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LCD或LCD TV中,影响画质和色彩最重要的两个参数就是Gamma Table和不同色温的R,G,BGain值。提出了一种软调整方法,该方法采用在线量测LCD或LCD TV一些特定的画面的光学值,并通过色彩空间转换和插值法获得当前LCD或LCDTV最佳Gamma Table和不同色温的R,G,BGain值,然后再通过DDCCI传输这些参数到LCD或LCDTV。从而保证每台LCD或LCD TV都达到最佳的显示效果,克服了目前每台LCD或LCD TV都采用固定值而不能达到最佳显示效果的问题。 相似文献
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使用薄隧道氧化层浮栅器件逐渐成为在电可擦除稳定的存储器中一个标准[1],根据E~2PROM工艺特点,本文着重分析了E/W后学元开启电压和E/W时间。E/W电压、隧道扎面积的关系。给出了开发和研究E~2ROM器件模型的工艺评价用PCM及常规用PCM的测试结果,为E~2PROM的工艺开发和实现提供有力的帮助。根据浮栅E~2PROM的物理模型[2],建立了存储单元的阈值电压模型,利用该模型研究了存储单元E/W后同值电压与物理尺寸、E/W电压、E/W时间的关系。通过对这一关系更深入的认识,一方面在单元设计上有利于了解不同类型的E~2PROM,为减小器件尺寸以及今后开发业微米的设计规则作准备;另一方面,在工艺上建立一个准确的单元添件参数模型,得到各层次各关键工序的工艺评价参数,为制造高性能高可靠性的存储单元打下坚实基础。 相似文献
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采用VIS 0.15 pm BCD工艺设计了一款应用于温度补偿恒温晶体振荡器(TCOCXO)专用集成电路(ASIC)的数据修调电路.该数据修调电路由逻辑控制电路和一种电可擦可编程只读存储器(EEPROM)构成,主要功能是完成TCOCXO ASIC中温度补偿的控制及实现芯片的多模式工作.与通过模拟函数发生器实现的补偿方式相比,使用该数据修调电路实现的温度补偿方法可以实现更高的补偿精度和更小的芯片面积.通过该电路对TCOCXO ASIC进行调试与配置,搭载该ASIC的晶体振荡器在温度为-40~85℃时频率-温度稳定度可达±5×10-9.TCOCXO ASIC的测试结果表明,这种修调方法在减小芯片面积的同时可以实现更高精度的频率-温度补偿. 相似文献
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电可擦除只读存储器(EEPROM)工艺可广泛运用于各种消费产品中,像微控制器、无线电话、数字信号处理器、无线通讯设备以及诸如专用芯片设计等诸多应用设备中。0.18μm EEPROM智能模块平台可广泛应用于快速增长的IC卡市场,如手机SIM卡、借记卡、信用卡、身份证、智能卡、USB钥匙以及其他需要安全认证或需时常更新和编写资料的应用设备中。 相似文献
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随着集成电路工艺从微米向纳米迈进,将平面IC往立体或三维发展的硅穿孔(TSV)技术应运而生。在向3D发展进程中,2.5D技术以优越的性能和更低的成本可以满足当前设计要求。 相似文献
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本文介绍了抗辐射加固SOI-SRAM基FPGA编程电路的设计与实现。该电路完成FPGA配置数据的下载与回读。该编程电路采用编程点直接寻址的方式,相对典型的移位寄存器链寻址方式不仅能够节约面积开销而且可以提供更为灵活的配置选择。通过对本电路提出的部分配置控制寄存器的配置,该编程电路可以实现的最小配置单元仅包含1位数据,FPGA更为灵活的部分重配置功能得以方便实现。层次化的仿真策略,对关键路径的优化及精密的版图布局保证了该电路的性能。此外对编程点进行了抗辐射加固设计。该电路在基于0.5μm部分耗尽SOI工艺SRAM基的FPGA中实现。功能测试结果表明, 该编程电路成功实现FPGA配置数据的下载与回读,且抗辐照实验结果表明,抗总剂量水平超过1x105Krad(Si), 抗瞬态剂量率水平超过1.5x1011 rad(Si)/s,抗中子注入量水平达到1x1014 n/cm2。 相似文献
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热印头是近二十年来发展起来的一种新型记录工具,主要用在热记录仪中。本文介绍厚膜、薄膜、半导体三种热印头的结构及其制造工艺和特点。 相似文献
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前言人工智能(Artificial Intelligence,AI)以许多不同的方式影响着我们的生活。有些人工智能产品比较常见,例如时下在美国越来越流行的智能数字助理Amazon Echo和Google Home,它们可以语音控制。还有一些人工智能技术,目前则还用在不那么引人瞩目的场合,但绝不代表它们不重要。例如,人工智能技术对于5G无线通信的成功推出和普及至关重要。应该看到,5G是一个演进中的标准,用于定义超高速、超宽带、低延迟的无线通信系统和网络。这种网络的功能和性能会比现有技术有跨越式提升。 相似文献
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本文介绍了一个新的工艺模拟程序MICPOS,该程序采用了一套精度较高的解析的和半经验的工艺模型,并采用快速统计试验法成功地优化提取出实际工艺的模型参数.MICPOS用这些模型参数进行工艺模拟,其结果接近实际工艺的测试结果. 相似文献
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