不完全先验信息条件下的可靠性评估

小子样产品可靠性的Bayes评估中通常需要用到主观经验信息,如可靠度均值或可信区间等,这些信息属于不完全先验信息,利用这些信息通常无法确定可靠性分布函数。基于Bayes理论,以贝塔分布作为先验分布类型,利用最大熵原理将不完全信息转化为完全型先验信息,得到产品可靠性的先验分布,再结合观测数据,利用Bayes公式得到产品可靠性后验分布。从仿真算例可以看出,给出的方法能够有效地处理不完全先验信息,提高产品可靠性评估的效率。     

电子设备可靠性的Bayes评估及检验

本文介绍了小子样电子设备的Ｂａｙｅｓ可靠性评估模型。它要求评估以元器件失效率为基础，结合设备的现场试验数据进行。此外本文提出了根据试验数据对先验分布进行假设检验的必要性。     

一种电子设备贝叶斯可靠性评估的新方法

针对贝叶斯方法应用中后验参数的运算复杂性问题,提出了一种电子设备贝叶斯可靠性评估的新方法.基于工程实践中常见的先验信息建立失效率先验分布,通过随机采样构建设备寿命分布参数的离散联合先验分布,结合截尾试验数据,再通过二次随机采样得到分布参数的离散联合后验分布函数.通过实例给出了运算过程,并与其它贝叶斯运算方法进行了比较.结果表明,此方法在确保精度的同时可以大大简化计算过程,在电子设备可靠性评估中有较高的应用价值.     

软件先验知识和基于测试的可靠性评估关系研究

软件测试能够为软件可靠性提供一种运行前评估．为减少达到一定可靠性目标所需要的测试用例的数量，普遍认为可以将软件的先验知识综合到基于测试的可靠性估计模型中．目前已经提出几种理论模型但是少有试验验证．本文对测试系统的定义进行了扩展，从规范、实现和测试之间的关系，研究了影响软件测试有效性的因素，并通过试验验证了基于贝塔分布模型的先验知识和基于PAC模型的先验知识在可靠性估计中的作用．本文的结论认为是软件的易测性特征而不是先验知识的多少决定了达到一定可靠性目标所需的测试用例数量．该结论有助于理解软件设计对于测试有效性的影响．     

可靠性评估领域中环境因子的研究进展

论述了环境因子在可靠性评估领域的重要性，基于研究环境因子的3个前提，讨论了各类分布环境因子的定义。重点综述了国内环境因子的研究情况和所取得的成果，最后根据可靠性评估理论的发展方向和小子样理论在可靠性评估领域中的重要性，指出了对环境因子的确定方法进一步研究的必要性和方向。     

基于先验信息的弹药消耗量统计推断方法

热像仪作为红外武器系统的重要组成部分,其可靠性评估越来越重要。本文通过利用可靠性预计值作为先验信息,可靠性摸底试验数据作为后验信息,开展基于先验信息的热像仪可靠性评估研究。结果表明,基于先验信息的热像仪可靠性评估方法合理可行,将会降低经典统计法对现场试验样本容量的依赖程度,减少现场样本容量,从而节省各种资源的投入。     

电子设备可靠性设计中器件的失效评估

本文主要针对设备可靠性设计中的器件失效问题展开讨论,对器件在工作中失效性进行了评估,通过失效评估为后期的设计工作打下了基石,提高了整机的性能指标.     

一种电子产品的可靠性评估方法

针对不便于进行试验室鉴定其可靠性水平的军用电子产品,提出了一种可操作性较强的可靠性评估方法。该方法应用已收集的调试、环境试验等其他的试验数据,通过环境因子的折算,并采用经典法对产品的平均故障间隔时间(MTBF)做出区间估计。最终完成对评估对象可靠性水平的评估。     

一种经济准确的电子装备可靠性评估方法

给出了一种低成本、高准确性的电子装备可靠性评估方法。该方法利用日常工作中积累的电子装备调试、生产、试验和使用过程中的有效可靠性数据,采用合适的可靠性评估数学模型,计算出较准确的电子装备可靠性评估值。收集足够有效的可靠性数据及选择合适的评估模型,是该估计方法的关键。将可靠性验证与装备日常试制、试验工作相结合的可靠性评估方法,属国内首创;同时,该方法适用性强、准确度高而且成本低,具有普遍推广的意义。     

基于Dirichlet验前的Bayes可靠性分析

在失效数据和截尾数据并存的情况下,系统的可靠性是经常遇到的问题。首先,分析了以Ｄｉｒｉｃｈｌｅｔ分布为验前分布的Ｂａｙｅｓ框架,计算了验后均值的上下限,给出了系统可靠度的点估计和上下限。最后,仿真实例说明了本方法具有很强的稳健性和良好的适用性。     

基于Bayes理论的装载可靠度定时截尾试验方案

研究小子样条件下鱼雷装载可靠度Bayes检验方案的制定方法。采用优化方法确定试验方案,克服了传统方法主观性较强的缺点,提高了试验方案的准确性和客观性。应用实例表明,该方法能缩短试验时间,较大地降低了试验成本。     

An efficient reliability estimation method for CNTFET-based logic circuits

Carbon nanotube field-effect transistors (CNTFETs) have been widely studied as a promising technology to be included in post-complementary metal-oxide-semiconductor integrated circuits. Despite significant advantages in terms of delay and power dissipation, the fabrication process for CNTFETs is plagued by fault occurrences. Therefore, developing a fast and accurate method for estimating the reliability of CNTFET-based digital circuits was the main goal of this study. In the proposed method, effects related to faults that occur in a gate's transistors are first represented as a probability transfer matrix. Next, the target circuit's graph is traversed in topological order and the reliabilities of the circuit's gates are computed. The accuracy of this method (less than 3% reliability estimation error) was verified through various simulations on the ISCAS 85 benchmark circuits. The proposed method outperforms previous methods in terms of both accuracy and computational complexity.     

先验信息可信度在成败型试验中的应用

本文针对成败型试验评估中验前信息“淹没”现场信息的问题,提出了先验信息的使用由先验可信度的大小来决定的方法,研究了验前信息对Bayes估计和检验的影响.以导弹命中率的估计和检验为例,说明了当考虑验前信息可信度时,现场信息能避免被大量先验信息所淹没,能得到更合理的结论.为利用验前信息进行参数估计和检验提供了理论依据.     

基于ML-II方法的k/n-系统Bayes可靠性评估

n中取k系统(简称k/n-系统)是工程实践中应用最广泛的系统类型之一。为了在系统现场试验样本量很小的情况下进行可靠性评估,首先利用次序统计量推导了k/n-系统寿命分布的密度函数,并给出了模型参数的第二类极大似然估计(ML-Ⅱ估计);然后给出了k/n-系统Bayes可靠性评估的一般步骤;仿真实例表明了方法的可行性。     

一种人脸姿势估计新方法

本文提出了一种人脸姿势估计方法,基于单幅人脸图像的五个特征点:左右外眼角,左右嘴角和鼻尖估计人脸姿势,论文首先给出人脸姿势表示——旋转角度((?),ψ,θ),然后介绍了姿势估计方法,最后的实验结果证明了本文算法的有效性。     

一种非迭代的位姿估计方法

针对深度相机运动中的位姿估计问题,提出了一种无需迭代的估计方法。首先,在二维图像上应用图像特征点提取和描述方法,完成不同视点的初始匹配。其次,选择初始匹配度量距离最小的2个特征点作为种子点。以三维空间中欧式距离与坐标系的建立无关为准则,对初始匹配进行筛选。剔除误匹配点对,进而计算运动位姿参数。最后,采用nyuv2图像数据库进行实验,验证了本文算法的可行性和正确性。实验结果表明:与传统算法相比,该方法计算效率平均提高了8倍以上,特别适用于大型场景中的同步定位和地图构建SLAM(Simultaneous Localization and Mapping)问题。     

一种基于证据理论的可靠性信息融合方法

针对产品同一状态信息的融合问题,提出了基于证据理论的多个验后信息加权融合法。该方法在充分考虑多个验后分布一致度的基础上,结合D-S证据理论计算权重因子,再通过加权融合法的一般思路得到一个综合的验后分布形式,进一步提高了统计推断的精度和置信度,最后以实例计算验证了方法的有效性和可行性。     

研制阶段的成败型产品可靠性Bayes评估

研究了研制阶段的成败型产品可靠性的Bayes评估问题。针对当前可靠性评估方法中,经典统计方法无法利用历史信息,而传统Bayes方法又存在对历史信息与现场信息不加区分的缺陷,提出了研制阶段成败型产品可靠性评估模型。模型使用混合验前分布,并用历史样本与现场样本的拟合优度来确定混合分布中的继承因子,这样合理性就很容易得到解释。