X射线光电子能谱技术在材料表面分析中的应用

X射线光电子能谱技术是一种表面分析技术,不仅能够定性和定量分析材料表面的元素组成和含量,而且可以分析元素的化学价态、化学键等信息.本文通过阐述XPS的基本原理、应用、特点、常见问题及解决办法等,讨论了X射线光电子能谱技术在材料表面分析中的具体应用,并展望了其在计量领域的发展前景.     

X射线荧光分析技术在铝工业中应用

本文对X射线荧光分析技术在铝工业分析中的应用作了分析,供大家参考。     

X射线荧光光谱法在原辅材料中的应用

面对矿石,炉渣,岩石,土壤,耐火材料等材料,其组成复杂,结构差异较大,应用常规的分析需要大量的标准样品,而应用X射线荧光分析软件"宽范围氧化物精确测定定量分析程序(WRO)"有效的解决了上述问题。     

X射线荧光分析在区域地球化学勘查样品分析中的应用

详细论述了X-射线荧光光谱分析化探样品中24个元素的测试条件、方法及其精密度和准确度。采用粉末压片法,选用国家一级标准物质GBW07401～GBW07408、GBW07423～GBW07430和GBW07301～GBW07312为基准物质,使用经验系数法和康普顿散射线作内标校正基体效应。实验数据说明分析结果可靠,完全满足区域化探要求。     

基于钴内标X射线荧光光谱分析法在铁矿石分析中的应用研究

本文主要就钴内标X射线光谱分析方法、工作曲线、标样制作、精密度和准确度、钴玻璃的熔融条件及特殊样品处理方式进行阐述,讲述用钴内标X射线方法分析铁矿石主、次元素的优点与注意事项。     

X射线荧光光谱在晶体材料组成分析中的应用

介绍了X射线荧光光谱在人工晶体材料组成分析中的应用.虽然x射线荧光光谱分析是一种非常有效的元素分析手段,但必须针对不同的样品和分析要求采用合适的样品制备方法,选择或配制合适的校正标样对基体效应进行校正.在样品为单晶时异常反射对光谱的定性解释和定量分析的条件选择可能产生影响,此时最好使用熔融制样法.使用测量结果时,应该充分考虑其不确定度.     

X射线荧光分析方法在矿产品检测中的应用

在检测本钢选矿和外购矿产品的质量的过程中,通过对比传统的化学分析方法以及X射线荧光分析方法,我们发现后者的优势更大,其不仅便于操作,而且有极高的分析精度、极快的检测速度,在生产投入中所取得的效果极其显著。基于此,本文探讨了X射线荧光分析方法在矿产品检测中的应用,希望能够给相关的研究者提供一定借鉴。     

X射线能谱重叠峰的识别

提出一种通过谱线权重来正确识别X射线能谱重叠峰的新方法，应用该方法，成功地分析了Ti合金微区中能量差为20eV的Ｔi的Ｖ的重叠峰，实验表明，该方法简便，可靠，并可适用于Ｋ－Ｚn之间元素的分析。     

毛细管X射线荧光测厚仪优势分析

正目前,国内外生产的X射线荧光测厚仪性能主要取决于准直器和探测器,毛细管加上SDD硅漂移探测器是最好的结构组合,而且业内的毛细管荧光测厚仪也都全部使用SDD硅漂移探测器。这里选取了两台行业内知名的品牌进行比较,参与比较的机型1由4准直器和Si-PIN探测器组成,机型2由毛细管和SDD硅漂移探测器组成。一、测量范围测量样品1是标准厚度为0.046μm的Au薄片。     

X射线光电子能谱(XPS)

在对许多材料的研究和应用中,了解其表面特性是很重要的。而要获得材料的表面特性,就需要一些特殊的仪器,对各种材料从成分和结构上进行表面表征。其中,X射线光电子能谱(XPS)由于其对材料表面化学特性的高度识别能力,成为材料表面分析的一种重要技术手段。 X射线光电子能谱的基本原理(图1)是当一束特定能量的X射线辐照样品,在样品表面发生光电效应,就会产生与被测元素内层电子能级有关的具有特征能量的光电子,对这些光电子的能量分布进行分析,便得到光电子能谱图。XPS起始于发现光电效应之后不久,1914年Rutherford即成功地表述了XPS的基本方程:     

诊断X射线能谱影响因素的模拟与分析

诊断X射线的能谱分布受到一系列因素的影响。为了进一步了解影响诊断X射线能谱的因素,从而为评估光机自身特性导致诊断结果的差异提供技术基础,通过仿真模拟的方法建立了诊断X射线光机的物理模型。模拟计算和比较了诊断X射线光机在不同管电压、发射角、过滤材料、纹波等条件下的出射能谱。研究结果表明,管电压、发射角、过滤材料(包括厚度)以及管电压纹波都会影响射线能谱分布和平均能量。诊断X射线光机的上述关键参数可能会直接影响诊断结果的可靠性,在光机运行过程中,参数的选择和质量控制方面需要予以重视。     

磷化膜白斑组织的X射线光电子能谱分析

为了研究磷化膜表面缺陷组织——白斑的形成机理,采用同一母材批号、牌号为SCM435的精线盘条在相同锌系磷化生产工艺(酸洗→高压水冲洗→水洗→磷化→中和→皂化)下,制备含白斑缺陷的磷化膜和正常磷化膜,并提取相同工艺下产生的磷化渣组织.采用体式显微镜、扫描电子显微镜(SEM)观察白斑、正常磷化膜以及磷化渣的形貌,用X射线光...     

简述X射线荧光技术在地质勘查中的应用

X射线荧光技术具有快速、低成本等特点,主要应用于冶金、煤矿、材料、环保、等部门,近年来也运用于地质勘查并发挥了重要作用;本文介绍了X射线荧光技术在地质勘查中的原理和应用,对加快地质勘查工作进度、缩短找矿周期有着重要意义。     

X射线测厚仪在铝合金产品上的应用

介绍了x射线测厚仪的系统组成、基本原理,提供了测厚仪的合金补偿和精度检验方法,并对实际生产过程中影响铝合金产品厚度控制精度的一些因素进行了阐述。     

X荧光能谱法测定黄铜中的铜

通过对黄铜标样及样品的测试,建立了X荧光能谱仪测定黄铜中铜含量的方法。本方法采用能谱仪中定量分析软件;选择适当工作条件,测定黄铜中钢元素。其准确度,精密度,均能满足分析要求。     

电沉积Ni-W合金镀层的X射线光电子能谱分析

采用X射线光电子能谱（XPS）对电沉积Ni-W合金镀层表面膜进行了分析。研究结果表明，Ni-W合金镀层表面存在一层薄的氧化膜，而钨的氧化作用远大于镍，Ni-W合金镀层中W含量的提高对耐蚀性起决定作用。     

NiAl2O4材料的X射线光电子能谱分析

多晶半导体陶瓷材料ＮｉＡｌ２Ｏ４是一种很有应用价值的高温热敏材料。本文介绍了这种材料的合成方法，并用ＸＲＤ技术分析该材料在不同合成温度下的相态及晶体结构。结果表明：合成物主晶相为尖晶石型Ｎｉ１－ｘＡｌ２Ｏ４，次晶相为ＮｉＯ，且随合成温度的提高，ＮｉＯ含量大幅度减少。本文根据ＸＰＳ分析结果，重点讨论了样品中各元素在不同合成温度下的结合能位移。分析表明：Ｎｉ１－ｘＡｌ２Ｏ４中存在有Ｎｉ空位，随着合成温     

X射线荧光光谱法在矿石中微量元素测定中的应用

X射线荧光光谱法是一种应用较早,且至今仍被广泛应用的元素分析技术。从仪器选择、测量条件、试剂选用、试样制备、校准曲线绘制、标准样品特殊处理对X射线荧光光谱法在矿石中微量元素测定中的应用进行具体的说明,并以对比实验,验证其测定效果。     

X射线荧光光谱法在镁钙质耐火材料测定中的应用

采用熔融的方法进行制样,并以标准样品和高纯试剂配制熔融的系列标准玻璃片来建立校准曲线,采用灼烧后的样品与混合溶剂(四硼酸锂:偏硼酸锂=1:1)在高温条件下熔融成片,用X射线荧光光谱法测定镁钙质耐火材料中的SiO2、CaO、MgO、Fe2O3、Al2O3等组分含量,本方法分析的结果精密度和准确度高,分析速度快。     

顺序式X射线荧光光谱仪常见故障的诊断分析

介绍顺序式X射线荧光光谱仪几种常见故障的诊断及处理方法，其中包括X射线发生器的高压不能启动，试样室和分光光室的真空问题，探测器、晶体、分光测量单元中部件动作超时以及分析速度缓慢等，对于该仪器的使用者具有很好的指导作用。