基于遗传算法的数字集成电路多故障测试生成方法

在数字集成电路多故障测试生成算法的研究中,寻求具有高故障覆盖率,较短测试生成时间是问题的关键。文中采用遗传算法,通过对已有算法的分析,提出了计算简单、切实有效的适应度函数,减小了算法的时间复杂度,实验结果证明该算法可以有效地得到故障的测试矢量。     

数字集成电路的微机控测系统

本文论述了用ＭＣＳ－５１系列单片微机控制的数字集成电路，ＡＤＣ器件、ＤＡＣ器件，集成运放的测试原理。介绍了硬件结构整体设计和软件流程设计，研制成功的样机与其它同功能的测试系统相比，具有体积小，重量轻，扩展容易、测试范围宽、成本很低、操作方便和可靠性高等优点。是一种性能／价格比高的便携式测试仪。     

减少数字集成电路测试时间的扫描链配置

研究了通过扫描链配置缩短数字集成电路测试时间问题。利用图论中的极大独立集来描述被测电路主输入的结构无关性。通过结构无关主输入共用扫描寄存器,以缩短扫描链长度进而减少扫描测试时间。提出了利用被测电路主输出可控性来分配一主输入至某一共用扫描寄存器的主输入组,直至形成一个极大组,这改进了利用被测电路测试集信息处理同样问题的方法[1]。还分析了在多输出有扇出电路中插入内置扫描单元,以增大结构无关输入的实现方法。对国际标准电路的实验证明了该方法是减少数字集成电路扫描测试时间的一条有效途径。     

基于虚拟仪器技术的混合集成电路测试系统的设计与实现

设计了一种基于虚拟仪器技术的混合集成电路的性能参数自动测试系统。简要介绍了测控系统的总体设计方案和基本的硬件配置结构，详细介绍了此系统在LabWindows／CVI开发环境下的软件设计方法和功能实现。本系统充分利用GPIB总线技术和RS232总线技术，具有很好的可控性和通用性。     

基于数字温度传感器DS1620的储粮温度自动测试系统

文中介绍了数字式温度传感器DS1620的特点与工作原理,研制了一种基于DS1620的储粮温度自动测试系统,给出了系统结构和软件流程。实际应用表明,该系统具有结构简单、数据传输可靠等特点。     

基于DTIF数据的数字电路故障诊断技术研究

系统全面地阐述了在数字电路故障诊断系统中使用数字测试交换格式(DTIF)数据的方法,使DTIF数据应用到海军某型ATE系统中.在故障字典诊断方法中提出991法并成功应用;在探笔引导方法中采用智能技术,有效提高了探测效率.     

基于DTIF数据的数字电路故障诊断技术研究

系统全面地阐述了在数字电路故障诊断系统中使用数字测试交换格式(DTIF)数据的方法,使DTIF数据应用到海军某型ATE系统中.在故障字典诊断方法中提出991法并成功应用;在探笔引导方法中采用智能技术,有效提高了探测效率.     

基于图论的最小测试集的寻找

电路的测试与诊断已有了广泛的研究,但被测电路的最小测试集的寻找一直是个难题.本文引用图论中的有关概念,对使用离散事件系统理论进行建模的电路进行最小测试集的查找,能够方便快捷的获得被测电路的最小测试集.最后用实例对该方法进行了验证.     

基于多稳随机共振的机电设备故障诊断研究

针对机械轴承早期故障诊断提出了多稳随机共振检测方法。分析了系统参数对多稳系统结构的影响,研究了高斯噪声背景下基于多稳随机共振的微弱信号检测方法。采用平均输出信噪比作为衡量指标,以多频微弱信号为待测信号进行数值仿真,并将其应用于滚动轴承故障信号检测中,实验结果均表明,该方法对早期故障振动信号具备准确的诊断能力,为其应用于工程实践奠定了基础。     

基于GASA的最小测试集求取的研究

近年来发展的离散事件系统(DES)理论可提供一种统一的对数模混合电路中数字电路和模拟电路测试都有效的方法.对基于DES理论的可测试性研究中电路最小测试集的求取问题,提出了一种运用GASA混合策略的组合优化方法,并对进一步的研究工作进行了展望.     

数字集成电路的混合模式内建自测试方法

为以较少的硬件和测试时间开销获得对被测电路测试集的完全覆盖，提出一种基于扫描的数字集成电路混合模式内建自测试方法。通过对用作伪随机测试激励的线性反馈移位寄存器（LFSR）的结构和初态的选择以提高故障覆盖率和减少测试时间，对上述伪随机测试中未能覆盖的故障，采用一种不用存储来生成确定性测试矢量的方法。对标准电路的实验证明可获得较高的测试效率，特别适合数字集成电路的内建自测试。