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为了抑制本底噪声,提高图像动态范围,首先给出CMOS图像传感器的4T像素结构,分析该结构下的基本噪声源.然后,分别讨论了各本底噪声分量的形成及对信号的影响,并以噪声电子数的形式对各噪声分量进行了定量分析,提出了相应的噪声抑制措施,且进行了仿真验证. 相似文献
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阐述了一种简化4T像素结构的设计。较普通4T像素结构而言,该简化结构像素内部去掉了行选通管,从而提高了像素的填充因子,简化了内部电路设计,减小了版图的面积,消除了行选通管引入的随机噪声。该像素结构采用0.11μm CIS工艺,成功应用于一款像素阵列为640×480的CMOS图像传感器芯片,经过流片测试,芯片整体性能达到了预期的设计目标。 相似文献
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巳制成一种三相多晶硅栅结构的线型电荷耦合摄像器,该固体摄像器具有128光敏单元。图像信息采用双信道传输,片上放大器采用 p 沟道硅栅自对准 MOS管。在100千赫的驱动频率下测得的电注入转移效率达到99.994%。本器件的制作采用了较先进的工艺步骤。 相似文献
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目前,用于数码相机的图像传感器仍被CCD所掌控,而在可拍照手机方面,CMOS图像传感器的发展势头相当迅猛,虽然现在这一市场的主力军是VGA,但CMOS图像传感器的市场占有率有望在2006年与VGA持平,继而成为可拍照手机的主导配置。多家厂商也都在角逐该市场,纷纷推出130万、300万像素乃至更高分辨率的CMOS图像传感器,以求占得先机。 相似文献
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CMOS有源像素图像传感器的辐照损伤效应 总被引:2,自引:1,他引:2
互补金属氧化物半导体(CMOS)有源像素(APS)图像传感器作为光电成像系统的核心器件,被广泛应用在空间辐射或核辐射环境中,辐照损伤是导致其性能退化,甚至功能失效的主要原因之一。阐述了不同辐射粒子或射线辐照损伤诱发CMOS APS图像传感器产生位移效应、总剂量效应和单粒子效应的损伤物理机制。综述和分析了辐照损伤诱发CMOS APS图像传感器暗信号增大、量子效率减小、饱和输出电压减小、噪声增大以及暗信号尖峰和随机电码信号(RTS)产生的实验规律和损伤机理。归纳并提出了CMOS APS图像传感器辐照损伤效应研究亟待解决的问题。 相似文献