直径和偏心测量、控制的文献索引

1.挤出机的自动定心机头 B卫一6 65,6 45 2关于用挤出的绝缘材料涂复导线的设备改进 B卫一75之,6 16 a关于检测绝缘线芯偏心率的装置改进 B卫一7 78,0 71 曦关于光学测量法的改进 B卫一7 91,813 5测量电线绝缘层平均厚度用的装置 B卫一7 97,399 6测量厚度和偏心率用的电容电极装置 B卫一7 97,6 33 了检查电缆偏心率的仪器和方法 B卫一8 13,7 02 8.关于测量电缆中张力用装置改进 B王‘8 37,6 15 9.测量管形壳体厚度的仪器改进 Br一9 52,1 0610.连续控制绝缘护礁洲臭心率用的仪器 卫王‘.1,1 25,9 351 1.控制绝缘电缆偏心率的方法和设备改…     

用激光器与涡流传感器测量金属表面涂层厚度

美国马丁·马里埃特公司正在研究一种测量涂层厚度的新方法，它利用反射激光束和涡流传感来测量金属基质上非导电涂层的厚度。该装置可与自动生产和检验系统相结合，用来测量并控制热绝缘涂层、油漆和各种其他防护层的厚度，测量的涂层厚度从0.001英寸到6英寸。     

在挤塑过程中测量电缆直径的光电装置

一种光电装置已经被设计来检测从挤塑机出来的聚乙烯绝缘电缆线芯直径,在这里采用机械的测量装置是做不到的。可连续而可靠地被测量的电缆线芯最大直径为1.1吋(28mm),而精确度为0.001吋(0.0254mm)左右。     

软性印制线路板

上无二十厂首次试制成功一种软性印制线路板,最近通过了技术鉴定,并已投入批量生产.软性印制线路板是国际上六十年代开始研制和应用的一种新技术,过去国内尚属空白. 软性印制线路板采用聚酰亚胺或聚酯薄膜作为绝缘基底(厚度0.05～0.10毫米),复上导电体铜箔(厚度0.05毫米),经过感光腐蚀法制成.导电体抗剥强度不小于1.2公斤/厘米;耐浸焊性可达260℃高温;在曲折半径不小于1毫米时,可重复弯折20次,导电     

Isopalm轻便绝缘探查器

Isopalm探查器是一种轻便的绝缘故障探查装置,专供现场探查电信电缆的绝缘故障。 这一装置应用默里(Murray)环线试验法,其工作原理是测量计算出故障处的电阻与故障线电阻的比率。 输入线路或电线的参数后,Isopalm就会精确显示     

新的绝缘厚度扫描测量仪

Zumbach电子研究所已研制出超声波绝缘厚度扫描测量仪,其通过传感器及变频器能够在数秒内同步训整到最佳测量位置。扫描测量仪完全不用接触被测量电缆表面,同轴绝缘厚度外径测量范围为10--100mm。     

厚薄膜测量

为透明和半透明材料、厚薄膜测量设计的薄膜厚度测量装置性能好于类似的 CCD系统。光谱国际公司的薄膜厚度测量装置能测量比类似 CCD传感器薄的膜。薄膜厚度分辨率为 2 nm,重复性在± 1%或 0 .4 nm,可在现场单独应用。此装置可用于计算吸收和非吸收材料的折射率 ,可进行多个薄膜层的同时测量。也可用于测量未知厚度和未确定成分的膜。系统可测量电介质膜 ,如氮化物、氧化物 (氧化硅、氧化铝 )等聚合物涂层和吸收材料薄膜 (如硅、聚硅、无定形硅和其他半导体材料 )。此装置性能先进 ,有广泛应用 (包括半导体晶片、太阳电池、平板显示和光…     

用球形滚槽法测量硅外延层的厚度

引言过去在测量外延层或扩散层的厚度时,曾采用过磨角法、秤量法、红外线反射法等方法。这些方法各有其优点,但在测量1微米以下的薄层时,都不能得到良好的精度。在硅的外延层和扩散层厚度的测量方面,还有一种球形滚槽测量法。这种方法很简便,而且在测量几千埃的薄层时精度很高。另外,除了外延层,还能直接测量各种绝缘膜、金属膜以及由这些膜     

主从式便携直流系统绝缘检测装置设计

为解决目前在用的便携绝缘检测仪器大多采用频率注入法,会在测试时对直流系统产生干扰的问题,依据直流系统绝缘检测装置应为直流原理的相关规定,研制了一套主从式便携直流系统绝缘检测装置。便携装置基于直流方法进行绝缘测量,由测量支路的主机和实时监测母线的从机两部分组成。从机检测母线电压、电阻,主机通过采集支路漏电流,计算分析支路电阻,实现直流系统绝缘情况便携检测。设计程序,制作实物搭建平台进行测试,测试结果证明装置的可行性和实用性。     

He-Ne激光穿透组织规律的探讨

我们用 He-Ne 激光先后测量了死猪肉、活家兔、死家兔以及死、活人体组织的光穿透深度,实验结果如下:死猪肉组织:4～26毫米不同厚度的猪脂肪;7～21毫米不同厚度的猪瘦肉,测量其等的穿透率.定义穿透率为T     

利用万用表测量绝缘电阻

电子电气设备的绝缘电阻一般使用兆欧表测量.故障应急时,也可用万用表来判断电子电气设备的绝缘电阻.常用的万用表测量绝缘电阻的装置如图1所示.     

桌面毛细管快放电X射线实验装置电压测量系统的研究

桌面毛细管快放电X射线激光实验装置，是研究高压大电流放电直接激励X射线激光放大技术的快脉冲发生器。其特点是电压高、电流大、脉冲陡、干扰强、空间小。常规绝缘结构的高压无感电阻测量系统难以满足其高电压脉冲测量的要求。研究了一种新型绝缘结构高压无感电阻电压测量传感器及两级分压测量系统，介绍了传感器的绝缘结构原理、测量系统的组成以及高电压测量结果，并从理论上验证和分析了测量系统的测量结果及相对误差。实验结果表明，新型绝缘结构高压无感电阻能同时具有较高电位梯度和较小电感的优点，设计的电压测量系统峰值误差小，抗干扰能力强，可以较好地满足毛细管快放电X射线激光实验装置中的高电压测量。     

SIMOX薄膜材料的红外光谱特性和薄膜厚度的非破坏性测量方法

报道了 SOI材料薄膜厚度的非破坏性快速测量方法 ,详细地研究了 SIMOX材料的红外吸收光谱特性 ,求出了特征峰对应的吸收系数 .提出利用红外吸收光谱测量 SIMOX绝缘埋层厚度的非破坏性方法 ,并根据离子注入原理计算出表面硅层的厚度 .SIMOX薄膜的表层硅和绝缘埋层的厚度是 SOI电路设计时最重要的两个参数 ,提供的非破坏性测量方法 ,测量误差小于5% .在 SIMOX材料开发利用、批量生产中 ,用此方法可及时方便地检测 SIMOX薄膜的表层硅和绝缘埋层的厚度 ,随时调整注入能量和剂量     

SIMOX薄膜材料的红外光谱特性和薄膜厚度的非破坏性测量方法

报道了SOI材料薄膜厚度的非破坏性快速测量方法,详细地研究了SIMOx材料的红外吸收光谱特性,求出了特征峰对应的吸收系数.提出利用红外吸收光谱测量SIMOX绝缘埋层厚度的非破坏性方法,并根据离子注入原理计算出表面硅层的厚度.SIMOX薄膜的表层硅和绝缘埋层的厚度是SOI电路设计时最重要的两个参数,提供的非破坏性测量方法,测量误差小于5％.在SIMOX材料开发利用、批量生产中,用此方法可及时方便地检测SIMOX薄膜的表层硅和绝缘埋层的厚度,随时调整注入能量和剂量.     

泰氟隆-FEP树脂的熔融挤出工艺

序言泰氟隆 FEP 可以被熔融挤出成各种形状,例如实芯棒、管子、型材和电线绝缘等.直径从小于1/32时(0.8毫米)到几时,壁厚从5到125密尔的管子都可以用这种方法制造.从1密尔到100密尔以上厚度的电线绝缘,不管是作为主绝缘还是电缆护套都已经挤出成功。也已经在很多类型的基体上挤成了高质量的包复层,其中包     

屏蔽装置在绝缘电阻测量中的重要作用

在电力系统中,绝缘材料的优劣对电力设备的正常运行和系统的安全供用电有着重大的影响。用绝缘电阻表测量电气设备绝缘时,表面泄漏电流不容忽视,采用屏蔽装置可以消除泄漏电流对测量结果的影响,提高测量准确度。     

双面光学共焦技术的透镜中心厚度测量设计

基于共焦法测量透镜中心厚度的装置中,需要光进入透镜内部发生折射和反射,但这会影响测量精度。为了解决这一问题,在共焦法原理的基础上,采用双面光学共焦的测量方法,设计了一套透镜中心厚度的测量装置,并进行了理论分析、误差分析和试验验证。结果表明,该装置测量范围能达到30mm,测量精度为2m。该装置实现了对透镜中心厚度的高速非接触测量,完全能达到实际测量的需要。     

偏心测量和控制 在电气绝缘挤出过程中连续监控偏心率和同轴电容变化

本专利叙述控制几何学和有关挤出基本绝缘和挤出护套的电气特性。着重叙述挤出造形的偏心率和同轴电容的监控问题。历史背景在称为挤出线对和挤出四线组的塑料绝缘组件塑料绝缘线的制造中及在电缆组件上加塑料护套时,重要的是保持所希望的均匀绝缘厚度或护套厚度,以及保持绝缘相对于中心轴的同心度。     

轴角编码装置

本文叙述一种通过对二个信号波间的相位差进行微分,来对二个有关元件的角度关系变化进行连续测量与数字编码的装置与电路。本装置是对1959年第797264号美国专利“角度编码装置”的改进。主要用于对精密静电(或电磁)位移传感器控制下产生的二个电波间的相位差作数字编码。本装置用在导弹测距仪的光学跟踪设备和雷达设备中,对方位与俯仰作连续测量,也可用来测量各种元件的角位移。     

电线电缆的自动测量装置及计算机控制系统

在挤出流水线上有关薄膜和板的厚度测量装置以及所用的计算机控制系统、有关管的外径、厚度和偏心的自动测量装置以及所用的控制系统等,在本刊前几期上已作了说明。在挤出流水线上有关线缆外径、厚度、偏心测量装置以及所用的控制系统基本上与以前谈到的挤薄膜、板、管时一样,不过,由于线缆的种类繁多,除了一般的线缆外,还有交链聚乙烯电力电缆、同轴电缆等,因此它们的测量和控制方法自然也不尽相同。