X射线衍射仪微机化升级改造的讨论与实践

介绍一种旧型号的X射线衍射仪微机化的升级改造技术以及相应的数据采集与分析系统（XRDS）。该系统将采集的衍射数据以文件形式存盘，并对该数据文件进行分析处理。结果可用图谱显示、打印、生成峰数据表、或扫描数据表等多种形式输出。原仪器记录系统仍可独立工作。系统结构简单，能充分利用仪器的机械精度，改造工作只需连接几对信号线便可完成，价格低廉，适用于任何旧型号的X射线衍射仪。     

X射线衍射仪样品测试架的改进

通过对X射线衍射仪样品架的改进，使尺寸过大或过小的样品的X射线衍射谱的测量更加方便与准确。对于小尺寸块状样品或薄膜样品，采用在样品背面加橡皮泥，用玻璃片压在铝制样品架上的方法固定；而通过裁剪铝制样品架，使大尺寸样品可方便地固定和测量。     

同步辐射的基本知识：第二讲同步辐射中的衍射术及其应用（二）

2六圆衍射仪、劳厄法和单晶样品的结构测定 2．1 X射线单晶六圆衍射仪在同步辐射X射线单晶衍射中一般使用六圆衍射仪,见图9所示。如德国Huber公司的5020六圆衍射仪。     

X射线粉末衍射仪

1 引言 X射线粉末衍射仪的英文名称是X-ray powder diffrac-tometer简写为XPD或XRD。有时会把它叫做X射线多晶体衍射仪,英文名称为X-ray polycrystalline diffractometer简写仍为XPD或XRD。 本系列讲座曾介绍过X射线单晶体衍射仪。两者的区别在单晶体衍射仪分析的样品是一粒单晶体,任务是用来解析单晶体的结构。而用粉末衍射仪分析的样品是粉末,也即是一堆微小单晶的聚集体或称多晶体,其任务主要是用来分析多晶体聚集体的聚集态结构。此技术早在1916年即以建立,至今已有近90年的历史,不仅其应用面     

X射线粉末衍射仪性能的评估

叙述从衍射数据的质量来评估X射数粉末衍射仪的性能的观点和方法。主要衍射数据为衍射峰的位置（布拉格角2θ）,衍射的强度（衍射峰的积分强度Ⅰ和各测量点强度Y）和衍射峰的峰形（半峰宽H与分辨率）。     

Pb(Zr,Ti)O3薄膜微区残余应力的X射线面探扫描分析

根据在X射线二维衍射几何关系下建立的应力应变方程,提出了一种基于X射线多晶面探衍射仪系统分析射频磁控溅射制备的Pb(Zr,Ti)O3薄膜微区残余应力的测量方法,即通过基于X射线衍射圆锥形变的分析来表征薄膜的残余应力,试验结果表明薄膜所受为残余拉应力,同时利用X射线面探扫描方法评价了薄膜的残余应力分布.     

用PC机读取X射线衍射仪软盘的方法研究

分析了ＰＣ机判读Ｘ射线衍射仪软盘数据的困难,提出两种判读方法,实现了用ＰＣ机对Ｄ／ｍａｘ一类Ｘ射线衍射仪测量数据的调用,扩展了仪器的功能,并对两种判读方法进行了对比。     

短波长X射线衍射无损测定铝板内部残余应力

利用重金属靶短波长特征X射线WKα1对轻质材料的强穿透性,自主研发了1台用于工件内部晶体物质衍射分析的短波长X射线衍射仪(SWXRD).介绍了短波长X射线衍射仪无损测定工件内部应力的原理和方法,在国内首次无损地测定了30 mm厚7075铝合金淬火板内部残余应力及其分布,并与中子衍射和高能同步辐射的短波长X射线衍射测定内...     

X射线单晶体衍射仪

一、引言 X射线单晶体衍射仪的英文名称是X—raysingle crystal diffractometer,简写为XRD。 本仪器分析的对象是一粒单晶体,如一粒砂糖或一粒盐。在一粒单晶体中原子或原子团均是周期排列的。将X射线(如Cu的Ka辐射)射到一粒单晶体上会发生衍射,由对衍射线的分析可以解析出原子在晶体中的排列规律,也即解出晶体的结构[1]。物质或由其构成的材料的性能是与晶体的结构密切相关的,如金刚石和石墨都是由纯的碳构成的,由于它们的晶体结构不同就有着截然不同的性质。     

德国布鲁克AXS有限公司

德国布鲁克AXS有限公司是全球领先的专业研制和生产X射线分析仪器的公司,主要产品有X射线多晶衍射仪、X射线单晶衍射仪、X射线荧光光谱仪以及高分辨率CT成像系统,产品广泛应用于大学、研究所、政府实验室以及工矿企业等。     

仪器分析冀东油田储层特性

本文使用仪器分析方法，将电镜扫描和X射线衍射仪结合，分析研究冀东油田储层特性，总结了冀东油田储层的孔隙结构、储层岩性和储层空间类型。     

X射线粉末衍射少量试样的试样板制作

从对参与衍射的试样体积(宽度)、入射X射线在试样表面的总光量和亮度及X射线被试样吸收三个方面在扫描过程中的变化的分析出发,讨论了在试样量少到不能以薄层填满整个试样槽时,如何制作试样板以得到衍射强度高的高质量衍射谱的方法.在固定发散狭缝宽度的条件下,为使参与衍射的试样面积大,使长度方向的试样尺寸与X射线管中线焦点的长度相...     

晶体材料内部残余应力衍射法无损检测的研究进展

目前能够准确、无损地测试材料内部残余应力的手段主要是中子衍射和同步辐射,但这两种测试手段需要核反应堆或高能同步辐射源,投资巨大,只为少数发达国家的少数实验室所拥有,难以应用到实际生产中。短波长X射线衍射仪通过钨靶-K_α特征射线(波长约0.02 nm)以及独特的谱接收方式,达到或接近同步辐射及中子衍射对晶体材料内部晶格应变的无损定点测试,为内部残余应力无损检测的广泛应用开辟了一条新的渠道。介绍了中子衍射和同步辐射对残余应力测试的国内外研究现状,重点展示了短波长X射线衍射仪用于内部应力测试的结果,并就三种测试方法特点进行了对比分析。     

使用X射线衍射技术区分鉴定银行单据纸

探究了X射线衍射技术在法庭科学纸张区分鉴定方面的应用,首先通过平行试验确定了利用X射线衍射技术区分鉴定纸张的系列指标,然后使用X射线衍射仪对从全国各地收集的68种不同的中国银行单据纸张进行了测试,通过确定的区分鉴定指标对纸张进行了分类。结果表明:使用X射线衍射仪区分鉴定纸张的指标主要有衍射图谱、晶面间距和衍射峰相对强度等,根据这些指标成功地将试验的68种不同银行单据纸张分为了9类,实现了对纸张的快速无损鉴定。     

x射线衍射法对药物西咪替丁的分析

该文以药物西咪替丁为研究对象,在不同的重结晶条件下得到了西咪替丁原料药的四种晶型,采用X射线衍射仪、DSC等仪器进行测试表征,并以此为依据对各厂家的西咪替丁剂型药物进行分析评估。     

x射线衍射技术进修班通知

近些年，国内新建了许多X射线多晶体衍射实验室，有许多年轻同志管理和从事X射线多晶体衍射的工作，还有许多同志在工作中需要运用X射线多晶体衍射进行科学研究和产品分析，他们都需要较系统地掌握X射线多晶体衍射的原理和较熟练运用X射线多晶体衍射分析技术。为此，本专业委员会决定开办X射线多晶体衍射技术进修班。本进修班将分两个阶段进行，第一个阶段是学习X射线衍射与散射的基本原理，     

用微机控制的高分辨率三晶体X射线衍射仪究研GaInP外延层的超结构

本文介绍自制具有极高分辨率的微机控制的三晶体X射线衍射仪，利用这台仪器测量了用MOCVD方法生长的Ga0.52In0.48P外延层的超结构，我们发现，在Ga0.52In0.48P外延薄膜内由In平面和Ga平面交替组成的（111）平面中，存在着交替的In丰与Ga丰平面，这种In丰与Ga丰的附加浓度可达4-6%。     

X射线显微镜

主要介绍X射线显微镜的显微成像原理和几种类型X射线显微镜的基本构造、特点和应用实例。成像衬度可以是吸收衬度,也可以是相位衬度;显微镜可以是透射式的,也可以是扫描式的;还有一类将一些X射线光谱技术与显微镜结合的光谱显微镜,介绍了X射线吸收近边光谱、X射线磁圆二色谱和光电子发射谱与X射线显微镜的结合;另外,简要叙述X射线全息显微术。     

基于硅漂移探测器的X射线粉末衍射仪探测记录系统的研究

研究了提高X射线衍射强度的方法,将硅漂移探测器(SDD)集成在X射线粉末衍射仪的探测记录系统中,发展出一种新的X射线粉末衍射线的高效探测与记录系统,它包括SDD探测器、单道脉冲分析器和计数电路等部分。测试结果表明,探测记录系统能量分辨率高,可以省去石墨单色器,与常规配备石墨单色器+闪烁/正比探测器的衍射仪相比,衍射强度可提高三到四倍。同时,此探测记录系统可排除样品中荧光元素的干扰,且可用于阵列探测器"阵列"效应失效的测试(如极图、In-Plane分析等)。新系统可提升薄膜材料和凝聚态微纳结构分析的水平。     

X射线衍射仪的角度溯源

采用溯源至SI国际单位的激光干涉仪和自准直仪分别对X射线衍射仪的θ角、2θ角进行校准,并且对角度引入的不确定度进行了分析.结果显示角度引入的扩展不确定度为0.02nm(k=2).