静电放电模拟器校准技术的研究

静电放电模拟器是测试产品防静电性能的主要设备，目前国内还没有较成熟的校准方法和装置，本文在简要介绍静电放电模拟器工作原理的基础上，提出了校准方法并建立了校准装置，可解决静电放电模拟器的溯源问题。     

静电防护设计

在电子元器件，组件和设备的生产，制造和使用过程中，通过各种防护手段，防止因静电的力学效应和放电效应而产生或可能产生的硬击穿或软击穿，并进而导致整机性能的下降或失效，所以静电防护设计的目的是控制静电放电，防止静电的发生或将静电放电能力降到所有静电敏感地元器件的损害阈值以下，以确保产品质量。     

新版静电标准对静电放电模拟器的影响

该文依据IEC61000-4—2第2版标准,阐述了新版的静电标准对静电放电模拟器的影响,以及这种静电放电模拟器相应的校准方法。     

电子元器件静电放电敏感度(ESDS)检测

静电放电敏感度（ESDS）是电子元器件的重要可靠性参数之一，本文从检测目的，标准波形，检测标准及委托程序几个方面阐述了ESDS检测方法。     

电子产品生产和使用中的静电防护

前言 集成电路技术的迅速发展、生产规模的扩大和集成化程度的提高使静电放电(ESD)的危害严重影响至0电子产品的质量和性能。在电子工业领域,由于ESD的影响,美国每年造成的损失约100亿美元,英国每年损失为35亿英镑,日本不合格的电子器件中有70%是由静电引起。在我国,因静电造成的损失也很严重。     

电子工业中的静电防护

一、电子工业中静电危害 电子工业中的静电危害大体分为两类：这就是由静电力引起的浮游尘埃的吸附和由静电放电引起的元器件的击穿或伤害。     

电子元器件防静电

静电对电子元器件造成的损伤屡有发现，部分静电损伤的潜在性对电子产品可靠性造成很大危害。本文从电子产品生产和使用的实践经验出发，在简述原理基础上，阐述防静电的具体措施，以求得在工程上取得防静电工作的较佳费效比。     

静电放电模拟器电路建模分析

从实际的静电放电模拟器结构出发,根据接触放电时静电放电电流的主要特征,考虑到静电模拟器本身、连接线及回路电缆与地平面间产生的分布参数的影响,建立了一个新的静电放电模拟器等效电路模型,并用PSPICE软件对等效电路进行模拟分析,得到了与实测波形基本一致的电流波形.利用该模型讨论了各分布参数对放电电流的影响.结果表明:模拟器体电阻与地间的电感对电流波形影响不大,因此可以忽略,但其与地之间的分布电容对电流波形的低频段有重要影响;连接线分布参数对电流波形的第一峰值及波形光滑度都有影响;回路电缆分布参数主要影响了电流波形中第二个波峰峰值及其位置.     

静电放电模拟器校准系统不确定度分析

文中根据静电放电模拟器的特点和GB／T17626.2-1998《静电放电抗扰度试验》对静电放电模拟器的技术要求,提出了对于静电放电模拟器校准方法的不确定度分析。     

静电放电模拟器的校准

本文介绍了用于GB/T 17626.2-1998中静电放电试验的静电放电模拟器工作原理和使用方法,对校准静电放电模拟器测量系统作了详细说明,并给出了用校准系统测量静电放电模拟器的测量数据。     

电子产品组装中的静电防护

电子元器件按其种类不同，受静电破坏的程度也不一样，随着集成电路技术的迅速发展、生产规模的扩大和集成化程度的提高使静电放电的危害严重影响到电子产品的质量和性能；在电子产品组装中，从元器件的预处理、贴装、焊接、清洗、测试直到包装，都有可能发生因静电对器件的损害。文中讨论有关静电产生的原因、静电危害以及导体带静电的防护、非导体带静电的防护、静电防护器材、静电检测等问题，并就电子产品组装行业如何做好静电防护进行评述。     

电流探头在静电放电模拟器期间核查中的应用

以F-65A型电流探头为例,采用辐射法和传导法,研究该探头在静电放电模拟器期间核查中的应用,将F-65A型电流探头与静电放电靶进行比对试验。试验结果验证了F-65A型电流探头作为电流传感器测量静电放电电流波形参数的可行性。     

IEC 61000-4-2:2008静电放电模拟器校准方法的变化

针对IEC61000—4—2：2008中静电放电模拟器的校准参数、校准方法的变化,比较了其与2001版本的差别。阐明了2008版标准中用于校准静电放电模拟器脉冲参数的靶型适配器的结构、电参数的重大修改和严格技术要求。最后,详细介绍了靶型适配器的校准框图、校准设备和校准方法。     

浅谈电子元器件的使用可靠性

结合实际的产品设计,着重介绍在实际应用中选用电子元器件(以下简称元器件)的基本准则以及在使用中的注意事项,并给出如何提高电子元器件的使用可靠性合理建议。     

关于提高电子元器件使用可靠性工艺的研究（三）

5 合理的检验方案检验,就是用一定的方法和手段,测试元器件的质量特性,与相应产品的技术文件进行比较,判断是否合格,以确定该批产品接收、还是拒收、退回的结论。电子整机中所用的元器件,有的数量很大,有的数量虽小,但在整机中所处位置及所起作用却极其重要;有的元器件价格昂贵,而有些确只需几分钱即可买到。因此,组成整机的各种元器件,不可能用同一种方法和质量标准来进行鉴定和判断,但也不能将检验方案分的太细,造成管理混乱,检验     

电磁式继电器的使用可靠性

继电器被认为是一种可靠性最差的元件,本重点介绍从使用方面来提高电磁式继电器的可靠性。     

近期国产电子元器件质量与可靠性分析

本文对我国八十年代末，九十年代初生产的１２大类，５６小类电子元器件的失效率水平进行了统计、分析、分析了产品失效率与执行标准的关系，产品失效率与生产年代的关系，对如何提高产品的质量与可靠性水平提出了建议。     

消除失效模式的可靠性增长方式

在各项可靠性试验中,电子元器件的失效模式不一定是单一的,有时经常有好几种失效模式同时存在.这时候就需要抓住主要矛盾,采取“各个击破”的方式来逐步地提高产品的可靠性。某集成电路原来存在有五种主要失效模式,如图1所示,其中“芯片键合引起的失效占总失效数的45％。针对这种失效模式,在工艺上采取纠正措施,用铝—铝超声焊代替金—铝热压焊,并增加磷处理工序后,芯片键合点的失效模式已全部消失,可靠性水平得到了提高.而在产品可靠性的新台阶上,第二种失效模式“表面沟道