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基于液晶技术的太赫兹器件的研究开发已经成为该领域研究的重要方向之一。介绍了太赫兹器件的应用背景和太赫兹液晶器件的基本知识,并重点介绍了液晶在太赫兹频域的光电性质和材料特性,指出了若干有潜在可行性的液晶材料。在此基础之上对太赫兹液晶移相器、太赫兹可调液晶滤波器、太赫兹可调偏振器等液晶器件的设计原理和目前的研究结果进行了分析。最后,对太赫兹液晶器件的产品应用开发进行了总结分析,提出了此类元器件的研究开发方向。 相似文献
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OLED器件光电性能集成测试系统研制 总被引:6,自引:4,他引:2
为方便对OLED器件的各项性能进行测试,研发了一种OLED器件光电性能集成测试系统,实现了在同一个软件下的OLED器件的电压、电流、亮度、光谱、色坐标和寿命等特性的集成测试。介绍了计算机与各测试设备的通信方法,通过计算机控制测量仪器对OLED器件进行测量。使用了Microsoft Visual 2005开发工具,利用MFC(Microsoft Foundation Classes)开发出了图形用户界面下的应用程序。利用TeeChart(西班牙Steema公司研发的图表控件)控件实现了OLED器件性能特性曲线的实时动态显示,并能够对不同器件的测试结果进行性能曲线的对比。编写了色坐标助手软件,实现对测试软件测试的光谱数据的分析显示功能。 相似文献
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北京东英泰思特测试技术有限责任公司是一家集测试技术研究,开发,制造和销售的高科技公司,1983年由北京测试技术研究所演化而成,人员素质高.研究开发能力强,20多年来,在国家集成电路测试系统研发的重点攻关项目中取得了一系列领先于国内并达到国际水平的科技成果。集成电路测试系统,半导体分立测试系统,半导体分立器件高低温老化巡测系统,电源模块测试系统等等。同时公司代理多家欧美著名测试公司的产品。 相似文献
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由于非同轴微波器件接口的特殊性,无法直接与同轴接口的矢量网络分析仪相连进行测试,非同轴器件的微波性能测试面临较大的困难,目前,国内非同轴器件的测试技术已严重滞后其设计开发工作。对非同轴微波器件接口进行了深入研究,设计了针对非同轴微波器件测试的分体式夹具,解决了去嵌入技术问题,并以实例验证了该测试装置的正确性。大量测试表... 相似文献
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张明铭 《电子工业专用设备》2006,36(2):39-42
近年来随着彩屏手机、PDA等移动终端的普及,液晶电视等平板显示器件的推广,液晶显示器已经逐渐取代CRT成为主流的显示器件。LCDDriverIC作为液晶显示器的重要部件,需求量也日益增大。国内目前很多生产设计厂商已经开始相关产品的开发和生产。就LCDDriverIC的特点,介绍应用ATE(AutomaticTestEquipment)对其进行测试的方法。 相似文献
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