沉积静电效应及防护研究

简述沉积静电的形成机理，介绍了沉积静电的3种放电形式：跳火花和电弧、表面流光放电、电晕放电；讨论了沉积静电的放电效应；通过对无沉积、轻度沉积、严重沉积3种静电条件下电磁场天线接收信号的分析，研究了沉积静电对导航系统的影响；针对沉积静电的危害，从沉积静电防护的目标和防护措施两方面讨论了沉积静电的防护对策。     

电子产品中静电防护问题研究

本文介绍了静电起电、静电放电(ESD)的机理及静电放电的危害,进一步阐述了人体感知静电和产品潜在损伤等问题及其产生的原因.针对静电积聚、静电敏感度和静电耦合能量等产生静电放电的前提条件,按照抑制起电、控制积聚的防护原则,提出了减少静电放电危害,提高电子产品可靠性的具体措施,在设计阶段对产品进行ESD防护网络设计,在生产...     

静电放电模拟器校准技术的研究

静电放电模拟器是测试产品防静电性能的主要设备，目前国内还没有较成熟的校准方法和装置，本文在简要介绍静电放电模拟器工作原理的基础上，提出了校准方法并建立了校准装置，可解决静电放电模拟器的溯源问题。     

静电防护系统理论的探讨及其实际应用

静电放电是一种常见的自然现象，它对电子元器件，产品生产制造，组装的危害所造成损失是不可估测的，针对静电放电对电子产品影响这一特点，依据国内现行静电防护标准和同行业的静电防护的实践经验，对公司的电子车间进行了全方位静电防护设计，在探讨静电防护系统理论的同时也详细地介绍了的静电防护设计及应用／     

静电防护设计

在电子元器件，组件和设备的生产，制造和使用过程中，通过各种防护手段，防止因静电的力学效应和放电效应而产生或可能产生的硬击穿或软击穿，并进而导致整机性能的下降或失效，所以静电防护设计的目的是控制静电放电，防止静电的发生或将静电放电能力降到所有静电敏感地元器件的损害阈值以下，以确保产品质量。     

静电产生的原因及静电放电的抑制措施

将着重讨论静电产生的原因以及如何避免静电放电的危害。概括了电子行业的标准测试方法,提供一些通用的抗静电放电的,并介绍一些专用的静电放电保护器件。     

沉积静电效应及防护研究

简述了沉积静电的形成机理;介绍了沉积静电的3种放电形式：跳火花和电弧、表面流光放电、电晕放电;具体讨论了沉积静电放电效应;通过对无沉积静电、轻度沉积静电、严重沉积静电三种条件下电磁场天线接收信号的分析,研究了沉积静电对导航系统的影响;针对沉积静电的危害,从沉积静电防护的目标和具体的防护措施两方面讨论了沉积静电的防护对策。     

电子产品的防静电性能改进方法概述

从静电放电的起因开始,给出了国家标准规定的静电放电参数.对静电放电的耦合路径和防护方法进行了分析,以指导工程师在进行电路设计时,掌握如何防止静电放电对产品的影响.     

静电、灰尘对程控交换机的危害及其防护

摩擦容易使物体产生静电。人体皮肤与化纤品摩攘就很容易产生静电。每个人身上都带有一定量的静电。当人体的某一部位或人体外着的化纤类衣服与程控交换设备某处的金属导体相接触时，就有可能产生瞬间放静电或静电释放，静电放电电流虽然很小(大多数情况下人体感觉不到这种放电)，     

雷达产品静电防护

静电与静电放电(ESD)现象是普遍存在的一种自然现象,静电放电除可造成电子产品失效外,还可能产生电磁脉冲引起雷达产品误动作和信息丢失,本文就雷达产品的静电危害、静电防护的必要性、防护措施作简单介绍。     

系统级ESD对IC的影响研究

随着电子产品复杂度的提高及高速化通讯应用场景的广泛存在，静电放电敏感性的问题日益突出，主要表现为集成电路出现的一系列软失效和硬失效现象，包括卡死、复位、重启甚至损坏等。主要研究了系统级静电放电对集成电路的影响。首先，介绍了静电放电的原理及其测试标准；其次，研究了芯片侧瞬态静电过电压的抓取方式；然后，对应用于不同电路设计的静电防护能力的优劣进行了评估并对比了芯片侧的静电干扰电压水平；最后，验证分析了USB接口不同的接地设计方式和静电放电施加方式对集成电路甚至系统的影响。     

静电对点阵类LCD造成显示性能影响初探

通过对静电产生机理、静电放电模型、ESD的防护与测量等进行分析，结合LCD生产过程中静电对产品的损坏实例进行机理分析，并采取措施以减小静电对产品的影响，为LCD、LCM生产过程中静电防护提供参考。     

静电放电及防护

1前言 静电放电对电子产品的安全使用和可靠性构成了很大威胁，电子产品的静电放电敏感度(ESDS)日益为人们所重视，现已成为许多电子产品一项重要的质量指标。随着科学技术的发展电子产品日趋复杂化，微型化和集成化，静电放电(ESD)危害越来越突出，     

合理有效地预防和控制ESD危害

正静电就如我们周围的细菌一样,由于原子分子存在,任何物质只要有接触和分离,甚至不接触,通过感应都会产生静电。只要静电电位不相等,静电放电(ESD)就会发生。现代电子元器件的密度越来越大,速度越来越快,其抗静电的能力越来越弱。那么如何防护静电与控制ESD的发生呢?只要合理有效地控制人体静电放电、设备静电放电,控制元件操作附近的静电电压/电场就能控制绝大部分生产过程中的静电放电。     

静电放电(ESD)在电子装联中的危害及防护

通过对静电及静电放电(ESD)的简单介绍,提出了在电子装联中进行静电防护的必要性和基本思路.     

基于电子产品SMT生产过程中的ESD防护技术

随着现代电子产品SMT制造业的发展和复杂程度的提高，静电放电对电子产品的危害也越来越严重。本文主要介绍了静电的物理特征、静电放电的原因、静电对电子产品的危害以及静电源。重点提出了如何在SMT生产过程中防护静电放电，避免静电对电子产品的危害，以及静电放电防护的误区解析。     

静电损伤及其防护措施

本文提出了轻微静电损伤和严重静电损伤的概念,简述了静电放电模型,指出了提高器件抗静电放电能力的对策。     

移动电话的静电放电防护

阐述移动电话静电放电的产生原理,分析静电放电对移动电话的影响,并提出了对移动电话静电放电的防护措施.     

广播电视机房电子设备的静电放电防护

广播电视机房设备众多,是电磁干扰和静电防护的重灾区。本文针对静电放电对电子设备威胁日益严重的现状,阐述了静电放电对电子设备干扰的机理,并根据实际工作经验,从躲、阻、疏三方面提出了电子设备对静电放电的防护措施。     

MOS器件的ESD失效

静电放电(ESD)对半导体器件,尤其是金属氧化物半导体(MOS)器件的影响日趋凸显,而相关的研究也是备受关注.综述了静电放电机理和3种常用的放电模型,遭受ESD应力后的MOS器件失效机理,MOS器件的两种失效模式;总结了ESD潜在性失效灵敏表征参量及检测方法;并提出了相应的静电防护措施.