类建模,然后对每种故障类型进行仿真,通过在每个逻辑门注入故障,统计测试向量命中故障门的面积之和来估算测试向量的测试性能,最后根据测试性能的优劣对测试集进行重新排序。实验表明,对于单固定故障使用排序后的测试集测试可以减少5329%的故障检测时间。该方法是通过对电路的逻辑结构进行分析和统计然后对测试集进行优化,对ISCAS 89标准电路进行试验,与其他测试集重排序对比,有着明显的优化。算法运行完全是基于软件的,不需要增加任何硬件开销,可以直接相容于传统的集成电路测试流程。 相似文献
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为解决风电场集电线路因短路故障造成的弃风窝电问题,提出了基于矢量偏离度的风电场集电线路故障区间定位方法。该方法根据各终端测量装置的电气量信息,采用综合矢量误差和三相总不平衡度构建了风电场短路故障时的理论计算值与真实测量值的矢量偏离度目标函数。根据偏离度计算结果,判断真实故障时的故障信息与假想故障区间信息的差异程度,最小差异对应的假想故障区间即为真实的故障区间。PSCAD/EMTDC仿真验证了所提方法在不同故障位置、故障区间、过渡电阻情况下的可行性,能够满足风电场对其集电线路故障定位精度的要求。 相似文献
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为准确评价测试集对超大规模集成电路(VLSI)内部故障的覆盖效果,提出一种VLSI故障建模与仿真方法。首先,在电路级综合运用仿真和实验手段向逻辑门内部注入多个故障,统计并分析这些故障对其功能的影响以构建由变异真值表(MTT)组成的故障字典;其次,考虑MTT及其发生的相对概率权重,提出一种有效的测试覆盖率评价模型,并将其应用于门级故障仿真算法中;最后,针对若干组合逻辑基准电路进行了实例验证,仿真实验结果表明,所提方法相较于经典的固定值故障模型能够更真实地反映测试集的故障覆盖能力。 相似文献
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测试性试验中样本集的功能覆盖充分性研究 总被引:1,自引:0,他引:1
建立了故障模式与功能关系模型和故障模式等价集合定义,在此基础上提出了样本集的功能覆盖充分性度量和准则.通过功能覆盖充分性度量可以评价样本集的充分程度,为样本集的优选提供了依据.通过功能覆盖充分性准则可以确定样本集的结构要求,用于指导样本的选取.给出了关系模型的数据确定方法和功能覆盖充分性度量和准则的应用流程,并通过实例应用说明了方法的可行性. 相似文献
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求取电路最小测试集的优化算法的比较研究 总被引:1,自引:0,他引:1
离散事件系统(DES)理论的发展为数模混合电路中的数字信号和模拟信号的测试提供了一种统一、系统、有效的方法。在基于DES理论的电路可测试性研究中,其中重要的一项工作就是求取电路的最小测试集。首先介绍了目前求取电路最小测试集的几种优化算法的思想和实现方案,然后对它们进行了比较,并对下一步研究方向进行了展望。 相似文献
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为了减少A/D转换器测试集的冗余度,及其在故障诊断时的工作量大,征兆混淆等问题。文中建立了故障A/D转换器的输入输出模型,并采用最大相异性模型算法生成A/D转换器固定逻辑"0"故障和固定逻辑"1"故障的最小完备测试集。同时,提出了将A/D转换器数字输出向量在二元域GF(2N)空间中正交分解后分别提取特征量的方法来完成无噪声影响位和噪声影响位的故障识别。通过仿真验证表明:输入A/D转换器的测试电平数量减少了99.9%。本文生成的最小完备测试集不仅能够满足紧凑性条件和完备性条件,而且极大降低了测试向量的冗余度。本文提出的故障诊断方法提高了故障诊断的时间效率和准确度,解决了A/D转换器噪声影响位由于征兆混淆而无法完成故障识别的问题。 相似文献
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数字系统中CPU板故障诊断研究 总被引:1,自引:0,他引:1
CPU板在系统中有着其特殊性和重要性,文中详细介绍了对数字系统中的CPU如何进行故障诊断,针对CPU板的各个功能块提出了一些新的诊断思路和实现方法。 相似文献
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基于PXI虚拟仪器测试诊断系统 总被引:4,自引:0,他引:4
文中介绍基于PXI虚拟仪器的电路和单元自动测试诊断系统,系统中电子设备的技术保障要求,自动测试诊断系统软硬件组成,诊断库的构成以及在软件系统设计中的几个主要问题。 相似文献
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介绍了基于粗糙集理论(RS)和支持向量机(SVM)的变压器故障诊断方法,使用这种方法可提高训练速度和诊断准确率。 相似文献
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