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相似文献
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1.
X射线荧光技术具有快速、低成本等特点,主要应用于冶金、煤矿、材料、环保、等部门,近年来也运用于地质勘查并发挥了重要作用;本文介绍了X射线荧光技术在地质勘查中的原理和应用,对加快地质勘查工作进度、缩短找矿周期有着重要意义。  相似文献   

2.
本文综述了x 射线荧光光谱法分析中铁合金样品的制备方法,比较了它们的优缺点,并对样品制备方法的应用进展进行了总结。  相似文献   

3.
付明亮 《硅谷》2012,(5):117-117
X射线荧光光谱法是一种应用较早,且至今仍被广泛应用的元素分析技术。从仪器选择、测量条件、试剂选用、试样制备、校准曲线绘制、标准样品特殊处理对X射线荧光光谱法在矿石中微量元素测定中的应用进行具体的说明,并以对比实验,验证其测定效果。  相似文献   

4.
面对矿石,炉渣,岩石,土壤,耐火材料等材料,其组成复杂,结构差异较大,应用常规的分析需要大量的标准样品,而应用X射线荧光分析软件宽范围氧化物精确测定定量分析程序(WRO)有效的解决了上述问题。  相似文献   

5.
本文对X射线荧光分析技术在铝工业分析中的应用作了分析,供大家参考。  相似文献   

6.
通过对X射线衍射仪样品架的改进,使尺寸过大或过小的样品的X射线衍射谱的测量更加方便与准确。对于小尺寸块状样品或薄膜样品,采用在样品背面加橡皮泥,用玻璃片压在铝制样品架上的方法固定;而通过裁剪铝制样品架,使大尺寸样品可方便地固定和测量。  相似文献   

7.
X射线荧光光谱在晶体材料组成分析中的应用   总被引:4,自引:0,他引:4  
介绍了X射线荧光光谱在人工晶体材料组成分析中的应用.虽然x射线荧光光谱分析是一种非常有效的元素分析手段,但必须针对不同的样品和分析要求采用合适的样品制备方法,选择或配制合适的校正标样对基体效应进行校正.在样品为单晶时异常反射对光谱的定性解释和定量分析的条件选择可能产生影响,此时最好使用熔融制样法.使用测量结果时,应该充分考虑其不确定度.  相似文献   

8.
介绍顺序式X射线荧光光谱仪几种常见故障的诊断及处理方法,其中包括X射线发生器的高压不能启动,试样室和分光光室的真空问题,探测器、晶体、分光测量单元中部件动作超时以及分析速度缓慢等,对于该仪器的使用者具有很好的指导作用。  相似文献   

9.
本文介绍了采用日本理学3530型多道X射线荧光光谱仪,测定中低合金钢中硅、锰、磷、镍、铬、铜、钼七元素含量,本方法用回归方法求取各元素检量线常数,对磷元素作基体校正,对钼元素作背景扣除,方法准确,快速简便,满足生产的需要。  相似文献   

10.
本方法采用粉末样品压片,X射线荧光光谱法测定石油焦中硫元素的含量,方法快速、准确、成本低。  相似文献   

11.
运用X射线荧光光谱法对石榴石分类鉴定   总被引:2,自引:0,他引:2  
本文介绍了运用X射线荧光光谱法对石榴石的化学组成元素进行剖析(定性及半定量分析),通过化学组分的不同来对石榴石进行分类、鉴定。  相似文献   

12.
X射线粉末衍射仪用试样的制作   总被引:1,自引:0,他引:1  
该文扼要介绍了布拉格-勃郎泰诺衍射仪的聚焦几何及由此得出的对试样的要求、需测定的不同物理量对试样制作的不同要求、一些常用的试样制做方法及讨论在几种情况下制样时需注意的一些方面。  相似文献   

13.
Grazing exit X-ray fluorescence (GE-XRF), which has unique advantages in surface and film analysis, is a development of XRF related to total reflection XRF. The combination of polycapillary X-ray optics with total reflection geometry in the detection path allows micro analysis in thin layer characterization. This technique was applied to analyze a series of titanium and iron layers which were deposited on GaAs single crystal by metal vapor vacuum arc ion sources. Thickness and density of the layers result from fitting the experimental data to model calculations, and the information of layer uniformity can be acquired by two-dimensional scan analysis. The GE-XRF method has application for complete layer characterization and process control during the layer deposition.  相似文献   

14.
Following on from the proof-of principle measurements of Martin et al. (X-ray Spectrom. 28 (1999) 64) we further describe the development of an imaging X-ray fluorescence (IXRF) spectrometer with no moving parts. Our laboratory system is based on a microchannel plate (MCP) “lens”, a CCD X-ray detector with good sub-keV quantum efficiency and a conventional electron bombardment X-ray source. We have used this equipment to form images of a standard XRF target, demonstrating that “elemental maps” (images of the target in the characteristic X-rays of one particular element) may be formed with sub-millimetre resolution. In addition to fluorescent X-rays, we detected X-rays which had been Bragg reflected from the polycrystalline aluminium substrate of the target. It is possible that the resulting “Bragg images” may be exploited to measure spatially varying strain, manifested as lattice distortion, introduced, for example, by thin films deposited on the surface of a sample.  相似文献   

15.
使用熔融制样-X射线荧光光谱法(XRF),以四硼酸锂做熔剂,样品与熔剂比为1∶10熔融制样.分析矿石中0.006%~98%的五氧化二钒含量.目前五氧化二钒标准物质较少,不能满足各含量段矿石类样品的准确定量要求.本方法通过加入高纯V2O5制备人工标准样品和现有五氧化二钒标准物质相结合绘制工作曲线,解决了现有标准物质较少的...  相似文献   

16.
用高性能飞利浦PW2424型X射线荧光光谱仪,测定中、低合金钢类钢筋建材中的Si、Mn、P、S、Ni、Cr、Cu、Ti、V、Nb、Mo等11个化学元素的含量。创建标准工作曲线,给出各元素的干扰校正系数和基体效应校正系数。方法准确、灵敏,稳定性好,速度快。  相似文献   

17.
A simple and fairly inexpensive total reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectrometer has been designed, constructed and realized. The spectrometer is capable of ultra-trace multielement analysis as well as performs surface characterization of thin films. The TXRF setup comprises of an X-ray generator, a slit-collimator arrangement, a monochromator/cutoff-stage, a sample reflector stage and an X-ray detection system. The glancing angle of incidence on the two reflectors is implemented using a sine-bar mechanism that enables precise angle adjustments. An energy dispersive detector and a GM counter are employed for measuring respectively the fluorescence intensities and the direct X-ray beam intensity. A Cu-target X-ray generator with its line focus window is used as an excitation source. The spectrometer is quite portable with its compact design and use of a peltier cooled solid state detector for energy dispersive detection. Alignment and characterization of the TXRF system has been performed and the minimum detection limits for various elements have been determined to be in the range of 100 pg to 5 ng even at low X-ray generator powers of 30 kV, 5 mA. The capability of the TXRF system developed for thin film characterization is also demonstrated.  相似文献   

18.
报道了理学3070型X-射线荧光光谱仪在测定宁夏枸杞样品矿物元素的应用。以国家植物标准参考物质为核准样品,采用焦化法制备枸杞样品。用X-射线荧光测定植物标样,其分析结果与标准值基本相符。精密度实验统计结果,宁夏枸杞样品矿质元素的RSD(n=5)为0.2%-12%,分析结果与标准位相符。该法简便快速准确。  相似文献   

19.
提出了用X射线荧光光谱法测定不锈钢注射成型零部件中化学成分的方法。采用一套不锈钢标准样品建立校准曲线,对谱线的重叠干扰和基体效应进行校正。在优化的条件下,对YSBS20111-99-6不锈钢标准样品中Si、Mn、Cr、Ni、Cu、Mo、Co、V等元素进行了12次测定,各元素的测定值与该标样的标准值相一致,测定结果的相对标准偏差均小于1%。用本方法对不锈钢注射成型零部件样品进行了测定,其分析结果与用ICP-AES法的测定值相一致。本方法快速、简便、准确和可靠,可用于不锈钢注射成型或其他类似零部件中化学成分的分析。  相似文献   

20.
徐文荣 《福建分析测试》2002,11(3):1624-1625
建立用粉末样品添加粘结剂压片,X射线荧光光谱法测定硅铁合金中的Si、Ca、Al、Fe等主要元素含量的分析方法。方法快速、准确、成本低。  相似文献   

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