A/D转换器测试过程中频谱泄漏的抑制

提出了一种改进的激励波形和一种改进的频谱分析方法，用于A／D转换器的测试。改进的激励波形有效地解决了信号输入频率不确定的问题，并且能够很好地抑制噪声的干扰；改进的频谱分析方法通过对信号进行预处理，然后再进行傅里叶变换，改善了数据处理的精度。这两种方法相结合，很好地抑制了频谱泄漏，明显提高了A／D转换器测试的准确度。     

一种基于知识的可测试性设计

本文提出了一种基于知识的可测试性设计(DFT)方法。系统在“专家”知识的指导下,实现了分类的DFT。该方法采用选择跟踪插入测试点,几乎在线性时间内实现了可测试性的较优改进。该方法具有的自学习能力大大减小了DFT的计算量。     

一种基于电流输出DAC的逐次逼近A/D转换器

设计了一种12位逐次逼近A/D转换器.该A/D转换器具有四种信号输入范围,利用电阻网络使不同量程的模拟输入与内部DAC输出范围保持一致,从而使用相同的比较器和基准实现对不同范围输入信号的A/D转换;采用一种新型分段电流源结构,利用电流信号实现内部DAC及逐次比较功能.该电路采用2 μm LC2MOS工艺实现,其积分线性误差(INL)和微分线性误差(DNL)均为±1/2 LSB,最大转换时间为12 μs.     

高速D/A转换器动态参数测试方法研究

对基于逻辑分析仪和频谱分析仪的高速D/A转换器的动态参数测试方法进行了理论分析和测试实践。通过编程,由逻辑分析仪给D/A转换器提供单一频率的数字正弦波和时钟信号;通过频谱分析仪,对D/A转换器输出模拟信号采样,进行快速傅里叶变换,分析得到D/A转换器的动态参数特性。实验证明,该方法能快速测试高速D/A转换器的动态参数,在实际应用中可获得良好的效果。     

高速A/D,D/A转换器在电子战的应用

通过对电子战设备的概略描述，指出了电子战设备的发展与电子元器件的局长紧密相关。先进的元器件河以使电子设备的体积、重量大幅度下降。介绍了高速Ａ／Ｄ、Ｄ／Ａ转换器在电子战中的应用，指出了电子战对数据转换器发展的需求。     

高速A/D转换器的研究进展及发展趋势

介绍了高速高精度A/D转换器技术的发展情况、A/D转换器的关键指标和关键技术考虑;阐述了高速高精度A/D转换器的结构和工艺特点;讨论了高速高精度A/D转换器的发展趋势.     

高性能及新颖性A/D转换器技术综述

集成模数转换技术是模拟集成电路中一个重要的分支.随着近几十年集成电路制造技术的飞速发展,集成A/D转换器的性能也在不断地提升.文章在总结归纳近期技术文献的基础上,概述了A/D转换器在高精度和高速度两个主要发展方向上的关键技术;介绍了采用新颖结构形式的A/D转换器,以及与先进设计工具及设计流程相关的技术.文章旨在给从事高性能A/D转换器设计的工程技术人员提供一个实用的技术参考点.     

A/D与D/A转换器主流工艺技术现状和发展趋势

随着半导体技术的进步,对A/D、D/A转换器的性能提出了更高的要求,用于制作A/D、D/A转换器的工艺技术也在不断改进.文章介绍了目前用于制作A/D、D/A转换器的主流工艺技术;结合相关产品,对比分析了各种工艺的优缺点,并对A/D、D/A转换器工艺技术的发展趋势进行了展望.     

一种高速高分辨率电流舵D/A转换器的设计

基于0.18μm CMOS工艺,设计了一种电源电压为3.3 V/1.8 V(模拟电路部分电源电压为3.3 V,数字电路部分电源电压为1.8 V)、最大刷新率为200 MSPS、分辨率为14位的高速D/A转换器(DAC).该DAC采用传统的5-4-5温度计码与二进制权重码混合编码的分段电流舵结构.对电路中的关键模块,如运算放大器、带隙基准源,进行了优化设计;给出了整体电路的版图设计.仿真结果显示,采样频率为200 MHz时,DAC的SFDR为87 dB左右.     

一种应用于A/D转换器的Flash单元的设计

针对A/D转换器中广泛使用的Flash单元,设计了一组由全差分预放大器、动态比较器和D触发器组成的电路。对电路的抗翻转噪声能力进行了分析和仿真,指出,通过改进全差分预放大器的共模反馈电路,有效提高了Flash单元抗翻转噪声的能力。利用SMIC 0.18μm CMOS混合信号工艺,将设计的Flash单元应用到一个Flash A/D转换器中进行了流片。A/D转换器具有100 MHz奈奎斯特采样带宽。流片测试结果表明,采用该Flash单元的A/D转换器的信噪比SNR获得了改善,有效位数ENOB能提高大约0.6比特。     

一种基于JTAG的嵌入式DSP可调试系统的设计

目前,嵌入式调试主要采用硬件调试器与调试程序相结合的调试方法。但硬件调试器的价格比较高,增加了系统开发成本。为了降低调试成本,提高调试效率,提出了一种基于JTAG接口的嵌入式DSP可调试系统,实现了硬件调试功能,具有较好的参考价值。     

基于JTAG的SoC软硬件协同验证平台设计

基于JTAG接口,提出了一种以FPGA为基础的SoC软硬件协同验证平台.在验证平台的硬件基础上,开发了调试验证软件,能够完成SRAM的读写、CF卡的读写、串口的收发、程序的下载、及程序复位等功能.利用验证平台的软硬件完成了SoC的IP模块的调试验证及操作系统μClinux的调试验证.实践表明,该验证平台有益于SoC的设计和调试,降低SoC应用系统的开发成本.     

基于JTAG的SoC开发接口设计

文章提出一种应用在SoC系统中的开发接口,用于边界扫描测试、调试、程序流跟踪等。在处理器、外设内核和开源（GDB）、商业的调试／仿真器或边界扫描测试设备之间提供支持。通过IEEE1149．1JTAG协议接口提供外部调试／仿真器、边界扫描测试设备与内核之间的连接。为了使设计具有实用价值和通用性,该设计重点实现了硬件调试功能中最基本最重要的部分,力求结构简洁、工作可靠。文中的设计通过仿真验证,证明其设计可靠、方案可行,具有很好的实用价值。     

一种基于JTAG的软硬件协同SOC调试接口

提出了一种处理器片上调试系统。使用科学的设计方法学完成了硬件与软件部分的设计,采用优化策略改进了硬件部分,得到了测试覆盖率高、稳定性较高、实时性较好的可调试SOC。软件部分通过层次化设计,连接硬件和UI,具有一定的价值。     

一种基于JTAG的SoC片上调试系统的设计

基于SoC的硬件设计,提出了一种基于JTAG的SoC3片上调试系统的设计方法.该调试系统可设置多种工作模式,含有CPU核扫描链和片上总线扫描链.能硬件实现调试启动与停止、断点设置、单步执行及存储访问等调试功能.对外围IP模块调试诊断时,可绕开CPU核,通过片上总线扫描链直接进行读写访问.该调试系统对其他SoC的设计具有一定的参考价值.     

Flash在线数据加载的JTAG通用方法研究

介绍了一种通过Flash主控芯片的JTAG接口实现对Flash加载数据的方法.描述了Flash存储器的特点、JTAG技术的发展和应用以及TCL脚本语言的编程方法,给出了一个以JTAG方法对Flash进行数据加载的通用方案,该方案可以作为嵌入式处理器电路调试方法的重要补充.     

一种基于JTAG的SOC测试电路设计及实现

提出了一种基于JTAG的新的测试电路设计思路.通过扩展JTAG指令,可以利用JTAG通信协议向SOC芯片中下载自定义的测试指令,并读回测试的最终结果.该方法可以对SOC内部的IP及存储器进行充分的功能测试,测试过程可灵活配置,可以快速定位测试中出现的问题.     

一种基于JTAG的CLB内建自测试方法

针对Virtex-4型FPGA中可编程逻辑块故障检测的需求,提出了一种基于JTAG的内建自测试方法,并基于DEV++平台自行开发了基于并口的专用边界扫描测试软件.该方法可以比较可靠的检测FPGA中存在故障的可编程逻辑块,并能比较高的分辨率实现故障的定位.与传统的单故障检测方法相比,提出的改进型测试方法可以检测和定位多个故障CLB,并可以对故障类型进行诊断.实验结果表明:提出的测试方法可以精确的检测和定位存在故障的多个CLB,对具有类似结构的SRAM型FPGA具有普遍适用性.     

JTAG界面——一个供IC用的标准测试界面

针对大规模集成电路中利用传统的探针测试方法浪费时间,不能检测IC引脚内部信号的原因.本文系统地论述了JTAG如何来解决上述问题的的方法和手段,以及JTAG的指令.