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本系统采用1片宏晶科技公司的STC89C52单片机作为系统的控制器件,是一种带4K字节闪烁可编程可擦除只读存储器的低电压,高性能CMOS8位微处理器——具有4K字节可编程闪烁存储器,可擦除的的只读存储器(PEROM)。 相似文献
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John Chiang 《电子产品世界》2005,(8):75-76
存储器是许多数字产品的关键内置模块.标准的SRAM、DRAM和非易失性存储器(NVMs)是最常用的存储器件.特殊的存储器,例如先进先出存储器,也可提供特定功能或实现特殊性能需求.在下面内容中,我们将回顾这些设计,并介绍一些存储器可能的应用场合.这些设计思路可以应用到SoC(芯片级系统)项目中. 相似文献
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正日前,微电子所在面向应用的阻变存储器研究上取得新进展。阻变存储器(RRAM)是非挥发性存储器的一种重要的替代方案,具有工艺及器件结构简单、微缩性好、高速、低功耗、可嵌入功能强等优点。微电子所纳米加工与新器件集成技术研究室科研人员在前期建立新材料、新结构及与大生产CMOS集成的 相似文献
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引言近来,人们对于研究一种新型的存储器部件的兴趣越来越大。这种部件要求其造价和速度介于低速低价格的磁盘存储器和高速高价格的随机存取存储器之间。因为用电荷耦合器件(CCD’s)组成非常紧凑的串行存储器有很大的潜力,所以电荷耦合器件很自然地成为弥补这种存储器空白的当选者。本文的目的是描述4千位CCD芯片的设计、制备及测试,以便确认在大规模中速存储器中应用CCD的可能性。 相似文献
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本文介绍了一种数字图像存储器,并讨论了FPGA(现场可编程门阵列)器件在存储器中的应用,该存储器设计简单、实用、调试方便、稳定性好。 相似文献
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针对大规模嵌入式存储器可测性设计技术——存储器内建自测试(MBIST)中的故障诊断问题,介绍了MBIST设计的扩展功能——存储器内建自诊断(MBISD)。在引入存储器内建自测试的基础上,详细分析了存储器内建自诊断模块根据输出故障信息自动分析器件失效原因、并对失效单元进行故障定位和识别的基本原理及其中的关键算法,并用一块SRAM的MBIST设计(采用Mentor公司的MBISTArchitect完成)中的MBISD具体实例进行了仿真验证。存储器内建自诊断的应用,大大提高了存储器的成品率。 相似文献