不完美排错SRGM研究

软件可靠性增长模型SRGM可对测试与运行阶段的可靠性进行度量、预测与保证。不完美排错SRGM能够更加准确地建模实际测试过程,获得了广泛研究。首先介绍了随机过程类模型中的NHPP基本概念与假设。接着,从三个阶段全面回顾了不完美排错研究历程。进一步,给出了若干典型的不完美排错SRGM的建模与累计故障检测函数的求解形式。最后将从排错的不完全性,引入新故障的角度建立的不完美排错模型：IID-SRGM与现有的模型进行比较,优于其它模型。     

软件可靠性模型研究

与硬件一样,软件可靠性也需要建立一些模型来对所设计的软件进行预计和评估.介绍了几种软件可靠性模型的特点,并结合工程实践,研究了工程中广泛应用的NHPP模型.     

一种考虑非故障停止的软件可靠性模型

经典的随机时间软件可靠性模型均是建立在连续失效间隔时间的基础上，忽略了非失效停止时间。文中根据最大信息原则，即尽可能大地利用可用信息的原则。将非失效停止时间考虑在建模的过程中并且引进或修改一些假设使条件更加符合实际情况，根据修改后的假设对原始的S—W模型进行重新建模，并对新建模型的预测结果通过仿真进行分析。     

基于排队论的软件可靠性增长模型

软件可靠性增长模型是软件可靠性评估的重要手段。基于排队论的软件可靠性增长模型研究起步比较晚,但因排队论在计算机系统性能评价等方面表现出的优异能力,使排队论在计算机科学研究领域得到了广泛的应用。对基于排队论的软件可靠性增长模型作了简要介绍。在分析了有关模型的基础上,指出了该领域研究中存在的一些问题,并对今后的研究方向提出了一些建议。     

软件增长测试中可靠性评估方案的研究

软件可靠性评估在软件测试中起着举足轻重的作用.本文研究了软件增长测试中可靠性评估的过程.给出了判断软件可靠性是否增长的方法,通过比较常用的M-O模型和J-M模型给出了如何选取合适的可靠性评估模型的方法,以及判断选择的拟合模型的准确性的方法,并根据选取的拟合评估模型估测出软件可靠性的一些参数,最终提出了一种新的软件增长测试中可靠性评估方案,用于指导软件可靠性测试的顺利进行.     

对固定故障覆盖率的再认识和VLSI功能测试的展望

在数字系统测试方法研究工作中,门级固定故障覆盖率已被沿用了几十年。本文综述近年来一些学者对此所作的分析。研究结果表明,单凭故障覆盖率,仍难以衡量测试工作的质量。用故障覆盖率来预料芯片测试筛选的失误率,带有明显的局限性。从实效出发看问题,以100％故障覆盖率为目标的结构测试花费代价很大,仍难以达到满意的结果。功能测试方法有逐渐走向成熟的趋势。     

光缆测试流程和故障排除技巧

通过OTDR来进行光缆测试,处理光缆在敷设、接续中遇到的挤伤、断纤等故障,使得光缆线路衰耗值在要求的范围内,从而保证光信号的传输质量。     

一种改进的NHPP软件可靠性模型

软件可靠性模型是定量评估软件质量的重要手段,通过综合分析软件故障检测率及故障引入率建立改进的NHPP软件可靠性模型,并对可靠度进行分析,证明所提模型的有效性,最后通过对现有的数据进行分析,并与经典模型进行比较,证明所提模型的优良性。     

基于改进故障模型的CAN总线调度分析

鉴于数据传输总线的诸多优点,建立总线式体制是现代导弹控制系统互联方式发展的必然趋势。CAN总线是一种设计优良的总线,但缺点在于其事件驱动型的协议导致无法建立CAN总线的可靠调度策略。Tindell给出的基于最小间隔故障模型的WCRT调度分析方法在强干扰环境中会导致乐观偏差,因此需要建立一种CAN总线在复杂环境中的更加准确的调度分析方法以指导可靠的系统设计。基于此目的,给出了一种基于广义泊松过程的改进故障模型,并在此基础上建立了CAN总线消息的调度分析。最后将该调度分析应用于导弹控制系统,并分析了对总线调度能力构成影响的因素。     

某测控系统软件的可靠性预计

论述了运用两种NHPP增长型模型进行某测控系统软件可靠性预计的方法,以及它们的数学解析式,并阐明了两者的关系。针对某发射测控系统软件的测试调试过程,初步估计了软件的程序窖量。根据所得到的数据。运用两种NHPP模型计算了模型参数的估计值。预测了软件的可靠性水平和需要进行的各项软件测试的时间。     

电子产品研制阶段可靠性增长试验研究

在现代电子系统设备和可靠性增长工作的推动下,可靠性技术和工程实践得到了深入发展。结合工程实际经验,深入讨论了可靠性增长过程及实现途径。在保持试验条件和改进过程不变的条件下,实施了对具体型号电子产品的可靠性增长试验,达到了预期的可靠性增长目标,并且利用可靠性增长试验的数学模型(AMSAA模型)来评估产品的可靠性增长,对开展可靠性增长与可靠性增长试验工作具有重要的实际意义。     

软件定义网络容错控制平面的最小覆盖布局方法

容错控制平面通过将多个控制器部署在不同的网络设备上进而增强网络的可靠性,但是大量的控制器部署带来了巨大的布局成本,严重地限制了容错控制平面在实际网络中的部署与应用。为了解决上述问题,该文首先构造了容错控制平面的最小覆盖布局模型,然后设计了一种基于局部搜索策略的启发式控制器布局算法,避免搜索结果陷入局部最优解。在不同规模网络中的仿真结果表明,相对于其他算法,所提算法可以在保证网络容错需求的同时,降低网络中部署控制器的数量。

     

Test Generation and Fault Simulation for Cell Fault Model using Stuck-at Fault Model based Test Tools

Cell Fault Model (CFM) is a well-adopted functional fault model used for cell-based circuits. Despite of the wide adoption of CFM, no test tool is available for the estimation of CFM testability. The vast majority of test tools are based on the single stuck-at fault model.In this paper we introduce a method to calculate the CFM testability of a cell-based circuit using any single stuck-at fault based test tool. Cells are substituted by equivalent cells and Test Generation and Fault Simulation for CFM are emulated by Test Generation and Fault Simulation for a set of single stuck-at faults of the equivalent cells. The equivalent cell is constructed from the original cell with a simple procedure, with no need of knowledge of gate-level implementation, or its function. With the proposed methodology, the maturity and effectiveness of stuck-at fault based tools is used in testing of digital circuits, with respect to Cell Fault Model, without developing new tools.     

电子设备可靠性增长试验方法及应用研究

可靠性增长试验是对产品的可靠性进行调查、分析和评价的一种手段,对于可靠性要求高、产品子样少或价格昂贵的产品的可靠性增长和评价具有良好的实施效果。针对目前电子设备可靠性增长试验中的薄弱环节,对可靠性增长试验的关键技术进行了研究,阐述了电子设备如何制定可靠性增长试验的方案及程序,介绍了电子设备可靠性增长试验的制定原则和试验方法,并针对某型雷达可靠性增长试验给出设计和应用实例。     

软件测试过程模型和管理理念探讨

测试过程模型定义了测试的流程和方法,为测试管理提供了指导。但这些模型各有长短,并没有哪种模型能够完全适合于所有的测试项目,在实际测试中应该吸取各模型的长处,归纳出合适的测试管理理念。     

基于VISA及IVI技术的仪器仪表自动测试系统软件设计

该文首先介绍了VISA(Virtual Instrument Software Architecture)技术、IVI(Interchangeable VirtualInstruments)技术标准以及它们在对仪器仪表进行测试控制中的作用;然后介绍了自动测试系统软件的设计思想和工作原理;最后详细介绍了该测试系统软件所能完成的功能,以及系统中各子模块在系统中所起的作用。