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在批量生产或生产流水线上,只要有气源,就可以实现气动测量。气动测量具有测量精度高,数据可靠,容易实现等特点。气动测量头可用来直接测量被测工件的尺寸、几何形状和位置偏差。气动测量头实质上是经过精确计算的喷咀挡板机构。喷咀挡板机构的压力特性(P_c-Z关系)和流量特性(Q-Z关系)是气动测量头原理的基础。在设计 相似文献
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章锋 《机械工人(冷加工)》2002,(12):20-21
珩磨工艺广泛用于孔的加工,珩磨头的设计和调整对孔的加工精度有着直接影响。本文介绍一种带气动测量的珩磨头,它用于冰箱压缩机气缸孔的加工。气缸的材质一般为铸铁,硬度180~220HB,抗拉强度大于210MPa,珠光体含量小于90%,气缸加工后要求圆柱度小于30μm。 相似文献
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李鸿昌 《机械工人(冷加工)》1990,(2):36-36
精密量具的测量头一般为球面,这些超半球的测量头由于工作的频繁,使用的年深日久而受到局部磨损,失去原有的精度和规整的球面形状,如果再用于测量,则由于对基准的测量触点与被检测工件的测量触点位置产生偏 相似文献
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图1、图2所示的气动内外径测头与浮标式气动量仪配套使用,广泛应用于机械行业,进行孔、轴、槽等的尺寸测量以及形位误差的测量。目前使用的气动测头硬度在HRC62~65之间。但是,在如此高限硬度下,测头的使用寿命仍然很低,一般约为8000~10000次。例如,油泵油嘴偶件测头,连续使用不到一星期就因磨损而报废。 相似文献
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田亚民 《机械工人(冷加工)》2000,(4):37-38
在使用加工中心加工工件的过程中,测量刀具的直径和长度以及确定工件零点的坐标占用了大部分的辅助时间。如何尽量缩短这部分时间,对提高生产效率有很重要的意义。为此,我厂在引进辛米公司四轴加工中心的同时,选购了雷尼绍{Renishaw)公司的TR27R型刀具测头(Tool Setting Probe)和MP12型主轴测头(spindle Probe)。其中刀具测头可以快速地测出 相似文献
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分析了极坐标法测量渐开线齿形时测头设计的有关问题,包括根据不干涉条件确定测球的最大半径,通过计算确定测球规格;分析测杆受力变化引起的变形,为测杆结构设计提供了依据;分析了测球尺寸偏差对测量精度的影响。 相似文献
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在加工中心上加工工件时,测量刀具直径、长度以及确定工件零点坐标等需占用大量辅助工时,缩短这部分辅助工时对生产效率的提高具有重要意义。为此,我厂在引进辛辛那提公司四轴加工中心的同时,选购了雷尼绍(Renishaw)公司的TS27R型刀具测头和MP12型主轴测头。刀具测头可快速测量刀具的长度和直径,并将测量值自动输入机床控制系统的刀具表中。主轴测头可准确测量工件表面位置坐标、外角和内角点位置坐标、圆柱中心线、两平行平面的中心面位置坐标,并建立工件零点与程序零点的对应关系。这两种测头操作简便,测量准确。但因两种测… 相似文献
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精密测头技术的演变与发展趋势 总被引:10,自引:2,他引:10
本文从历史发展角度考察了精密测头技术的发展,分析了触发式测头、扫描式测头和非接触式光学测头的特点和应用范围,给出了最新测头案例,并对市场上存在的几种测头进行了性能比较,最后论述了精密测头技术的发展趋势。高精度、高效率、高集成化、多功能、数字化以及发展非接触测头是今后精密测头的发展方向。 相似文献
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在用于测量具有间断表面制件(如在外圆磨床上磨制花键轴)的自动量仪中,测杆的阻尼和闭销方法有很多,大多数是采用电动的.也有部份是用价格昂贵的阻尼和闭锁系统. 微型、快速气动控制元件的发展.促进了测杆能自动闭销的气动测头的结构发展。这种测头可以作为任何测微计的连接件来使用。为了发挥气动机械的优点.闭销动作应直接由工件的空缺来控制.而仪器则 相似文献
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测头是坐标测量机的关键部件,直接关系到测量机的工作效率和测量精度。坐标测量机测头按测量方式可分为接触式和非接触式两大类。接触式测头又可分为机械式、电气式和光电式;非接触式测头则包括光学显微镜测头和电视扫描测头等。本文介绍的瑞士Sip公司生产的OMNISip三维万向测头属于接触式光电测头。一、工作原理OMNISip三维万向测头(见图1)可在空间以任一方向进行探测。测头的设计遵循了以下计量原则:①测头无内部摩擦;②对探测方向无限制;③无非线性轴向运动。测头本身就可看作是一台微型测量机。测头内有一个可向任意方向运… 相似文献
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通过凸轮测量实例,对凸轮测量时的测头转换方法进行了分析,并指出测头转换不应改变设计要求,即测头转换应遵守设计测点位置不变原则。 相似文献
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针对当前微纳米测量中存在的大范围高精度测量及复杂微结构几何参数表征难题,基于多测头传感和精密定位平台复用技术,开发了一台具有多种测量尺度和测量模式的复合型微纳米测量仪。为使其具备大范围快速扫描测量和小范围精细测量功能,仪器集成了白光干涉和原子力显微镜两种测头,通过设计适用于两种测头集成的桥架结构及宏/微两级驱动定位平台,实现整机的开发。为保证仪器测量结果的准确性和溯源性,利用标准样板对开发完成的仪器进行了校准。仪器搭载的白光干涉测头可以达到横向500 nm,纵向1 nm的分辨力;原子力显微镜测头横向和纵向分辨力均可达到1 nm。最后,利用目标仪器对微球样品进行了测量,通过大范围成像和小范围精细扫描,获得了微球的表面特征,验证了仪器对复杂微结构的测量能力。 相似文献