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以高纯铝为基体,用2次阳极恒直流阳极氧化的方法在磷酸-草酸混酸体系中制备出大孔氧化铝薄膜;以大孔氧化铝薄膜为基体,用中性弱阳离子溶液为介质在电化学工作站在3电极体系中氧化出介孔氧化铝薄膜;再在硫酸环境下用恒电压阳极氧化法制备出微孔薄膜。通过对3种不同孔径的氧化铝薄膜的形貌及成分进行表征,运用拉曼光谱比较三种不同孔径氧化铝薄膜对不同浓度硅烷缓蚀剂的吸附担载能力,以及电化学测试检验其担载不同浓度硅烷缓蚀剂后耐腐蚀能力,得出具有最强耐蚀能力时的氧化铝膜的最佳孔径和此时担载硅烷缓蚀剂的最佳浓度,电化学测试结果表明介孔薄膜的电化学阻抗可达10~7。 相似文献
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利用阻隔法制备了无中间过渡层的高渗透通量氧化铝微滤膜.在大孔氧化铝支撑体表面包覆一层PVB薄膜,再通过浸渍涂膜法在PVB薄膜上包覆一层氧化铝膜前驱体,经过煅烧后,PVB薄膜被氧化分解,在支撑体表面形成了无中间过渡层的氧化铝微滤膜.该氧化铝膜的平均孔径为0.26μm,纯水通量为(1468±81)L·m-2·h-1·bar... 相似文献
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研究了一种简单新颖的制备氧化铝纳米线薄膜的电化学方法.以阳极氧化法在高纯铝片表面制备多孔阳极氧化铝(AAO)的工艺为基础,在草酸电解液中将AAO孔壁溶解形成氧化铝纳米线,均匀覆盖在AAO有序孔道的上方,得到一种特殊结构的纳米线薄膜.对实验产物纳米线的形貌、结构及成分进行了表征分析,并探讨了氧化铝纳米线薄膜的生成机理. 相似文献
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用溶胶凝胶工艺在Pt/Ti/SiO2/Si基片上沉积了Bi5FeTi3O15(BFTO)薄膜,研究了前驱液浓度和退火升温速率对BFTO薄膜结晶的影响,前驱液浓度低于0.05mol/L时不利于4层层状钙钛矿结构的形成。沉积BFTO薄膜的最佳制备工艺为:前驱液浓度为0.05mol/L和氧气氛中退火速率为4℃/s。室温下,用最佳工艺制得的BFTO薄膜显示出良好的铁电性,在300 kV/cm的外加电场下,样品的剩余极化强度2Pr达到43.4μC/cm2;同时,BFTO薄膜也显示出弱铁磁性。为了研究其磁性来源,分别在氧气氛和氮气氛下对BFTO薄膜样品进行退火,分析其磁性的差异。认为BFTO薄膜室温下的弱铁磁性主要来源于F中心交换作用。 相似文献
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我厂为8000吨NH_3/年的小厂,采用加压碳化流程,碳化塔水箱是铝制的。铝是一种较活泼的金属,容易被空气中的氧所氧化,使铝的表面形成一层致密的氧化铝薄膜,其化学性质非常稳定。实验表明,稀盐酸很难破坏这层氧化铝薄膜。所以在用稀盐酸冲洗水垢时这层薄膜保护铝不会被盐酸所腐蚀。稀盐酸的浓度根据结垢的厚薄按下表配制。在酸洗过程中,因水箱的蛇形弯管较多,为提高酸洗效果,使酸溶液不断搅动,我们采 相似文献
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采用明胶—尿素体系进行凝胶注模成形,制备了固相体积分数为53%的氧化铝陶瓷料浆悬浮体,利用尿酶将尿素分解,使明胶重新获得氢键形成能力,在尿酶用量为20单位时,室温下制备了抗弯强度为8.26 MPa的氧化铝陶瓷材料。 相似文献
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用溶胶–凝胶法制备的钴掺杂氧化锌薄膜在不同气氛下退火后均显示室温铁磁性,并且具有不同的载流子浓度。通过对薄膜进行电、磁、光性能及微结构的系统表征,建立了磁性能与载流子浓度之间的关联。研究表明:在氧气和氧氮混合气氛以及氧氩气氛下,退火的样品均具有室温铁磁性。相对于氧氮混合气氛,300K,在无氮气氛退火的样品具有更低的矫顽力,更高的剩磁及大的电子浓度。光致发光谱研究表明:氧氮混合气氛下,退火的样品中存在No受主,这是样品电子浓度及铁磁性下降的原因;因此,体系的铁磁性来源于电子间接机制,使通过控制载流子浓度来调节钴掺杂氧化锌稀磁半导体的铁磁性能成为可能。 相似文献
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基于表面生物学改性的多孔状二氧化钛/磷灰石复合薄膜的制备 总被引:26,自引:8,他引:26
在钛合金表面采用微孤氧化得到一层多孔状的具有生物活性的二氧化钛,经随后水热处理可形成羟基磷灰石薄膜,提高钛合金表面的生物学性能,用SEM、XRD、EDX分析了薄膜的组织、结构和化学组成,同时考察了微弧氧化得到的二氧化钛膜的生物活性,结果表明,在室温条件下从含钙、磷离子的电解液中在钛合金基体上微弧氧化得到一层二氧化钛薄膜,蒸汽处理后得到具有生物活性的二氧化钛/羟基磷灰石复合薄膜,该膜多孔均匀,且生物活性高,有利于骨组织的吸附和生长。 相似文献
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以乙二胺四乙酸二钠(ethylenediamjn tetraacetic acid disodium,EDTA)为鳌合剂,在水溶液络合体系中采用电沉积法制备了CuSCN半导体薄膜,应用电子隧穿成核和表面态热激发机理以及Mott-Schottky曲线分析了沉积电位和温度对薄膜结构和半导体性质的影响.结果表明:室温下,价带电子隧穿产生的电流与表面态空穴热激发电流在同一数量级,表面态空穴热激发电流不随电位改变,价带电子隧穿电流的变化趋势反映了整体电流的变化.随着阴极电位的升高,由于价带电子的隧穿几率变化,晶粒尺寸先减小后增大;半导体空穴浓度减小,p型性质减弱.由于沉积反应受活化能控制,在高温条件下主要表现为晶粒生长,导致晶粒尺寸增大,薄膜致密度降低;同时也使半导体空穴浓度减小,p型性质减弱. 相似文献